【产品】±15V或±12V供电的抗辐射CMOS双路SPDT模拟开关
RENESAS（瑞萨）电子作为全球专业的半导体制造商，具有强大的研发实力、设计开发平台以及多种制造技术，由该公司的子公司intersil推出的抗辐射CMOS双路SPDT模拟开关——HS-303ARH、HS-303AEH、HS-303BRH、HS-303BEH，是采用Intersil的介电隔离辐射加固硅栅（RSG）工艺制造的单片器件，可以确保闭锁自由运行。其元件示意图如图1所示。
图1 HS-303ARH、HS-303AEH、HS-303BRH、HS-303BEH元件示意图
HS-303ARH、HS-303AEH、HS-303BRH、HS-303BEH模拟开关最大导通电阻为70Ω，最大待机电源电流+150μA，最低待机电源电流-100μA，抗辐射总剂量高达3x105rad(Si)，HS-303ARH和HS-303AEH使用±15V电源供电，HS-303BRH和HS-303BEH使用±12V电源供电。在整个工作电压以及工作电流范围内，以及暴露于辐射环境下时，这些模拟开关的导通电阻都能保持合理恒定。其内部功能逻辑如图2所示。
图2 HS-303ARH、HS-303AEH、HS-303BRH、HS-303BEH内部功能逻辑图
HS-303ARH、HS-303AEH、HS-303BRH、HS-303BEH模拟开关提供低电阻开关性能，使得模拟电压升至电源轨，通过5V数字输入控制形成先开后合式切换。其封装形式包括14 LD SBDIP、14 LD Flatpack以及裸片形式等3种，引脚与HS-303RH兼容，如图3所示为其引脚配置图。工作温度范围为-55℃~+125℃，有良好的环境适应性。
图3 HS-303ARH、HS-303AEH、HS-303BRH、HS-303BEH引脚配置图
HS-303ARH、HS-303AEH、HS-303BRH、HS-303BEH的主要特性：
•QML符合MIL-PRF-38535标准
•辐射耐受性
-总剂量：3x105rad(Si)
-SEE（Single Event Effect，单事件效应）：60°入射角，线性能量传递LET=60MeV-mg/cm2，电荷转移到断开开关的输出<150pC
•无闭锁，介电隔离器件岛
•引脚和功能与Intersil HS-303RH和HI-303系列模拟开关兼容
•模拟信号范围与供电电源电压范围相同
•低漏电流：100nA（最大值，后置）
•低rON：70Ω（最大值，后置）
•最大待机电源电流+150μA
•最低待机电源电流-100μA
HS-303ARH、HS-303AEH、HS-303BRH、HS-303BEH的应用领域：
•手持设备
•便携式设备
•通信系统
技术顾问：馨芯
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人到中年 Lv7. 资深专家 2018-08-23不错 -
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希望的风 Lv8. 研究员 2018-08-18很不错 -
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冷锋 Lv7. 资深专家 2018-08-11不错
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Intersil Space的产品高度可靠、高效、精确的抗辐射和耐辐射IC
描述- Renesas（原Intersil）提供高度可靠、高效、精确的辐射硬化集成电路，适用于空间应用和其他辐射环境。产品包括辐射硬化QML SMD、辐射硬化功率解决方案、辐射硬化模拟产品、辐射硬化数字产品等。公司产品符合MIL-PRF-38535/QML标准，并经过100%烧入测试，确保产品质量和可靠性。
型号- ISL71830SEH,ISL70023SEH,HS-139RH,ISL73444SEH,ISL70591SEH,ISL73100SEH,HS-565BEH,ISL73020SEH,ISL71010B50,ISL71590SEH,HS-4424RH,ISL72026BSEH,ISL73127EH,HS-0546RH,ISL71001SEHM,HS-1840AEH,ISL71090SEH25,HS-0547RH,ISL73061SEH,ISL71710SLHM,HS-26CLV31RH,HS-508BRH,HS-117EH,ISL70218SEH,ISL75051ASEH,ISL70040SEH,ISL73051ASEH,IS-1825BSEH,ISL75052SEH,ISL70005ASEH,HS-26C32RH-T,ISL70219ASEH,ISL72026SEH,ISL78845ASRH,ISL71841SEH,ISL71610M,ISL71610SLHM,HS-4423RH,,ISL73840SEH,HS-2420EH,ISL70024SEH,HS-1115RH,ISL73128EH,ISL