EFM®32 Programming Internal Flash Over the Serial Wire Debug Interface Application Note
●介绍
■本文档介绍了如何访问EFM32的调试接口,以及如何使用该接口对设备进行编程(将应用程序加载到闪存中)。它还解释了如何锁定和解锁对MCU的调试访问,以保护内部闪存和SRAM的内容。
■本申请说明包括:
▲此PDF文档
▲源文件(zip)
◆C代码示例
◆多个IDE项目
通过串行线对内部闪存进行EFM®32编程调试接口应用笔记 |
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Application Note,应用笔记,应用笔记或设计指南 |
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详见资料 |
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中文 英文 中英文 日文 |
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2013-11-26 |
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Rev1.02 |
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AN0062 |
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1.1 MB |
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世强先进(深圳)科技股份有限公司 | |
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