MODEL 3380 VLSI TEST SYSTEM
为了应对当今半导体工业中集成电路测试的高速化、多引脚化和复杂功能集成化的趋势,致茂的3380 VLSI测试系统3380D/3380P/3380型号,根据不同的引脚数和并行测试能力,采用了强大的功能,提供完整的测试解决方案,以满足客户的成本和性能要求。
3380 VSLI测试系统配备最多1280个I/O通道、256个VI源、灵活的体系结构和全面的可选功能板(ADDA/Hi-voltage DPS)可以满足高并行多站点测试的趋势。嵌入的1024个I/O引脚能够并行测试1024个IC。除了支持独特的4线HD VI源IC,3380还可以通过其可调结构测试微型和微型LED驱动IC、CMOS图像传感器(CIS)和3D图像,这涵盖了IC测试的广泛应用。
3380可以桥接到3380D(256引脚)/3380P(512引脚),以满足更高的生产率要求。3380系列超大规模集成电路测试系统无论是安装、稳定性、友好的用户界面还是高性价比,都已被大中华市场广泛验证和采用。
3380型VLSI测试系统 |
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[ MCU设备 ][ ADC/DAC混合信号集成电路 ][ 逻辑IC ][ 阿达 ][ 阿尔卑斯山 ][ 智能卡 ][ CMOS图像传感器 ][ 电源IC ][ 消费IC ][ LED驱动IC ] |
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数据手册,数据表,data sheet |
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详见资料 |
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中文 英文 中英文 日文 |
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202001 |
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