738841ASEH,ISL73141SEH,HS-26CLV32EH,ISL73033SLHM,HS-4424BEH,ISL70001SEH,ISL71010B25,ISL72991RH,ISL70592SEH,HS-139EH,HS-3530ARH,ISL71001M,ISL70417SEH,ISL71090SEH12,ISL70321SEH,ISL70617SEH,ISL78841ASRH,ISL73841SEH,ISL70001ASEH,HS-4423BEH,ISL706CRH,HS-303CEH,ISL72028SEH,HS-4424EH,ISL7124SEH,ISL74422BRH,ISL72813SEH,ISL70517SEH,ISL70062SEH,ISL71030M,ISL71823ASRH,ISL72027BSEH,ISL71831SEH,ISL705BRH,ISL73590SEH,IS-2100ARH,ISL71043M,HS-303BRH,ISL70419SEH,ISL738845ASEH,ISL73847SEH,ISL71001SLHM,HS-117RH,ISL73814SEH,ISL74422ARH,ISL71218M,HS-201HSRH,ISL70005SEH,IS-1825BSRH,ISL28227SEH,HS-26C31RH-T,ISL7124SRH,HS-0548RH,HS-4424DEH,ISL705CRH,ISL72027SEH,ISL738840ASEH,ISLVERSALDEMO2Z,HS-4424BRH,ISL72814SEH,HS-26CLV32RH,ISL70001SRH,ISL73148SEH,HS-26CT31EH,ISL70227SRH,ISL78843ASEH,ISL71823BSRH,HS-26C31RH,HS-4423EH,,ISL7119EH,ISL73591SEH,ISL73052SEH,HS-26CT31RH,ISL73141SEHMF7,ISL706ARH,IS-139ASRH,ISL71091SEH33,HS-303AEH,HS-4423BRH,ISL70244SEH,ISL78840ASRH,HS-1135RH,ISL706CEH,ISL78841ASEH,ISL70100SEH,HS-1825AEH,ISL70020SEH,ISL71091SEH40,ISL7X590SEH,ISL73005SEH,IS-2100AEH,ISL73040SEHEV4Z,HS-26C32EH,ISL71043MEVAL1Z,ISL72028BSEH,HS-5104AEH,ISL73023SEH,IS-1825ASRH,HS-26CT32EH,ISL73040SEH,ISL70061SEH,ISL705BEH,HS-1840ARH-T,HS-26C32RH,ISL70227SEH,ISL706BRH,HS-26CT32RH,HS-303BEH,ISL71444M,IS-1845ASRH,ISL71040M,ISL70003ASEH,HS-OP470AEH,ISL71934M,ISL705ARH,ISL78843ASRH,HS-1825ARH,HS-302AEH,ISL73096RH,HS-1840BRH,HS-4424DRH,ISL705CEH,ISL73141SEHMFN,ISL71041M,HS-201HSEH,HS-303ARH,ISL73096EH,ISL73419SEH,ISL73062SEH,ISL78840ASEH,ISLRTG4DEMO1ZA,ISL71026M,ISL7119RH,IS-139ASEH,ISL73024SEH,IS-1715AEH,ISL706AEH,ISL738843ASEH,HS-26CLV31EH,HS-508BEH,HS-4080AEH,ISL73127RH,HS-1840ARH,ISL71710M,ISL70002SEH,ISL71090SEH75,HS-1145RH,ISL7457SRH,ISL70218SRH,IS-1845ASEH,ISL71091SEH10,ISL73041SEH,ISL78845ASEH,ISL73148SEHMF,ISL73244SEH,ISL706BEH,ISL73007SEH,HS-1840BEH,HS-3530AEH,ISL73592SEH,IS-1715ARH,ISL70444SEH,HS-26C31EH,ISL73128RH,ISL71091SEH20,ISL71840SEH,ISL71090SEH50,ISL73321SEH,HS-565BRH,ISL28417SEH,ISL705AEH,ISL71441M
HS-303xxH、HS-302AEH单粒子瞬变通用信息设计
描述- 本资料主要讨论了在空间应用中，由于强烈的质子和重离子环境，电子电路可能出现的单事件效应（SEE），特别是单事件瞬态（SET）。资料解释了当重离子以60MeV•cm2/mg的线性能损（LET）以60°角度撞击芯片时，所沉积的电荷不会引起足够大的瞬态事件，从而被视为状态改变。资料还提供了相关的计算方法和测试标准，以确保电子设备在空间环境中的可靠性。
