x55 INTERNAL CALIBRATION ARCHITECTURE AND FAULT DETECTION Technical Note
●介绍
■本文件将概述Hyperion仪器从测量的光学通道获得波长的方式及其光学结构的一些优点。
■涵盖主题
▲本文件将解释Hyperion体系结构中每个光学参考通道的性质和用途,计算数据用于获取波长信息的方式,以及该体系结构与内部错误检测相关的其他操作优势。
■范围
▲本文件中描述的方法和属性适用于x55产品系列中的所有仪器,包括si155、si255和si255 EV型号。
X55内部校准架构和故障检测技术说明 |
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Technical Note,技术说明,应用笔记或设计指南 |
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详见资料 |
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中文 英文 中英文 日文 |
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2016.02.28 |
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Revision 2016.02.28 |
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TN1381 |
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4 MB |
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