MODEL 3380P VLSI測試系統
●3380D/3380P/3380機型為因應高同測(High Parallel Test)功能，除內建獨特的4-wire功能高密度IC電源(VI source)外，更具備Any Pins toAny Site高同測功能(512 I/O pin可並行測512個測試晶片)，以因應未來IC晶片更高的測試需求。
●3380P同時具備All-In-One (Only Test Head) 的小型化、低耗能化設計及非常具競爭性的機台性價比。
●3380系列VLSI測試系統無論在裝機、穩定度、友善使用介面、及成本效益上，長期以來皆已於中國市場獲得廣泛印證。
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详见资料 |
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中文 英文 中英文 日文 |
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202307 |
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3380P-TC-202307 |
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2.9 MB |
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