CF3787-000

电线，外层空间，辐射交联，改性，柔性ETFE绝缘，通用PUROSE

TE CONNECTIVITY  -  CF3787-000,挂上电线,HOOK UP WIRE,CF3788-000,82/0812-26-9,82/0812-24-9,82/0812-22-9,CF4163-000,82/0812-20-9,A48539-000

辐射交联改性柔性氟聚合物绝缘通用电线电缆

TE CONNECTIVITY  -  CF3787-000,挂上电线,HOOK UP WIRE,259141-000,443095-000,CY1049-000,EM5045-000,243007-000,842511-000,C75535-000,227393-000,004527-000,EM5770-000,857745-000,147205-000,274401-

Silicon Labs 2021年第一季度质量和可靠性报告

本报告由Silicon Labs发布，提供了2021年第一季度元器件产品的质量与可靠性数据。报告内容包括：平均出厂质量（AOQ）、不同晶圆厂技术的零件编号、故障率估计、闪存可靠性总结、可靠性监控结果等。报告旨在向客户提供最新质量性能数据，并确保产品的高可靠性和长期稳定性。

SILICON LABS  -  EFM8X,BGM12X,SI2167-BXX,EFR32MG1V1X,SL2309,SI539X,SI2166-DXX,SI2169-X,TSM96XX,SL38020,SI1102,SI2433,C8051F2XX,C8051F39X,SI2436,SI5225X,SI2438,SI484X,S

瑞侃SST-SST-FR管道

TE CONNECTIVITY  -  热缩管,HEAT SHRINK TUBING,CB5316-000,CB5413-000,SST-48-15/FR/97/NM,CB5332-000,EG7054-000,CB5286-000,CM4520-000,SST-12-20/97,CB5377-000,CB5340-000,CM9131-000,CB5334-000,CB5369-0

2015年第二季度质量和可靠性报告

本报告为Silicon Labs公司2015年第二季度的质量与可靠性报告。报告内容涵盖产品质量、可靠性监测、失效率估计等方面。报告详细介绍了公司产品的质量保证流程、不同工艺节点的产品编号、失效率计算方法、可靠性监测程序等。此外，报告还提供了不同工艺节点的可靠性数据，包括FIT率曲线和MTTF数据。

SILICON LABS  -  EFM8X,SI2167-BXX,SL2309,SL38020,TSM96XX,SI1102,SI2434,SI2124 SI2127,SI2433,C8051F2XX,C8051F39X,SI2436,SI2438,SI484X,SI2437,TS3001,TS3002,SI242X,SI243

马口铁后壳

TE CONNECTIVITY  -  CF3791-000,连接器后壳,CONNECTOR BACKSHELLS,985511-000,TXR47AB00-1612AI,TXR47AB00-1612BI,778831-000,C20402-000,D41529-000,TXR47AB00-,TXR47AB00-2410AI,199399-000,301899-000,TXR47AB00-2

530X质量和可靠性报告

本报告由Silicon Labs发布，提供了2019年第三季度的质量与可靠性数据。报告内容包括：平均出厂质量（AOQ）、不同晶圆厂技术的零件编号、故障率估计、闪存可靠性总结、可靠性监控结果等。报告旨在向客户提供最新的质量性能数据和可靠性信息，以支持产品设计和生产。

SILICON LABS  -  EFM8X,BGM12X,SI2167-BXX,EFR32MG1V1X,SL2309,SI539X,SI2166-DXX,SI2169-X,SL38020,TSM96XX,SI1102,SI2433,C8051F2XX,C8051F39X,SI2436,SI5225X,SI2438,SI484X,S

三芯电缆，屏蔽，护套，一般用途，600伏

TE CONNECTIVITY  -  双绞式电缆,TWISTED PAIR CABLE,557053-000,55PC1131-22-2/4/6-9CS2502,55PC1131-12-9/93/96-9,55PC1131-16-2/6/9-9,55PC1131-20-2/4/6-9,55PC1131-12-0/2/9-9,629554-000,55PC1131-26-0/2/9-9

2018年第三季度质量和可靠性报告

本报告由Silicon Labs发布，提供了2018年第三季度的质量与可靠性数据。报告内容包括产品出货质量估计、长期运行寿命估计、平均故障时间估计、数据保持寿命估计以及可靠性监控结果。报告还涵盖了不同晶圆厂技术和封装技术的零件编号、故障率估计以及可靠性监控数据。Silicon Labs致力于质量卓越，通过广泛的产品和工艺鉴定，确保产品在生产和发布前经过严格的测试。

SILICON LABS  -  EFM8X,BGM12X,SI2167-BXX,EFR32MG1V1X,SL2309,SI539X,SI2166-DXX,SI2169-X,SL38020,TSM96XX,SI1102,SI2433,C8051F2XX,C8051F39X,SI2436,SI2438,SI484X,SI5384X,S

Silicon Labs（芯科科技）2019第二季质量和可靠性报告（19Q2_QR_Report）

2019年第二季度质量和可靠性报告

SILICON LABS  -  EFM8X,BGM12X,SI2167-BXX,EFR32MG1V1X,SL2309,SI539X,SI2166-DXX,SI2169-X,SL38020,TSM96XX,SI1102,SI2433,C8051F2XX,C8051F39X,SI2436,SI2438,SI484X,SI5384X,S

2018年第二季度质量和可靠性报告

本报告由Silicon Labs发布，提供了2018年第二季度的质量与可靠性数据。报告内容包括产品平均出厂质量（AOQ）、不同晶圆厂技术的零件编号、故障率估计、闪存可靠性总结以及可靠性监控结果。报告旨在向客户提供最新的质量性能数据，包括已发货产品的质量估计、长期运行寿命估计、平均故障时间估计、数据保持寿命估计和可靠性监控结果。Silicon Labs致力于质量卓越，通过广泛的产品和过程认证来确保产品质量。

SILICON LABS  -  SI2167-BXX,EFR32MG1V1X,SI2169-X,SI2166-DXX,SL38020,TSM96XX,SI1102,SI2433,SI2436,SI2438,SI484X,SI5384X,SI2437,TS3001,TS3002,SI242X,SI2439,TS3003,TS3004

2021年第四季度质量和可靠性报告

本报告由Silicon Labs发布，提供了2021年第四季度的质量与可靠性数据。报告内容包括：平均出厂质量（AOQ）、不同晶圆厂技术的零件编号、故障率估计、闪存可靠性总结、可靠性监控结果等。报告旨在向客户提供最新的质量性能数据，包括产品可靠性、使用寿命、故障时间等关键指标，以支持客户的产品设计和维护决策。

SILICON LABS  -  BGM12X,EFR32MG1V1X,TSM12XX,TSM96XX,ZW0X,SI1102,C8051F2XX,C8051F39X,BGX13S22GX,TS3001,TS3002,TS12XX,TS3003,TS3004,TS3005,CP213X,TS3006,CF8XX,EFR32MG14P