型号- HS-303BRH,HS-303XXH,HS-303AEH,HS-302AEH,HS-303BEH,HS-303CEH,HS-303ARH
模拟开关和多路复用器应用说明
描述- 本资料主要探讨了模拟开关和复用器在电路中的应用，包括高电流开关、运算放大器开关应用、开关瞬态效应、高频开关等。内容涉及开关的导通和断开特性、电荷注入、衰减与隔离特性，以及不同应用场景下的电路配置和性能优化。
型号- HA-5033,SPDT 2,HA-2542,HA-2541,HL-524,HI-524,HL-201,HI-504X,HL-5040,HI-5046A
HS-303ARH中子检测试验报告
描述- 本报告总结了HS-303ARH四通道模拟开关在1MeV等效中子辐射下的测试结果。测试旨在评估该器件对位移损伤（DD）的敏感性，位移损伤由中子或质子环境引起。测试中使用了不同剂量的中子辐射，从2x10^12n/cm^2到1x10^14n/cm^2。测试结果显示，所有样本在经过不同剂量的中子辐射后均满足所有规格要求。
型号- HS-303ARH
HS-303ARH、HS-303AEH、HS-303BRH、HS-303BEH抗辐射CMOS双SPDT模拟开关数据表
型号- HS0-303BEH-Q,5962F9581307VXC,5962F9581305V9A,HS-303AEH,HS-303BEH,HS9-303ARH-8,5962F9581305VXC,5962F9581304VCC,HS0-303AEH-Q,HS9-303AEH-Q,5962F9581306VCC,HS1-303ARH-Q,HS9-303BRH-8,HS9-303BRH/PROTO,HS1-303BEH-Q,HS9-303BEH-Q,HS1-303BRH-8,5962F9581304QCC,HS0-303ARH/SAMPLE,HS9-303ARH-Q,HS9-303ARH/PROTO,HS1-303BRH-Q,5962F9581304V9A,5962F9581306VXC,HS1-303ARH-8,5962F9581304QXC,5962F9581306V9A,HS1-303AEH-Q,HS1-303ARH/PROTO,5962F9581304VXC,HS0-303BRH-Q,HS9-303BRH-Q,HS1-303BRH/PROTO,5962F9581305VCC,5962F9581307V9A,5962F9581305QXC,HS0-303BRH/SAMPLE,HS-303BRH,5962F9581307VCC,HS0-303ARH-Q,5962F9581305QCC,HS-303ARH
HS-303ARH四模拟开关1MeV等效中子测试
描述- 本报告总结了HS-303ARH四通道模拟开关在1MeV等效中子照射下的测试结果。测试旨在评估该器件对中子或质子环境引起的位移损伤（DD）的敏感性。测试在中子通量范围为2x10^12n/cm2至1x10^14n/cm2之间进行。所有样本均满足规格要求，测试在室温下进行，使用Intersil Palm Bay, FL的自动测试设备（ATE）。
型号- HS-303BRH,HS-303AR,HS-303AEH,HS-303BEH,HS-303ARH
HS-303AEH总剂量试验报告
描述- 本报告展示了HS-303AEH双SPDT模拟开关在低剂量率（LDR）下的总剂量测试结果。测试数据来源于晶圆级总剂量验收测试。样品在偏置和所有引脚接地的情况下进行LDR辐射。HS-303AEH在晶圆级上进行验收测试，以300krad(Si)的高剂量率（HDR）和50krad(Si)的LDR进行测试，确保产品在两种剂量率下均达到规定的硬度水平。该部件在所有测试点均有效满足SMD后辐射规范限制。在偏置和接地辐射之间或两个开关之间，未观察到任何参数的总剂量响应的显著差异。
型号- HS-303AEH
HS-303ARH中子测试
描述- 本报告总结了HS-303ARH四通道模拟开关在1MeV等效中子辐射下的测试结果，旨在评估其对位移损伤（DD）的敏感性。测试在中子通量范围为2x10^12n/cm2至1x10^14n/cm2的条件下进行。测试样品由波音公司提供，并在白沙导弹试验场的快中子反应堆中进行中子辐照。测试结果显示，所有样品在辐照后均满足规格要求。
型号- HS-303ARH
INTERSIL航天产品
描述- Intersil（现为Renesas）提供高度可靠、高效和精确的辐射硬化集成电路，适用于太空应用和其他辐射环境。公司拥有近七十年在太空和防务行业的经验和历史，提供基于SMD的第五/六级辐射硬化（rad hard）产品，以满足高可靠性太空市场的需求。产品包括FPGA电源解决方案、开关稳压器、LDO、CAN收发器、多路复用器、温度传感器、电压基准和辐射耐受塑料IC。公司采用先进的工艺和封装技术，确保产品在极端环境中的性能和可靠性。
