AO4354 Marking Descriplion

时间： 2018-07-10

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中文标题（翻译）:	AO4354标记说明
厂牌:	AOS
型号:	AO4354、AO4354L 查看更多 Part#
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资料类型:	封装信息/封装结构图,封装结构图查看更多
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工作温度:	详见资料
应用等级:	查看更多
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封装:	SO-8 查看更多
语言:	中文英文中英文日文
生成日期:	2018/01/15
过期日期:
版本号:	Version A
文档编码:	PD-01852
文件大小:	98 KB
技术资料,数据手册,3D模型库,原理图,PCB封装文件,选型指南来源平台	世强硬创平台www.sekorm.com
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AO4354塑料封装器件产品可靠性报告

本报告总结了AOS半导体公司AO4354产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了各种加速环境测试，包括高温高湿、高加速应力测试等，所有测试均未出现故障。最终电测试结果表明AO4354符合AOS的质量和可靠性要求。报告还提供了故障率（FIT）和平均无故障时间（MTTF）等关键可靠性指标。

AOS - AO4354

Mar, 2018 - 测试报告

AO4354 30V N通道AlphaMOS

该资料详细介绍了AO4354型30V N-Channel AlphaMOS功率MOSFET的特性，包括其技术特点、电气特性、热特性、开关参数等。资料还提供了典型电气和热特性曲线，以及测试电路和波形图。

AOS - AO4354,TELECOM,电信,DC/DC CONVERTERS,INDUSTRIAL,计算,服务器,DC/DC转换器,COMPUTING,SERVERS,POL,工业,波尔

April 2012 - 数据手册 - Rev 0

AOS半导体产品可靠性报告AO4354，A版塑料封装器件

本报告概述了AOS半导体公司AO4354产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了产品的技术参数、封装信息、环境应力测试结果和可靠性评估。测试包括MSL、HTGB、HTRB、HAST、压力罐和温度循环等，所有测试均未出现故障。可靠性评估显示，AO4354的FIT率为7，MTTF为15704年。

AOS - AO4354

2018/01/15 - 测试报告 - Rev A

AO4354（KO4354）N沟道MOSFET

本资料介绍了SMD型N沟道MOSFET AO4354（KO4354）的技术规格和应用。该器件具有低导通电阻、高电流承载能力和良好的热性能，适用于各种电源管理电路。

科信 - MOSFET,N-CHANNEL MOSFET,N沟道贴片MOS管,AO4354,KO4354

2020/2/24 - 数据手册代理服务技术支持采购服务

本报告总结了AOS半导体公司AON6528器件的可靠性测试结果。报告详细介绍了多种加速环境测试，包括高温高湿存储（HTGB）、高温高湿（HTRB）、加速寿命测试（HAST）、高温高湿存储（H3TRB）、高压蒸汽（Autoclave）、温度循环（Temperature Cycle）、高温存储（HTSL）和输入输出（IOL）测试。所有测试均未出现故障，符合AOS的质量和可靠性要求。报告还提供了故障率（FIT）和平均无故障时间（MTTF）的计算结果，表明AON6528具有优异的可靠性。

AOS - AON6528

Apr, 2018 - 测试报告 - rev B

AOS半导体产品可靠性报告AON6407

本报告总结了AOS半导体公司AON6407产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了各种加速环境测试，包括高温高湿、高温高湿存储、加速寿命测试等，所有测试均未出现故障。最终电气测试结果显示AON6407符合AOS的质量和可靠性要求。报告还提供了故障率（FIT）和平均无故障时间（MTTF）等可靠性指标。

AOS - AON6407

Apr, 2018 - 测试报告 - rev B

AONS62614 AOS产品可靠性报告

本报告总结了AONS62614产品的可靠性测试结果。包括加速环境测试和电性能测试，结果显示产品符合AOS质量与可靠性要求。产品将按工艺系列分类并持续监控以提升产品质量。报告中详细列出了各种可靠性应力测试项目、条件、时间点、样本数量、故障数量和参考标准。同时提供了失效率（FIT）和平均无故障工作时间（MTTF）的计算数据，以及不同温度下的加速因子比列表。

AOS - AONS62614

2021/05/21 - 测试报告

AOS半导体产品可靠性报告AON6426

本报告总结了AOS Semiconductor公司AON6426器件的可靠性测试结果。报告详细介绍了多种加速环境测试，包括高温高湿、高温高湿存储、加速寿命测试等，所有测试均未出现故障。最终电气测试结果确认AON6426满足AOS的质量和可靠性要求。报告还提供了器件的失效率（FIT）和平均无故障时间（MTTF）等关键可靠性指标。

