3380P
相关结果约34条MODEL 3380 VLSI 測試系統
该资料介绍了Chroma公司的Model 3380 VLSI测试系统,这是一款适用于高脚位数、高速率和复杂功能的集成电路(IC)芯片的测试设备。它具备多种特性,包括支持高达1024个数字通道管腳、并行测试能力、多样化的电源选项、弹性硬件架构和丰富的软件功能。
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产品/工艺变更通知单(PCN)PCN#:A1606-02
本资料为Integrated Device Technology, Inc.(IDT)发布的**产品/工艺变更通知(PCN)**,编号A1606-02,日期为2016年8月26日。通知内容主要涉及IDT将Greatek,台湾作为备用组装工厂,用于替代在Amkor Philippines组装的部件。变更不影响产品的湿气性能,且所有测试均符合JEDEC标准。受影响的部件编号详见附件II。
IDT - 70V9079L7PFG,71V67903S75PFGI8,71V546X5S133PFGI,72235LB15PFG,72V36100L7-5PFGI,71V3558S133PFG,72215LB15PFGI,8422002AGI‐07LFT,71V3579S80PFG,72V273L15PFG8
广告 发布时间 : 2025-03-03
VLSI 测试系统 Model 3380P
VLSI 测试系统 Model 3380P 是一款高性能的半导体测试设备,适用于逻辑、微控制器(MCU)、混合信号(ADDA)、功率器件、LED驱动器、Class D放大器等多种芯片的测试。该系统具有50/100 MHz的测试频率和50/100 Mbps的数据速率,最多可支持576个数字信道管脚。其并行测试能力可达512个站点,配备32/64/128M的Pattern内存,支持多种弹性VI电源和可互换的I/O、VI、ADDA模块。此外,系统还具备Real parallel Trim/Match功能、时序频率测试单位(TFMU)、AD/DA功能板卡(16/24 bits)和SCAN向量存储深度(最高2G bits/chain)。3380P支持STDF工具,兼容多种测试程序/pattern转换器,并采用人性化的Windows 7操作系统。该系统的小型化设计和低能耗使其在装机、稳定性和成本效益方
CHROMA(致茂) - 3380P,VLSI 测试系统,功率器件测试,微控制器测试,混合信号测试,逻辑芯片测试,ALPG测试,CLASS D放大器测试,LED驱动器测试,SCAN测试,TRIM/MATCH测试
SVT03380PSA -6.5A、-30V P沟道增强型场效应管
SVT03380PSA是一款P沟道增强型功率MOS场效应晶体管,采用士兰的LVMOS工艺技术制造。该产品具有较低的导通电阻、优越的开关性能及很高的雪崩击穿耐量。其主要特点包括:-6.5A漏极电流,-30V漏源电压,典型导通电阻为24mΩ(VGS=-10V),低栅极电荷和低反向传输电容,开关速度快,提升了dv/dt能力,并通过了100%雪崩测试,符合RoHS环保标准。SVT03380PSA可广泛应用于不间断电源及逆变器系统的电源管理领域。封装形式为SOP-8-225-1.27,提供料管和编带两种包装方式。
SILAN - SVT03380PSA,场效应晶体管,功率MOS管,SVT03380PSATR,不间断电源,逆变器系统的电源管理
晶圆测试服务 - Chroma系列测试机台
晶圆测试部提供优质的晶圆中测(CP测试)服务,采用Chroma3360、Chroma3360P、Chroma3380P、Chroma3380D等测试设备,搭配TSK UF200/UF200A系列全自动高精度Prober。这些设备具备512/256 Channels通道能力,50MHz测试频率,最高支持64sites同测能力。适用于MCU、Flash Controler、数字音频视频等各种数字信号芯片的测试需求,满足高精度、高速度、多颗同测的测试要求。
晶汇半导体 - CHROMA3380P,半导体测试设备,晶圆测试设备,CHROMA3360P,CHROMA3380D,CHROMA3360,数字信号芯片测试,数字音频视频芯片测试,FLASH CONTROLLER测试,MCU测试
PS1600CTH 测试设备 - 工程机资源
TE测试设备是用于工程机资源的测试设备,主要包括PS1600CTH、PS1600STH、PS1600ATH、ACCO Test 8200、Chroma 3380P、S100、T800和FRTS等型号。PS1600CTH有5套,其中2套带有WSRF;PS1600STH有5套,其中2套带有LPN;PS1600ATH有1套;ACCO Test 8200有3套;Chroma 3380P有2套;S100有2套;T800有1套;FRTS有3套,主要用于光学传感和射频测试。这些设备广泛应用于半导体测试领域,提供高精度、高效率的测试解决方案。
