龙夏电子（Long-Tek）品质管理和测试设备介绍
品质管理
Quality Management
晶圆批次良率监控
晶圆
成品
可靠性
设计
客户
出货检验
MPW
批流
CP/FT
测试规范
封装说明书
初版规格书
工程批测试
三批良率、均值、
cpk
量产后良率、均值、
cpk
成品良率、均值、
cpk
可靠性测试
HTRB/HTGB168/1000hrs
抽检
成品
EAS 100%
全测
产品包装及外观检验
成品质量管控
封装制成良率监控
测试设备
Service
探针台
-CP
测试
实验室配备先进的探针台和
JUNO DTS1000
测试仪
器，可提供功率器件
6
寸、
8
寸晶圆研发和量产的产品
全面的电性能测试，得到成品率和各个参数
maping
分
布，失效
bin
分组和分布情况。有效的辅助芯片开发阶
段的工艺窗口分析，在海外代工的没有
CP
测试的晶圆
产品量产阶段，可以进行全测和抽测，避免造成晶圆不
良品送封的损失。
HR-
1680
高温反偏老化试验系统
可靠性实验室依据行业国际标准建立，具有
完备的实验能力，可进行电子产品的可靠性
寿
命加速试验。
可靠性测试测试
，在芯片研发阶段
至关重要，一个设计优良的产品的工艺窗口比较
大，在各种工艺参数公差范围内都可以有较高的
可靠性，所以可靠性测试在芯片研发
MPW
阶段，
可以作为挑选芯片设计参考测试
项。在量产阶段
也根据不同的质量要求，进行可靠性抽样检验。
检测项目
覆盖产品
检测能力
参考标准
高温反偏测试
（
HTBR/HTGB
）
MOSFET
TMBS
二极管
三极管桥堆
电源：
300V/2A 600V/2A
60V/15A
；电流测试量程：
0.1uA
至
100mA
；温度范围：＜
200
°C
美军标
国标
IEC
分立器件测试系统
JUNO DTS
-1000
JUNO DTS
-1000
系统测试机通过与分选机
组合，可实现对半导体分立器件成品如晶体管
场效应管
(MOSFET
）和二极管
(Diode
）的高速
测试与分选，实现成品
100%
全测，保证成品性
能的一致性和稳定性。
TEK370A
泰克晶体管图示仪
晶体管特性图示仪是一种可直接在荧光
屏上显示晶体管特性曲线的专用仪器。它可
用来准确测定
MOSFET
的
IGSS
、
IDSS
漏电流
（精度可达到
1nA
）、阈值电压
Vth
等直流
参数，及扫描耐压
IV Curve
等。还可用来测
定
Diode
瞬态正向压降
VF
、漏电流
IR
等。
实现研发产品性能参数的准确，加快产品研
发进程。
B1506A
安捷伦功率器件分析仪
B1506A
功率器件分析仪
/
曲线追踪仪
是完整的功率电路设计解决方案，可以在不
同工作条件下评测所有的功率器件参数。它
可以实现在
MOSFET
的
IV
参数，
C-V Curve
、
栅极电荷和功率损耗的测量。可以较快速并
准确的评估
MOSFET
的直流、交流参数，实
现产品参数快速定义。
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