AOS - AON6426

Apr, 2018 - 测试报告 - rev B

AOS半导体产品可靠性报告

本报告概述了AOS Semiconductor公司生产的AON6482产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了产品的描述、封装和晶圆信息，并总结了环境应力测试和可靠性评估结果。测试包括MSL预测试、高温高湿测试、高温高电流测试、加速应力测试和压力测试等，所有测试均未出现故障。可靠性评估显示，AON6482的故障率极低，平均无故障时间（MTTF）长达2478年。

AOS - AON6482

2018/01/15 - 测试报告 - rev A 查看更多版本

AOS半导体产品可靠性报告

本报告总结了AOS半导体公司AON6414AL产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了产品描述、封装和晶圆信息，以及环境应力测试的总结和结果。测试包括MSL预条件、高温高湿存储（HTGB）、高温高湿（HTRB）、加速应力测试（HAST）、压力容器测试和温度循环测试。所有测试均未发现故障，产品符合AOS的质量和可靠性要求。报告还提供了故障率（FIT）和平均时间到故障（MTTF）的评估。

AOS - AON6414AL

2018/01/15 - 测试报告 - rev B

AOS半导体产品可靠性报告

本报告概述了AOS半导体公司AON6280产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了产品描述、封装和晶圆信息，并总结了环境应力测试的总结和结果。可靠性评估显示，AON6280通过了AOS的质量和可靠性要求，具有12 FIT的失效率率和9914年的平均无故障时间。

AOS - AON6280

2018/01/15 - 测试报告 - rev A

AOS半导体产品可靠性报告

本报告总结了AOS Semiconductor的AON6250产品可靠性测试结果。报告涵盖了产品描述、封装和晶圆信息、环境应力测试总结和结果、可靠性评估等内容。AON6250采用 trench MOSFET技术，适用于高频开关应用。报告显示，AON6250通过了AOS的质量和可靠性要求，并将按工艺家族分类，每季度进行质量监控。可靠性测试包括MSL、HTGB、HTRB、HAST、压力罐和温度循环等，结果显示无故障发生。AON6250的FIT率为3.82，MTTF为29919年。

AOS - AON6250

2018/01/15 - 测试报告 - rev A

AOS半导体产品可靠性报告

本报告总结了AOS半导体公司AOD9N50产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了产品的描述、封装和晶圆信息，并展示了经过加速环境测试和电性能测试的结果。测试结果显示，AOD9N50产品符合AOS的质量和可靠性要求。报告还提供了详细的测试数据和可靠性评估，包括失效率（FIT）和平均无故障时间（MTTF）。

AOS - AOD9N50

2018/01/15 - 测试报告 - rev A

AOS半导体产品可靠性报告

本报告总结了AOS Semiconductor公司产品AOL1454G的可靠性测试结果。报告详细介绍了各种加速环境测试，包括高温高湿测试、加速寿命测试等，并确认该产品符合AOS的质量和可靠性要求。报告还提供了故障率（FIT）和平均无故障时间（MTTF）等关键可靠性指标。

AOS - AOL1454G

Oct. 2017 - 测试报告 - revA

AOS半导体产品可靠性报告

本报告总结了AOS半导体公司AOT1404L产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了产品描述、封装和晶圆信息，以及可靠性应力测试的总结和结果。测试包括高温高湿、加速寿命测试等，结果显示AOT1404L产品符合AOS的质量和可靠性要求。报告还提供了失效率、平均无故障时间等关键可靠性指标。

AOS - JESD22-A108,AOT1404L,JESD22-A110,JESD22-A113,JESD22-A102,JESD22-A104

2018/01/15 - 测试报告 - rev B

AOS半导体产品可靠性报告

本报告概述了AOS半导体公司AOB12N60FD产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了各种加速环境测试，包括高温高湿测试、加速寿命测试、热循环测试等，所有测试均未出现故障。最终电测试结果显示AOB12N60FD符合AOS的质量和可靠性要求。产品将按照工艺家族分类，并持续监控以提升产品质量。可靠性评估结果显示，该产品的FIT率为3.82，MTTF为29919年。

AOS - AOB12N60FD

2018/01/15 - 测试报告 - rev A

AOS半导体产品可靠性报告

本报告概述了AOS Semiconductor公司AO6408/AO6408L产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了产品的描述、封装和晶圆信息，包括环境应力测试的总结和结果、可靠性评估以及质量保证信息。测试结果显示，AO6408/AO6408L产品通过了AOS的质量和可靠性要求，并具有优异的RDS(ON)和低栅极电荷特性。报告还提供了产品的绝对最大额定值、热特性、可靠性应力测试结果和失效率等详细信息。