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PS1600CTH ATE测试设备
该产品是一款名为PS1600CTH的ATE(自动测试设备)测试设备。产品详细介绍了其型号PS1600CTH,并列举了其他相关型号,如PS1600STH、PS1600ATH等。此外,还提到了ACCO Test:8200、Chroma 3380P、S100、T800、FRTS等型号,这些设备均属于ATE测试设备类别。产品概述中未提及具体的产品内容介绍和说明,但提到了产品的主要应用领域为测试解决方案,包括高功率测试、车载测试、射频测试和智能工厂等。
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3380型VLSI测试系统
该资料介绍了Chroma公司的3380系列VLSI测试系统。该系统具备高速时钟和数据速率,支持高达1024个I/O引脚并行测试,并具有灵活的硬件架构和丰富的功能选项。它适用于多种IC测试需求,包括MCU设备、ADC/DAC混合信号IC、逻辑IC等。
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产品停产通知单#CQ-13-01
资料包含大量特殊字符和符号,可能涉及编码或加密信息。内容包含多个数字序列和符号组合,部分段落包含类似编程语言的语句。资料结构复杂,难以直接理解其具体含义。
IDT - 82V3380PFGI8,98ULPA877AHLF,82V3203BNLG,84329BM-01LFT,82V3355TFG,80HVPS1848RMI,84329BV-01LF,821024PPG,80HVPS1848RMI8,82V3001APVG8,80HCPS1848CHMI,5V7855
VLSI 测试系统 Model 3380:高性能半导体测试解决方案
VLSI 测试系统 Model 3380 是一款高性能的半导体测试系统,适用于微控制器单元 (MCU)、ADC/DAC 混合信号 IC、逻辑 IC、ADDA、ALPG、Smart Card、Mini&Macro LED 驱动 IC、CMOS 影像传感器 (CIS)、电源 IC (Class D IC)、消费性 IC 和 LED 驱动 IC 的测试。该系统具有 50/100 MHz 测试频率、50/100 Mbps 数据速率、1024 I/O 数字信道管脚(最高 1280 I/O 数字信道管脚)、高达 1024 sites 并行测试、32/64/128 pattern 内存、16M capture memory per pin、多样化 VI 电源、弹性化硬件架构(可互换式 I/O, VI, ADDA)、Real parallel trim/match 功能、时序频率测试单位 (TFMU)、高
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Silan SVT03380PSA -6.5A -30V P通道增强型功率MOSFET
SVT03380PSA 是一款P通道增强型功率MOS场效应晶体管,采用Silan的LVMOS技术制造。该器件通过改进的工艺和单元结构,特别优化以最小化导通电阻、提供卓越的开关性能和高雪崩击穿耐受能力。它广泛应用于不间断电源(UPS)、逆变系统的电源管理等领域。其主要特点包括:-6.5A、-30V、典型导通电阻为24mΩ(在VGS=-10V时),低栅极电荷、低Crss、快速开关、改进的dv/dt能力,并且经过100%雪崩测试。该器件符合RoHS标准,采用无铅镀层。封装形式为SOP-8-225-1.27。关键性能参数包括:漏源电压VDS为-30V,栅源阈值电压VGS(th)为-1.5至-2.5V,最大导通电阻RDS(on)为38mΩ,漏电流ID为-6.5A,典型栅极电荷Qg为12nC。
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TE测试设备系列
TE测试设备系列包括多种型号的测试设备,适用于不同的测试需求。具体型号及其数量如下:PS1600CTH(5套,其中2套带有WSRF),PS1600STH(5套,其中2套带有LPN),PS1600ATH(1套),ACCO Test:8200(3套),Chroma 3380P(2套),S100(2套),T800(1套),FRTS(3套,用于光学传感/射频测试)。这些设备广泛应用于高功率测试、车载测试、射频测试等领域,具备高效、稳定的性能特点。
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