530X质量和可靠性报告
18-Oct-2019 - 测试报告 本报告由Silicon Labs发布，提供了2019年第三季度的质量与可靠性数据。报告内容包括：平均出厂质量（AOQ）、不同晶圆厂技术的零件编号、故障率估计、闪存可靠性总结、可靠性监控结果等。报告旨在向客户提供最新的质量性能数据和可靠性信息，以支持产品设计和生产。
SILICON LABS - TS6XXX,EFM8X,BGM12X,SI2167-BXX,EFR32MG1V1X,SL2309,SI539X,SI2166-DXX,SI2169-X,SL38020,TSM96XX,SI1102,SI2433,C8051F2XX,C8051F39X,SI2436,SI5225X,SI2438,S
2021年第四季度质量和可靠性报告
27-Jan-2022 - 测试报告 本报告由Silicon Labs发布，提供了2021年第四季度的质量与可靠性数据。报告内容包括：平均出厂质量（AOQ）、不同晶圆厂技术的零件编号、故障率估计、闪存可靠性总结、可靠性监控结果等。报告旨在向客户提供最新的质量性能数据，包括产品可靠性、使用寿命、故障时间等关键指标，以支持客户的产品设计和维护决策。
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发布时间 : 2025-03-03
Silicon Labs 2021年第一季度质量和可靠性报告
14-Apr-2021 - 测试报告 本报告由Silicon Labs发布，提供了2021年第一季度元器件产品的质量与可靠性数据。报告内容包括：平均出厂质量（AOQ）、不同晶圆厂技术的零件编号、故障率估计、闪存可靠性总结、可靠性监控结果等。报告旨在向客户提供最新质量性能数据，并确保产品的高可靠性和长期稳定性。
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Silicon Labs（芯科科技）2019年第四季度质量和可行性报告
2020年1月14日 - 测试报告 Quality and Reliability Report Fourth Quarter 201
SILICON LABS - TS6XXX,EFM8X,BGM12X,SI2167-BXX,SL2309,EFR32MG1V1X,SI539X,SI2166-DXX,SI2169-X,SL38020,TSM96XX,SI1102,SI2433,SI2436,C8051F2XX,C8051F39X,SI5225X,SI5384X
2018年第四季度质量和可靠性报告
29-Jan-2019 - 测试报告 本报告由Silicon Labs发布，提供了2018年第四季度的质量与可靠性数据。报告内容包括产品平均出货质量（AOQ）、不同晶圆厂技术的零件编号、故障率估计、闪存可靠性总结、可靠性监控结果等。报告旨在向客户提供最新的质量性能数据，包括产品可靠性、长期运行寿命、平均故障时间、数据保持寿命等关键指标。Silicon Labs遵循ISO 9001:2015、ISO 14001:2015和IATF 16949标准，致力于产品质量和可靠性。
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Silicon Labs（芯科科技）2019第二季质量和可靠性报告（19Q2_QR_Report）
2019年7月19日 - 测试报告 Quality and Reliability Report Second Quarter 2019
SILICON LABS - TS6XXX,EFM8X,BGM12X,SI2167-BXX,EFR32MG1V1X,SL2309,SI539X,SI2166-DXX,SI2169-X,SL38020,TSM96XX,SI1102,SI2433,C8051F2XX,C8051F39X,SI2436,SI2438,SI484X,SI
2018年第三季度质量和可靠性报告
11-Jan-19 - 测试报告 本报告由Silicon Labs发布，提供了2018年第三季度的质量与可靠性数据。报告内容包括产品出货质量估计、长期运行寿命估计、平均故障时间估计、数据保持寿命估计以及可靠性监控结果。报告还涵盖了不同晶圆厂技术和封装技术的零件编号、故障率估计以及可靠性监控数据。Silicon Labs致力于质量卓越，通过广泛的产品和工艺鉴定，确保产品在生产和发布前经过严格的测试。
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2018年第二季度质量和可靠性报告
2018/08/25 - 测试报告 本报告由Silicon Labs发布，提供了2018年第二季度的质量与可靠性数据。报告内容包括产品平均出厂质量（AOQ）、不同晶圆厂技术的零件编号、故障率估计、闪存可靠性总结以及可靠性监控结果。报告旨在向客户提供最新的质量性能数据，包括已发货产品的质量估计、长期运行寿命估计、平均故障时间估计、数据保持寿命估计和可靠性监控结果。Silicon Labs致力于质量卓越，通过广泛的产品和过程认证来确保产品质量。
SILICON LABS - TS6XXX,SI2167-BXX,EFR32MG1V1X,SI2169-X,SI2166-DXX,SL38020,TSM96XX,SI1102,SI2433,SI2436,SI2438,SI484X,SI5384X,SI2437,TS3001,TS3002,SI242X,SI2439,TS3003
2018年第一季度质量和可靠性报告
13-Apr-2018 - 测试报告 本报告由Silicon Labs发布，提供了2018年第一季度元器件的质量和可靠性数据。报告内容包括：平均出厂质量（AOQ）、不同制造工艺的元器件型号、故障率估计、闪存可靠性总结、可靠性监控结果等。报告旨在向客户提供最新质量性能数据，并确保产品的高可靠性和长期稳定性。
SILICON LABS - TS6XXX,C80SIF35X,EFM8X,BGM12X,SI2167-BXX,EFR32MG1V1X,SL2309,SI2166-DXX,SI2169-X,SL38020,TSM96XX,SI1102,SI2433,SI2436,SI2438,SI484X,SI5384X,SI2437,TS30
2015年第二季度质量和可靠性报告
20-Jul-2015 - 测试报告 本报告为Silicon Labs公司2015年第二季度的质量与可靠性报告。报告内容涵盖产品质量、可靠性监测、失效率估计等方面。报告详细介绍了公司产品的质量保证流程、不同工艺节点的产品编号、失效率计算方法、可靠性监测程序等。此外，报告还提供了不同工艺节点的可靠性数据，包括FIT率曲线和MTTF数据。
SILICON LABS - TS6XXX,EFM8X,SI2167-BXX,SL2309,SL38020,TSM96XX,SI1102,SI2434,SI2124 SI2127,SI2433,C8051F2XX,C8051F39X,SI2436,SI2438,SI484X,SI2437,TS3001,TS3002,SI242
2019年第一季度质量和可靠性报告
19-Apr-2019 - 测试报告 本报告由Silicon Labs发布，提供了2019年第一季度关于集成电路产品的质量性能数据、故障率估计和可靠性监控数据。报告内容包括：已发货产品的质量估计、长期运行寿命估计、平均故障时间估计、数据保持寿命估计以及可靠性监控结果。报告还介绍了Silicon Labs的质量管理体系和产品认证情况，以及不同产品系列的技术规格和故障率曲线。
SILICON LABS - TS6XXX,EFM8X,BGM12X,SI2167-BXX,EFR32MG1V1X,SL2309,SI539X,SI2166-DXX,SI2169-X,SL38020,TSM96XX,SI1102,SI2433,C8051F2XX,C8051F39X,SI2436,SI2438,SI484X,SI
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