AOS - AO6408,AO6408L

Nov 7,2005 - 测试报告 - rev B

AOS半导体产品可靠性报告

本报告概述了AOS半导体公司AO6402A产品的可靠性测试结果。报告内容包括产品描述、封装和晶圆信息、环境应力测试总结和结果、可靠性评估。测试结果显示，AO6402A产品通过了AOS的质量和可靠性要求，并将在季度基础上进行监控以持续提升产品质量。可靠性评估显示，该产品的故障率为5 FIT（每十亿小时一个故障），平均无故障时间（MTTF）为23992年。

AOS - AO6402A

2018/01/15 - 测试报告 - rev B

AOS半导体产品可靠性报告

本报告概述了AOS Semiconductor公司AO6402/AO6402L产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了产品的描述、封装和晶圆信息，包括环境应力测试的总结和结果、可靠性评估以及质量保证信息。测试结果显示，AO6402/AO6402L产品通过了AOS的质量和可靠性要求，并提供了详细的测试数据和评估结果。

AOS - AO6402,AO6402L

Sep 6, 2006 - 测试报告 - rev C

AOS半导体产品可靠性报告

本报告概述了AOS Semiconductor公司AO6400/AO6400L产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了产品的描述、封装和晶圆信息，包括环境应力测试的总结和结果，以及可靠性评估。测试结果显示，AO6400/AO6400L产品通过了AOS的质量和可靠性要求。报告还提供了质量保证信息，包括出厂检验的可接受质量水平和保证的出厂缺陷率。

AOS - AO6400,AO6400L

Jun 27, 2006 - 测试报告 - rev B

AOS半导体产品可靠性报告

本报告概述了AOS半导体公司AO4752产品的可靠性测试结果。报告内容包括产品描述、封装和晶圆信息、环境应力测试总结和可靠性评估。测试结果表明，AO4752产品通过了AOS的质量和可靠性要求，并将在季度基础上进行监控以持续提升产品质量。报告还提供了详细的测试数据和可靠性评估，包括FIT率和MTTF。

AOS - AO4752

2018/01/15 - 测试报告 - rev A

AOS半导体产品可靠性报告

本报告概述了AOS半导体公司AO4720/AO4720L产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了产品的描述、封装和晶圆信息，包括环境应力测试总结和结果、可靠性评估以及质量保证信息。测试结果显示，AO4720/AO4720L产品通过了AOS的质量和可靠性要求，并提供了详细的电性能参数和热特性。报告还包含了产品的失效率（FIT）和平均无故障时间（MTTF）等关键可靠性指标。

AOS - AO4720,AO4720L

Mar 4, 2008 - 测试报告 - rev A

AOS半导体产品可靠性报告

本报告概述了AOS Semiconductor公司AO4718产品的可靠性测试结果。报告内容包括产品描述、封装和晶圆信息、环境应力测试总结和可靠性评估。AO4718采用先进的沟槽技术，适用于SMPS、负载切换和通用应用。测试结果显示，AO4718符合AOS的质量和可靠性要求，预计使用寿命为15704年。

AOS - AO4718

2018/01/15 - 测试报告 - rev A

AOS半导体产品可靠性报告

本报告概述了AOS半导体公司AO4714/AO4714L产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了产品的描述、封装和晶圆信息，包括环境应力测试的总结和结果，可靠性评估以及质量保证信息。测试结果表明，AO4714/AO4714L产品通过了AOS的质量和可靠性要求，并具有优异的RDS(ON)和低栅极电荷特性。

AOS - AO4714L,AO4714

Apr 5, 2007 - 测试报告 - rev A

AOS半导体产品可靠性报告

本报告概述了AOS半导体公司AO4712产品的可靠性测试结果。报告内容包括产品描述、封装和晶圆信息、环境应力测试总结和结果、可靠性评估。AO4712采用先进的沟槽技术，适用于SMPS、负载切换和通用应用。测试结果显示，AO4712通过了AOS的质量和可靠性要求，并将在季度基础上进行监控以持续提高产品质量。可靠性评估显示，FIT率为7，MTTF为15704年。

AOS - AO4712

2018/01/15 - 测试报告 - rev C

AOS半导体产品可靠性报告

本报告概述了AOS半导体公司AO4706/AO4706L产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了产品的描述、封装和晶圆信息，包括环境应力测试总结和结果、可靠性评估以及质量保证信息。测试结果显示，AO4706/AO4706L产品通过了AOS的质量和可靠性要求，并具有较低的故障率和较长的平均无故障时间。