型号- ISL71830SEH,ISL70023SEH,ISL7119EH,HMSR,IS0-XXXXEH-Q,XXXXEH-Q,HS-303AEH,ISL71091SEH33,HS-565BEH,ISL71010B50,ISL71590SEH,EHV,ISL70244SEH,ISL73127EH,ISL706CEH,ISL78841ASEH,HS-1840AEH,HS-1825AEH,ISL71090SEH25,ISL71091SEH40,IS-2100AEH,NSR,HS-26C32EH,ISL7202XSEH,HS-5104AEH,ISL73023SEH,HS-117EH,ISL71XXXM,RH,HS-26CT32EH,ISL75051ASEH,ISL70040SEH,ISL73040SEH,ISL70218SEH,ISL705BEH,ISL75052SEH,ISL7XXXXEHVX,RH-8,ISL70227SEH,ISL70219ASEH,ISL72026SEH,HS-303BEH,HS-4423EH,ISL71841SEH,ISL71444M,IS-1009EH,ISL70024SEH,HS-2420EH,RH-Q,ISL73128EH,HS0-XXXXRH-Q,HS-26CLV32EH,ISL70003ASEH,HS-4424BEH,ISL70001SEH,HS-OP470AEH,ISL71010B25,MSR,IS0-XXXXRH-Q,HS-139EH,HS0-XXXXEH-Q,ISL705CEH,ISL71001M,ISL70417SEH,ISL70321SEH,ISL71090SEH12,HS-201HSEH,ISL70617SEH,ISL73096EH,ISL70001ASEH,HS-4423BEH,EH-Q,ISL7XXXXRHVX,ISL78840ASEH,ISL72028SEH,HS-303CEH,HS-4424EH,ISL7124SEH,ISL72813SEH,ISL70517SEH,ISL71026M,IS-139ASEH,ISL73024SEH,ISL706AEH,HS-26CLV31EH,HS-508BEH,ISL71831SEH,HSR,HS-4080AEH,IS-2981EH,ISL70002SEH,ISL70419SEH,ISL71090SEH75,XXXXRH-Q,ISL71091SEH10,ISL71218M,XXXXRH-8,ISL78845ASEH,RHQ,ISL706BEH,HS-1840BEH,RHV,HS-3530AEH,HS-4424DEH,ISL70444SEH,HS-26C31EH,ISL72027SEH,ISL71091SEH20,ISL71840SEH,ISL73321SEH,ISL71090SEH50,HS-26CT31EH,ISL705AEH,ISL78843ASEH
HS-303ARH、HS-303AEH、HS-303BRH、HS-303BEH抗辐射CMOS双单刀双掷模拟开关
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型号- 5962F9581307VXC H,HS0-303BEH-Q,S9-303BEH-Q,5962F9581305V9A,HS-303AEH,HS-303BEH,HS9-303ARH-8,5962F9581305VXC,5962F9581304VCC,HS0-303AEH-Q,HS9-303AEH-Q,5962F9581306VCC,HS1-303ARH-Q,HS9-303BRH/PROTO,HS9-303BRH-8,HS1-303BEH-Q,HS1-303BRH-8,HS-303ARH HS-303AEH HS-303BRH HS-303BEH HS1-303ARH-8 HS9-303ARH-8 HS0-303ARH-Q HS0-303AEH-Q HS1-303ARH-Q HS1-303AEH-Q HS9-303ARH-Q HS0-303ARH/SAMPLE HS1-303ARH/PROTO HS9-303ARH/PROTO HS9-303AEH-Q HS1-303BRH-8 HS9-303BRH-8 HS0-303BRH-Q HS1-303BRH-Q HS1-303,HS0-303ARH/SAMPLE,5962F9581304QCC,HS9-303ARH-Q,HS9-303ARH/PROTO,HS1-303BRH-Q,5962F9581304V9A,HS1-303ARH-8,5962F9581306VXC,5962F9581304QXC,5962F9581306V9A,HS1-303AEH-Q,HS1-303ARH/PROTO,5962F9581304VXC,HS1-303BRH/PROTO,HS0-303BRH-Q,HS9-303BRH-Q,5962F9581305VCC,5962F9581307V9A,5962F9581305QXC,HS0-303BRH/SAMPLE,HS-303BRH,HS0-303ARH-Q,5962F9581307VCC,5962F9581305QCC,HS-303ARH
