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我看到Silicon Labs的EFR32FG12和EFR32MG12芯片已经有过了Wi-SUN认证，请问Silicon Labs的Wi-SUN FAN PHY和Wi-SUN FAN Profile 认证分别在哪个实验室做的呢？
Silicon Labs目前 863-875MHz Europe ＆ India 频段的Wi-SUN FAN PHY是在TUV India实验室测试的；902-928MHz North America ＆ Brazil 频段的Wi-SUN FAN PHY是在TUV USA实验室测试的；Wi-SUN FAN 1.0 Profile 认证在台湾的Allion Labs实验室测试的。
我们准备将使用Silicon Labs的EFR32FG12芯片做的模块拿去做Wi-SUN FAN认证，请问Silicon Labs的Wi-SUN认证证书和相关的测试项在哪里可以查看呢？
可以在Wi-SUN联盟的官网查看所有通过Wi-SUN FAN认证的产品，其中包括Silicon Labs的Wi-SUN产品，查看链接：https://wi-sun.org/FAN-certified-products/ 。找到Silicon Labs的产品，点击READ MORE，点击Product Certificate可以查看Wi-SUN的认证证书，点击PICS – FAN可以查看具体的测试项。
我们的电表网络需要跟互联网同步时间，请问Silicon Labs的Linux Wi-SUN Border Router是否能支持跟互联网的时间同步呢？
您可以使用标准的 IP 协议，如 NTP（网络时间协议），将您的 Wi-SUN 网络与互联网时间同步， 您将需要一个具有互联网连接功能的Wi-SUN Border Router。
我现在想使用树莓派跑Linux操作系统作为Wi-SUN Host，使用Silicon Labs的EFR32FG12芯片烧录Wi-SUN - RCP固件，然后搭建一个Wi-SUN Border Router系统。我已经在Simplicity Studio 5 软件找到Wi-SUN - RCP的源代码了，请问Silicon Labs可以提供Host端的Linux源代码吗？
Silicon Labs已经将Wi-SUN Border Router的Host端Linux源代码分析到GitHub上了，上面也有搭建Wi-SUN Border Router的详细步骤，具体参考查看链接：https://github.com/SiliconLabs/wisun-br-linux
我们需要将智能楼宇的门磁、振动、水浸等等传感器加入到Wi-SUN网络，但是这些传感器都是使用电池供电的，所以需要低功耗的Wi-SUN方案，请问目前Silicon Labs的Wi-SUN方案是否支持低功耗节点呢？
目前Silicon Labs的Wi-SUN方案是基于 FAN 1.0 规范的，暂时还不能支持低功耗节点。低功耗节点需要在 FAN 1.1 规范中实现，预计在2022年底就会推出符合 FAN 1.1 规范的Wi-SUN协议栈。
【经验】EFR32MG21系列芯片zigbee射频性能测试
本文介绍使用CMW100测试Silicon Labs EFR32MG21系列芯片zigbee射频性能，从测试硬件、软件准备，测试环境搭建，测试zigbee射频TX和RX射频指标步骤进行详细描述，并描述了测试中的遇到的问题和解决方法。
【经验】DAB接收芯片辐射灵敏度测试注意要点
很多工程师调试Silicon Labs的DAB接收芯片Si4684的辐射灵敏度时反馈这个参数并不稳定。事实上，DAB的辐射灵敏度的测试标准情况需要信号源与接收机距离3m，并在屏蔽房中进行。本文中总结了几点在平常简陋情况下进行DAB辐射测试的注意要点。
我们使用EFR32FG23芯片做的产品，在生产测试的时候需要测试发射功率是否正常。如果使用railtest程序来测试发射功率之后，再给EFR32FG23芯片烧录应用程序，这样需要烧录2次固件，比较麻烦。有没有办法在EFR32FG23芯片的应用程序中增加测试功能，平时芯片工作在正常模式，当需要进行发射功率测试时，再让芯片进入测试模式呢？
