AOS Semiconductor Product Reliability Report

AOS半导体产品可靠性报告AON6407

本报告总结了AOS半导体公司AON6407产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了各种加速环境测试，包括高温高湿、高温高湿存储、加速寿命测试等，所有测试均未出现故障。最终电气测试结果显示AON6407符合AOS的质量和可靠性要求。报告还提供了故障率（FIT）和平均无故障时间（MTTF）等可靠性指标。

AOS  -  AON6407

AOS半导体产品可靠性报告

本报告概述了AOS Semiconductor公司生产的AON6482产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了产品的描述、封装和晶圆信息，并总结了环境应力测试和可靠性评估结果。测试包括MSL预测试、高温高湿测试、高温高电流测试、加速应力测试和压力测试等，所有测试均未出现故障。可靠性评估显示，AON6482的故障率极低，平均无故障时间（MTTF）长达2478年。

AOS  -  AON6482

根据REACH义务关于AOS产品的声明

本文件阐述了Alpha & Omega Semiconductor (AOS) 针对REACH法规下的AOS产品合规性声明。文件指出，AOS产品作为半导体器件，在正常和可预见的条件下使用时，不会有意释放任何物质，因此不属于REACH法规的适用范围。文件还详细说明了AOS在REACH法规下的合规义务，包括但不限于提供安全数据表、信息通知等。此外，AOS确认其产品中不含有REACH法规中列出的高度关注物质（SVHC）候选物质，除非特定产品应用了欧盟RoHS指令的豁免条款。

AOS

AO4720标记说明

AOS  -  AO4720,AO4720L

AO4720 30V N沟道MOSFET SRFETTM

AO4720是一款采用先进沟槽技术的N沟道MOSFET，集成了肖特基二极管，提供优异的RDS(ON)和低栅极电荷。适用于SMPS、负载切换和通用应用中的低端FET。

AOS  -  30V N-CHANNEL MOSFET,30V N沟道MOSFET,AO4720,开关模式电源,LOAD SWITCHING,SMPS,负荷切换

AO4720（KO4720）N沟道MOSFET

该资料详细介绍了SMD型N沟道MOSFET AO4720（KO4720）的技术规格和应用。内容包括绝对最大额定值、电气特性、典型特性曲线等。

科信  -  MOSFET,N-CHANNEL MOSFET,N沟道贴片MOS管,AO4720,KO4720

AOS半导体产品可靠性报告AON6482

本报告概述了AOS半导体公司AON6482产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了多种加速环境测试，包括高温高湿存储（HTGB）、高温高湿（HTRB）、加速寿命测试（HAST）、高温高湿存储（H3TRB）、高温高湿（HTSL）、温度循环等，所有测试均未出现故障。可靠性评估结果显示，AON6482的故障率（FIT）为1.91，平均无故障时间（MTTF）为59839年。

AOS  -  AON6482

AOS半导体产品可靠性报告AON2410

本报告概述了AOS Semiconductor公司AON2410产品的可靠性测试结果。报告详细列出了包括高温高湿（HTGB）、高温高阻（HTRB）、加速寿命测试（HAST）、高压蒸汽（Autoclave）、温度循环（Temperature Cycle）、高温存储寿命（HTSL）和功率循环（Power Cycling）等在内的多种加速环境测试项目及其条件、时间点、样本数量和失效数量。结果显示，AON2410产品在所有测试中均未出现失效，符合AOS的质量和可靠性要求。报告还提供了故障率（FIT）和平均无故障时间（MTTF）的计算结果，表明产品具有很高的可靠性。

AOS  -  AOS半导体,AOS SEMICONDUCTOR,AON2410

AOTxxxx RoHS AOS绿色政策

AOS公司致力于成为环保供应商，自2004年起逐步实现产品符合RoHS标准，并于2005年完成转换。到2010年底，所有包装已转换为绿色（无卤素/低卤素）版本。部分非绿色包装如TO220系列，通过添加后缀“L”区分绿色版本。

AOS  -  AOKXXXX,AOTFXXXX,AOBXXXXL,AOTFXXXXL,AOTXXXXL,AOKXXXXL,AOBXXXX,AOTXXXX

AOS半导体产品可靠性报告AOB5B60D，revB塑料封装器件

本报告总结了AOS半导体公司AOB5B60D产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了各种加速环境测试，包括高温高湿测试、加速寿命测试、热循环测试等，所有测试均未出现故障。最终电测试结果显示，AOB5B60D符合AOS的质量和可靠性要求。报告还提供了故障率（FIT）和平均无故障时间（MTTF）等可靠性指标。

AOS  -  AOS半导体,AOS SEMICONDUCTOR,JESD22-A108,AEC Q101,JESD22-A110,JESD22-A113,JESD22-A102,AOB5B60D,JESD22-A101,JESD22-A104,JESD22-A103

AOS散热器化合物

本资料为AOS热沉化合物（AOS Heat Sink Compound）的安全数据表，详细介绍了该产品的标识、危害识别、成分信息、急救措施、消防措施、泄漏处理、操作与储存、暴露控制、物理和化学性质、稳定性和反应性、毒理学信息、生态信息、处置信息、运输信息、法规信息和其它信息。资料中强调了该产品对水生环境的危害，并提供了相应的预防措施和处理方法。

爱美达  -  AOS HEAT SINK COMPOUND,AOS散热器化合物,52050,52051,52070,52032,52153,52054,52055,52030,52052,52130,52053,52037,52034,52056,52057,53300,52038,52039,52061,52160,52060,52022,52041,53053,52042,53054,53299,52029,52027

53054 AOS热化合物

本资料为AOS公司生产的AOS 340 LR热膏的安全数据表（SDS）。内容包括产品标识、危害识别、成分信息、急救措施、消防措施、泄漏处理、操作与储存、暴露控制、物理化学性质、稳定性与反应性、毒理学信息、生态信息、处置信息、运输信息、法规信息和其它信息。资料详细描述了产品的安全使用和潜在危害，并提供了相应的防护措施和处理方法。

爱美达  -  AOS热化合物,AOS THERMAL COMPOUNDS,53054

AOS半导体产品可靠性报告AON6536

本报告总结了AOS Semiconductor公司生产的AON6536元器件的可靠性测试结果。报告详细介绍了多种加速环境测试，包括高温高湿测试、高温高湿存储测试、加速寿命测试等，所有测试均未出现故障。最终电气测试结果显示AON6536符合AOS的质量和可靠性要求。报告还提供了失效率（FIT）和平均无故障时间（MTTF）等关键可靠性指标。

AOS  -  AON6536

AOS半导体产品可靠性报告AON7246

本报告概述了AOS Semiconductor公司生产的AON7246器件的可靠性测试结果。报告详细介绍了产品描述、封装和晶圆信息，以及环境应力测试的总结和结果。测试包括MSL、HTGB、HTRB、HAST、压力罐和温度循环等，所有测试均未出现故障。可靠性评估显示，AON7246的FIT率为7，MTTF为16536年。

AOS  -  AON7246