AOS - AO4706,AO4706L

May 8, 2008 - 测试报告 - rev B

AOS半导体产品可靠性报告

本报告概述了AOS半导体公司AO4704/AO4704L产品的可靠性测试结果。产品采用先进沟槽技术，适用于PWM应用中的同步开关。报告详细介绍了产品描述、封装和晶圆信息、环境应力测试结果、可靠性评估和质量保证信息，确认产品符合AOS的质量和可靠性要求。

AOS - AO4704,AO4704L

May 11, 2006 - 测试报告 - rev C

AOS半导体产品可靠性报告

本报告概述了AOS半导体公司AO4702/AO4702L产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了产品的描述、封装和晶圆信息，包括环境应力测试总结和结果、可靠性评估以及质量保证信息。测试结果表明，AO4702/AO4702L产品符合AOS的质量和可靠性要求，并具有优异的RDS(ON)和低栅极电荷特性。报告还提供了产品的热特性、可靠性评估数据，包括FIT率和MTTF，以及质量保证标准。

AOS - AO4702L,AO4702

Oct 28, 2005 - 测试报告 - rev B

AOS半导体产品可靠性报告

本报告总结了AOS半导体公司AO4862E产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了各种加速环境测试，包括高温高湿测试、高温高湿存储测试、加速寿命测试等，所有测试均未出现故障。最终电测试结果确认AO4862E符合AOS的质量和可靠性要求。报告还提供了故障率（FIT）和平均无故障时间（MTTF）等可靠性指标。

AOS - AO4862E

2018/01/15 - 测试报告 - rev A

AOS半导体产品可靠性报告

本报告总结了AOS半导体公司AOD2922产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了产品的技术特点、封装信息，并展示了多种加速环境测试的总结和结果，包括高温高湿测试、加速寿命测试等。最终电测试结果表明AOD2922符合AOS的质量和可靠性要求。报告还提供了产品的故障率（FIT）和平均无故障时间（MTTF）等关键可靠性指标。

AOS - AOD2922

2018/01/15 - 测试报告 - rev B

AOS半导体产品可靠性报告

本报告概述了AOS Semiconductor公司AO8803/L产品的可靠性测试结果。报告内容包括产品描述、封装和晶圆信息、环境应力测试总结和结果、可靠性评估。测试结果表明AO8803/L产品通过了AOS的质量和可靠性要求，并具有15 FIT的故障率和7435年的平均无故障时间。

AOS - AO8803/L

2018/01/15 - 测试报告 - rev C

根据REACH义务关于AOS产品的声明

本文件阐述了Alpha & Omega Semiconductor (AOS) 针对REACH法规下的AOS产品合规性声明。文件指出，AOS产品作为半导体器件，在正常和可预见的条件下使用时，不会有意释放任何物质，因此不属于REACH法规的适用范围。文件还详细说明了AOS在REACH法规下的合规义务，包括但不限于提供安全数据表、信息通知等。此外，AOS确认其产品中不含有REACH法规中列出的高度关注物质（SVHC）候选物质，除非特定产品应用了欧盟RoHS指令的豁免条款。

AOS

February 8, 2021 - 测试报告

AOS半导体产品可靠性报告AON6354

本报告概述了AOS半导体公司AON6354产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了多种加速环境测试，包括高温高湿存储（HTGB）、高温高湿（HTRB）、加速寿命测试（HAST）、高温高湿存储（H3TRB）、高压蒸汽（Autoclave）、温度循环（Temperature Cycle）、高温存储（HTSL）和输入输出循环（IOL）。所有测试均未发现故障，符合AOS质量与可靠性要求。报告还提供了故障率（FIT）和平均无故障时间（MTTF）的评估结果。

AOS - AON6354

Apr, 2018 - 测试报告 - rev B

AOTxxxx RoHS AOS绿色政策

AOS公司致力于成为环保供应商，自2004年起逐步实现产品符合RoHS标准，并于2005年完成转换。到2010年底，所有包装已转换为绿色（无卤素/低卤素）版本。部分非绿色包装如TO220系列，通过添加后缀“L”区分绿色版本。

AOS - AOKXXXX,AOTFXXXX,AOBXXXXL,AOTFXXXXL,AOTXXXXL,AOKXXXXL,AOBXXXX,AOTXXXX

1 September 2020 - 测试报告

AOS半导体产品可靠性报告AON6482

本报告概述了AOS半导体公司AON6482产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了多种加速环境测试，包括高温高湿存储（HTGB）、高温高湿（HTRB）、加速寿命测试（HAST）、高温高湿存储（H3TRB）、高温高湿（HTSL）、温度循环等，所有测试均未出现故障。可靠性评估结果显示，AON6482的故障率（FIT）为1.91，平均无故障时间（MTTF）为59839年。

AOS - AON6482

Apr, 2018 - 测试报告 - rev B