• 我有一个项目上使用到10BGG,采用CS+编译调试,但是出现问题是,能用内部时钟进行调试,使用外部时钟晶振无法调试,想询问一下是什么原因?

  • 创建于2023-02-10

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2个回答

  • 小龙同学 Lv5 (0)
    5、CS+中debug tool中选择connect settings 中打开Flash选项中的Erase flash rom when starting,即可正常进入调试。
    6、输入晶振频率应在硬件手册指定的范围内。
    7、确定一下调试器与开发板的接线是否正确。
    创建于2023-02-10
  • 小龙同学 Lv5 (0)
    你好,根据你的问题,你可以先使用时钟输出功能,PCLBUZ0(P140)pin脚进行验证fmain时钟的正确性,确定是否使用内部时钟。可能是以下问题导致,
    1、能成功使用外部时钟晶振,只是你以为没成功。
    2、你需要在debug tool中选择connect settings 中clock时钟选择Main clock frequency写入你所使用的时钟晶振频率
    3、使用外部时钟晶振应选择X1引脚进行设置,你可以看一下程序配置是否有问题。
    4、外部晶振损坏,换一个晶振试试看。
    创建于2023-02-10
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CSI07151315005-01
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产品型号
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主频
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温度范围
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Gate Driver
工作电压
封装形式
SGK32F030M
MCU
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产品型号
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serial flash
Data Retention typical
Operating temperature(℃)
XT25F64FSSIGA
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64Mbit
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