2025D ADHESIVE RoHS Test Report

Silicon Labs（芯科科技） Si5040/41-D 可靠性测试报告

本报告详细介绍了Si5040/41-D系列产品的资格认证过程，包括高温操作寿命、ELFR、ESD测试、闩锁效应、封装资格测试等。报告涵盖了不同测试条件下的合格情况，如高温存储寿命、高加速应力测试（HAST）、温度循环等，所有测试均通过。报告适用于Si5040-C-GM、Si5040-D-GM、Si5041-D-GM等型号产品。

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Silicon Labs（芯科科技） SI5324C-C-GM（RoHS）测试报告

Silicon Labs认证其产品SI5324C-C-GM符合欧盟RoHS2和中国RoHS标准，不含有害物质，包括铅、镉、汞等，所有信息准确无误。

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厚膜片式电阻器CR/CN/RS/RT/AS/HVR/NMR/PWR SGS试验报告

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Silicon Labs（芯科科技） Si5040-EVB 评估板使用说明

Si5040-EVB是一款评估Si5040 XFP信号调节器功能的平台。Si5040是一款适用于各种XFP模块的低功耗、高性能XFP收发器，支持从短距离数据通信到长距离电信应用。该评估板包含Si5040收发器、MCU（C8051F320）和晶振（Si534），支持全双工操作，并提供串行微控制器接口。EVB软件允许快速访问Si5040的所有寄存器，并支持多种配置和监控功能。

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Silicon Labs（芯科科技） NXP参考设计

本文档介绍了NXP的多种参考设计，包括QorlQ系列处理器及其应用，如LS1012RDB、LS1020A、LS1021A、LS1022A和LS1024A等。此外，还涵盖了LS1088A/1048A、LA1575等产品的应用领域和硅实验室的配套部件。文档还提及了Freescale Audio Tower和Silicon Labs的Si5351A-B02075-GT时钟发生器在音频解决方案中的应用。

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Si5342（SI5342-D-EVB）评估板原理图/PCB图/BOM

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Silicon Labs（芯科科技） Si5040 10Gbps XFP收发器 详细数据手册（英文）

Si5040是一款高性能、低功耗的10 Gbps XFP收发器，具备独立时钟和数据恢复单元（CDRs）、基于DSPLL抖动衰减CMUs以及发送和接收方向的数据重定时功能。该产品适用于多种XFP模块类型，从短距离数据通信到长距离电信应用。

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Silicon Labs（芯科科技） and Altera/Xilinx时序解决方案交叉参考指南对照表

本资料为Silicon Labs与Altera/Xilinx时序解决方案交叉参考指南，旨在为时钟FPGA提供多种解决方案。内容包括多种Altera和Xilinx FPGA参考设计，频率灵活性与低抖动性能，以及高电源噪声抑制。资料还介绍了Si53x、Si55x、Si57x、Si59x系列XO/VCXO，Si5338、Si5350系列时钟发生器，以及Si5324、Si5326、Si5368系列抖动衰减时钟。此外，还提供了与不同协议和数据速率的FPGA兼容的时钟解决方案。

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Silicon Labs（芯科科技） Si5100/10, Si5320/21/64, Si5374/75/76 PBGA模具复合变更通知（#1412234）

Silicon Labs发布过程变更通知#1412234，宣布对Si5100/10、Si5320/21/64、Si5374/75/76 PBGA产品系列进行模具化合物变更，由Hitachi-GE-506更换为Panasonic-CV8710，以适应组装工具的变化，提高生产效率和产品质量。该变更自2015年3月27日起生效，对产品的形状、尺寸、功能、质量及可靠性无影响。

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Silicon Labs（芯科科技） Si53119-A01A/Si53119-A03A 数据手册更新通知（171211191）

Silicon Labs发布PCN #2017-12-11-191，宣布对Si53119-A01A和Si53119-A03A数据手册进行修订。修订内容包括更新I2C寄存器设置、移除Gen4 PLL模式抖动规范、修正印刷错误等。修订不影响产品形式、功能、质量及可靠性。

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Silicon Labs（芯科科技） 使用CLOCKBUILDER定制Si5335应用笔记

本文档介绍了如何使用ClockBuilder™网络工具在线定制Si5335四通道时钟发生器/缓冲器。提供了配置指南，帮助用户理解如何根据应用需求轻松调整Si5335的灵活配置选项。定制Si5335的过程包括指定要求、预览配置和发起请求三个步骤，最终生成NVM编程文件、定制部件编号和数据表附录。

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Silicon Labs（芯科科技） Si53156系列数据表更新通知（171208212）

Silicon Labs发布Si53156元器件数据表更新公告，指出Rev1.3版本数据表中第18页的封装轮廓进行了更新，修正了Rev1.2版本中引脚编号的错误。此次更新被视为微小变更，不影响外形、尺寸、功能、质量或可靠性。用户需查看数据表更新，并可通过Silabs.com注册账户接收技术文档更新和产品变更通知。

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SI5040（1B12324）基板SGS测试报告

本报告为SGS台湾有限公司出具的一份测试报告，编号CE/2009/40685，测试日期为2009年4月9日。报告内容涉及对硅晶圆精工股份有限公司提交的Si5040（1B12324）样品的化学成分分析，包括镉、铅、汞、六价铬、锑、多氟和多溴联苯醚等有害物质的检测。报告详细列出了各项检测项目的测试方法、检测限和检测结果。

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Si5040双字节读I2C协议

本文介绍了Si5040芯片支持的替代I2C主从读取协议，该协议适用于不支持重复启动I2C主读协议的MCU。该协议通过两个命令的读取序列实现，仅在单主总线中使用，因为主设备需要在命令之间释放总线。文中详细描述了两种I2C读取序列的流程和步骤，并解释了相关信号的含义。

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171117200中断Si5010/Si5020 CDR和Si5110 SONET/SDH收发器

Silicon Labs发布EOL（停产）通知，宣布Si5010/20 SONET/SDH CDR IC和Si5110 SONET/SDH收发器将于2018年11月21日起停产。最后订购日期为2018年5月21日。现有客户可在规定日期内下单，订单在LTB日期和生效日期之间的客户请求交货日期（CRD）将不可取消和不可退货。通知中未提及对产品形式、尺寸、功能、质量或可靠性的影响。

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