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我目前在使用进芯的DSP AVP32F335QP176S替代TI的335时将ADC的采样率调到了5Msps发现采样的数据出现异常的情况，请问进芯的ADC应该如何配置比较好？
您好，在对进芯DSP进行ADC配置时需要注意以下几个点： a）如果程序执行后对ADC寄存器复位（AdcRegs.ADCTRL1.bit.RESET=1；），需要在再次采样执行前，应重新对ADC供电使能。 b）关于ADC配置，ADC采样率宜不高于3.75Msps，为保证采样值稳定可靠，采样开窗应预留一定的宽度，即ACQ_PS设置值不宜过小，一般用户配置为6-15。 c）应用AVP32F335片上ADC开发时，ADC结果寄存器AdcRegs.Adcresultn及镜像结果寄存器AdcMirror.ADCRESULTn均为左对齐，即高12位代表采样结果；而对应F28335而言， 其镜像结果寄存器为右对齐，即低12位代表采样结果。 d）使用片上ADC进行应用开发，如采用片内基准，推荐的Adcrefp及Adcrefm引脚下拉电容值为10μF，AdcResext偏置电阻值22kΩ（18kΩ）。
做伺服项目，使用进芯DSP AVP32F335QP176S，它的高速ADC精度12位和16位如何切换？程序怎么处理？程序改动大不大？
进芯DSP AVP32F335QP176S的高速ADC精度12位和16位切换改动不大，改变ADCTRL1寄存器其中的精度切换位即可。
目前遇到一个问题：进芯AVP32F335QP176S DSP下载问题：单独擦除SectorA 下载正常，不擦除SectorA 仅擦除 SectorBCDEFG 失败
我用进芯335的开发板测试了下没有这个问题，上传不了视频，您可看下下面的照片
进芯的DSP，AVP32F335QP176S和AVP32F335QP176S-WS，两者有什么区别?
-WS这里代表的是工程样品，产品上会打有demo的标识
请问下AVP32F335QP176S(B版本) Advancechip B版本代表什么意思？
您好，B版本是升级版本，优化了AD部分，调试中代码与TI的很好的兼容，变更情况如下https://www.sekorm.com/doc/3653782.html
【经验】国产32位浮点DSP AVP32F335替换TI TMS320F28335时不能正常下载程序的解决办法
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【应用】国产数字信号处理器AVP32F335QP176S用于伺服驱动器，集成正交编码器接口
本文根据伺服驱动器对主控制芯片的要求，介绍了国产进芯的数字信号处理器AVP32F335QP176S相关优势特性，及其在伺服驱动器上的应用，供读者参考。
进芯AVP32F335QP176S DSP下载问题：单独擦除SectorA 下载正常，不擦除SectorA 仅擦除 SectorBCDEFG 失败， 图片是擦除FLASHB/C/D/E/F/G/H时候的错误信息
我这里在开发板上测试没有问题，您可以先用开发板测试下，确认环境和仿真器没有问题。然后从报错信息看，也可以检查下下载过程中是否有掉电，或者复位情况，可以用示波器测量相关引脚。
【经验】进芯电子DSP开发环境搭建指南
本文简单介绍进芯电子DSP产品开发环境搭建，基于Eclipse开源集成开发环境支持进芯电子DSP产品，创建新工程，导入旧工程，修改配置，调试测试。
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某测试仪上需要无极性的电容，容值22uF，尺寸尽量小，大品牌，材质无要求，有合适的推荐吗？
推荐威马的MKP4D052207G00JSSD，相关资料链接https://www.sekorm.com/product/66406.html
电解电容的漏电流一般多大，怎么测试？
可以利用这个公式计算漏电流值：I=kCU(μa)；其中k值为漏电流常数，单位为μa(v·μf)，I为漏电流，C为电容，U为电压，单位为ua。如此小的电流，必须采用精密电阻来测量，需要根据计算电流值来选择精密阻值，推荐ISA品牌的精密电阻，参考选型为：https://www.sekorm.com/doc/332586.html。
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