【技术】解析辐射发射:方波信号高次谐波的组成

2022-10-14 龙营半导体
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一个完美电子系统需要满足EMC所有的设计要求,其中EMI 部分包括RE,CE,Harmonics等,EMS又包括RS,CS,ESD等等。对于硬件工程师来讲真如“西天取经”一般,关关都是难过的坎,本文将和大家讨论辐射发射(以下简称为:RE)的部分。


RE在硬件设计中导致测试Fail的原因很多,有电源管理芯片,时钟芯片,PCB layout 不合理,元器件,走线等等,以下图二就是平时容易遇到的RE测试不通过情景。根据图二,可以看到实际在底噪的基础上叠加了时钟的尖峰,导致RE超标。可因时钟的尖峰一味的要求底噪做的足够低,也是会对电源,PCB layout等其他的RE方案造成过高的要求,因此此时应该转变方向,从时钟的角度来降低尖峰的能量。


为什么方波信号会产生众多的高次谐波,造成RE在30M~1G都会存在头疼的尖峰?


让我们来看看方波型号的产生原理:

图三:为平时所见的正弦波,正弦波频谱下只存在基频下的能量而不会产生高次谐波;

图四:即为所见的时钟信号(方波信号)。

看以下图五信号:

从动画上来看,正弦信号通过叠加无数个高次的信号以后形成方波信号,这也是为什么方波信号为什么会有丰富的高次谐波。

 

针对时钟的RE问题,可以通过改变OSC输出的电阻,如图六的3脚的输出,可以有效的减缓时钟的上升时间和下降时间,有利高次谐波的减少,但是还是会给时钟带来破坏,造成时钟信号不符合MCU的要求。


本文推荐龙营半导体推出的EMI OSC LO206系列和LO203系列,这两个系列可以提供带有EMI功能的特殊晶振,可以推输出的时钟信号进行调制,经过调制以后的信号,可以降低基本波和高次谐波能量,见图七。


LO206和LO203系列EMI功能作为特殊功能存在,当遇到EMI问题的时候,将此功能打开,有利RE测试,且不对时钟信号造成波坏,减少成本。


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