MODEL 3380P VLSI TEST SYSTEM

时间： 2023-10-12

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●为了应对未来高速、引脚多、功能复杂的集成电路测试趋势，Chroma最新一代超大规模集成电路测试系统3380D/3380P/3380采用了更灵活的架构，具有更高的集成密度和强大的功能。

●3380D/3380P/3380测试系统具有4线HD VI源和任何引脚到任何站点的高并行测试（多站点测试）功能（512个I/O引脚到并行测试512个IC），可以满足即将到来的更高IC测试需求。

●测试系统3380P还内置了一体式设计（仅适用于测试头），以提供小占地面积/净功率ATE，成为极具竞争力的性价比测试系统。

●主要功能
■50/100 MHz时钟速率
■ 50/100 Mbps数据速率
■ 512数字I/O引脚（通道）（最多576个数字I/O引脚）
■ 多达512个站点并行测试
■ 32/64/128M模式存储器
■ 每个引脚1600万捕获内存
■ 各种VI源
■ 灵活的硬件架构（可互换的I/O、VI、ADDA）
■ 实际平行修剪/匹配功能
■ 时间和频率测量单元（TFMU）
■ AD/DA测试（16/24位选项）
■ SCAN测试选项（最大2G位/链）
■ 嵌入式存储器的ALPG测试选项
■ STDF工具支持
■ 测试程序/模式转换器（J750、D10、S50、E320、SC312、V7、TRI-6836）
■ 直接安装式探引脚卡与3360P/3380D直接安装探引脚卡兼容（仅256引脚）
■ 电缆安装的DUT卡与3360D/3360P/3380D电缆安装DUT卡（FT/CP）兼容
■ CRAFT C/C++编程语言软件兼容3360/3360P
■ 用户友好的Windows 7/Windows 10环境

中文标题（翻译）:	3380P型VLSI测试系统
厂牌:	CHROMA
型号:	MODEL 3380P、3380P 查看更多 Part#
品类:	测试系统、VLSI测试系统查看更多
应用:	查看更多
资料类型:	数据手册,Datasheet 查看更多
安规/环境规范:	查看更多
工作温度:	详见资料
应用等级:	查看更多
等级认证标准:	查看更多
封装:	查看更多
语言:	中文英文中英文日文
生成日期:	202307
过期日期:
版本号:
文档编码:	3380P-EN-202307
文件大小:	2.9 MB
授权代理商	世强先进（深圳）科技股份有限公司
技术资料,数据手册,3D模型库,原理图,PCB封装文件,选型指南来源平台	世强硬创平台www.sekorm.com
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