可以在应用程序中增加测试发射功率的代码，生产时可以将EFR32FG23芯片的某个GPIO拉低，然后将EFR32FG23芯片复位就可以进入测试模式，这样在生产测试时就不用烧录两次固件了。具体方法可以参考文章：【经验】芯科EFR32FG23芯片应用程序发送单载波信号的方法：https://www.sekorm.com/news/82560569.html
【经验】如何快速测试EFR32FG Soc射频芯片的发射功率？
Silicon Labs推出的EFR32FG系列Soc射频芯片以其低功耗、高性能广泛应用于物联网、智能家居和可穿戴腕带和智能手表等市场。当硬件设计者完成硬件制作后，如何通过频谱仪测试射频特性呢？本文将介绍如何利用Silicon Labs提供的demo软件快速搭建测试EFR32FG系列Soc射频芯片的无线指标，文中将以Soc射频芯片EFR32FG14为例，其它型号的芯片可参考使用。
高精度测温0.1度，PT100，有专用芯片吗？
Silicon Labs的SI705X系列的温度传感器，接触式的有I2C输出的温度输出传感器。如果是接TE PT100这种温度传感器测试，可以用Melexis MLX90327信号转换芯片，可以将温度数据以PWM或SENT协议输出。SI705X详情请点击：低功耗数字温度传感器Si705x；MLX90327详情请点击：MLX90327。
请问芯科EFR32FG13上的程序，能不能兼容到EFR32FG14芯片上？
你好，EFR32FG13芯片和EFR32FG14芯片虽然架构上差不多的，但是毕竟是不同的型号，内存也不一样，直接将EFR32FG13的程序跑在EFR32FG14芯片上，还是会有风险。建议在Simplicity Studio软件上将芯片型号改为EFR32FG14，重新生成代码，然后编译程序进行测试。
【经验】如何测试并计算FM/AM音频广播接收芯片Si4730的音频输出幅度？
Si4730是Silicon Labs推出的一款FM/AM音频广播接收芯片，在消费类收音机市场上得到了广泛的应用。最近有客户在应用的过程中反馈AM的音量小于7dB。本文以该问题为例来分享一下音频输出的强度应该怎样测试和计算。
我们的遥控器使用Si4010芯片，为了防止芯片的固件被非法窃取，请问有什么措施来保证Si4010芯片固件的安全呢？
使用Si4010_NVM_Burner软件给Si4010芯片烧录固件时，可以在Main页面勾选右边的Run，然后勾选NVM Disable、MTP Disable、RAM Clear、C2 Disable这几个选项，这样烧录固件进Si4010芯片后，就没法再连接和读取Si4010芯片里面的内容了。 NVM Disable：进入重新测试模式时禁止NVM接口的使用。 MTP Disable：进入重新测试模式时禁止MTP接口的使用。 RAM Clear：进入重新测试模式时清除 RAM内容。 C2 Disable：永久禁用 C2 接口。 不可能复试。警告：设置后部件被锁定，C2 接口永久禁用，SiLabs原厂也无法重新测试芯片。 该部分没有后门。
使用Silicon Labs的芯片开发出Matter over thread产品后，也需要经过Matter认证后才可以售卖吗？
可以继承Silicon Labs的Thread认证，Matter认证是需要设备厂商开发完产品之后，自己去CSA指定的测试实验室完成产品的Matter认证。
我们想要通过commander，修改芯科efr32芯片ncp的token,用来测试不同的CCA在实际应用中的丢包率，使用MG21时读写顺利，但是使用MG13时报了“ERROR: No such token: “MFG_CCA_THRESHOL“”，请问是否我们操作指令有问题，谢谢
你好。关于 simplicity commander 的命令使用方法请参考 UG162: Simplicity Commander Reference Guide https://www.sekorm.com/doc/2214273.html；其中这里 device 选项需要遵循以下原则：Using a complete part number such as --device EFR32MG1P233F256GM48 is always supported and recommended.
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