航天产品FPGA电源解决方案，开关稳压器，LDO，CAN收发器，多路复用器，温度传感器，电压基准
描述- 本资料介绍了Intersil公司在航天产品领域的解决方案，包括辐射硬化（Rad-Hard）的FPGA电源解决方案、开关稳压器、LDO、CAN收发器、多路复用器、温度传感器和电压参考等。资料重点介绍了Intersil在航天和防御领域的丰富经验，以及其在辐射环境下的产品设计和测试方法。此外，还提供了产品选型表、设计工具和支持信息。
型号- ISL70617SEH,ISL71830SEH,ISL7119EH,ISL73096EH,HS-4423BEH,ISL70001ASEH,ISL78840ASEH,HS-303AEH,ISL71091SEH33,ISL72028SEH,HS-303CEH,HS-4424EH,HS-565BEH,ISL7124SEH,ISL71590SEH,ISL72813SEH,ISL70244SEH,ISL70517SEH,ISL70003SEH,ISL71026M,IS-139ASEH,ISL73127EH,ISL706CEH,ISL78841ASEH,HS-1840AEH,ISL706AEH,ISL71090SEH25,HS-1825AEH,HS-26CLV31EH,ISL71091SEH40,HS-508BEH,ISL71831SEH,IS-2100AEH,HS-4080AEH,IS-2981EH,HS-26C32EH,HS-5104AEH,ISL71XXXM,HS-117EH,ISL70002SEH,HS-26CT32EH,ISL70419SEH,ISL71090SEH75,ISL70218SEH,ISL705BEH,ISL75052SEH,ISL70227SEH,ISL70219ASEH,ISL72026SEH,HS-303BEH,ISL71091SEH10,HS-4423EH,ISL71841SEH,ISL71444M,IS-1009EH,ISL78845ASEH,HS-2420EH,ISL706BEH,ISL73128EH,HS-1840BEH,HS-26CLV32EH,HS-3530AEH,ISL70003ASEH,HS-4424BEH,HS-4424DEH,ISL75051SEH,ISL70001SEH,HS-OP470AEH,ISL70444SEH,HS-26C31EH,ISL72027SEH,ISL71091SEH20,ISL71840SEH,HS-139EH,ISL71090SEH50,ISL73321SEH,HS-26CT31EH,ISL71001M,ISL705CEH,ISL70417SEH,ISL705AEH,ISL71090SEH12,ISL70321SEH,HS-201HSEH,ISL78843ASEH
Intersil HS-303ARH/AEH/BRH/BEH模拟开关数据手册
描述- 该资料介绍了Intersil公司生产的HS-303ARH、HS-303AEH、HS-303BRH和HS-303BEH系列辐射硬化CMOS双单刀双掷模拟开关。这些开关采用Intersil的隔离式辐射硬化硅栅（RSG）工艺制造，确保无闩锁现象。它们与HS-303RH和HI-303系列模拟开关引脚兼容和功能等效，提供低电阻切换性能，适用于模拟电压，具有辐射性能和低泄漏特性。
型号- HS0-303BEH-Q,HS1-303BRH,HS0-303ARH,HS1-303ARH,HS0-303BRH,5962F9581307VXC,5962F9581305V9A,HS-303AEH,HS-303BEH,HS9-303ARH-8,5962F9581305VXC,5962F9581304VCC,HS0-303AEH-Q,HS9-303AEH-Q,5962F9581306VCC,HS9-303ARH,HS1-303ARH-Q,HS9-303BRH,HS9-303BRH-8,HS9-303BRH/PROTO,HS1-303BEH-Q,HS9-303BEH-Q,HS1-303BRH-8,HS0-303ARH/SAMPLE,5962F9581304QCC,HS9-303ARH-Q,HS1-303BRH-Q,HS9-303ARH/PROTO,HS1-303ARH-8,5962F9581306VXC,5962F9581304V9A,5962F9581304QXC,5962F9581306V9A,HS1-303AEH-Q,HS1-303ARH/PROTO,5962F9581304VXC,HS0-303BRH-Q,HS9-303BRH-Q,HS1-303BRH/PROTO,5962F9581305VCC,5962F9581307V9A,5962F9581305QXC,HS0-303BRH/SAMPLE,HS-303BRH,HS0-303ARH-Q,5962F9581307VCC,5962F9581305QCC,HS-303ARH
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