【经验】是德科技的PathWave制造分析软件(PMA)使用实例:更快地进行半导体召回诊断
近来我们不断看到由于半导体元件故障而导致的汽车召回事件。汽车召回会对汽车制造商(也称为原始设备制造商,OEM)产生巨大的财务影响,同时也会损害他们的声誉。随着新车型中半导体份额的增加,半导体测试中的分析对于车辆的整体质量变得更加重要。
OEM对其合同制造商(CM)有着非常严格的半导体测试政策。一些主要的汽车制造品牌信任PMA为他们提供有关其CM制造的半导体主板质量的实时评估。这有助于他们持续掌握质量指标并降低成本(通过减少浪费和召回)。
如果在新车中发现任何故障部件,汽车制造商在修复故障部件的同时,还会检查该部件的完整谱系,来识别同批次其他汽车的潜在质量风险。故障板返回工厂进行诊断;这些电路板通常也称为退货授权(RMA)板。为了进行根本原因分析,合同制造商(CM)需要根据故障板的序列号检索故障板的测试历史记录。除了电路板测试历史,他们还需要检查生产批次中的类似问题。
在是德科技(KEYSIGHT)推出的PathWave制造分析应用程序中,其中有一个RMA模块,该模块让用户可以检索电路板及其批次的完整测试历史记录。RMA模块专门设计用于帮助OEM和CM执行更快的根本原因分析。
下面显示的是全球OEM之一(已在其供应链中强制使用PMA)如何使用RMA模块对故障板执行根本原因分析。他们在测试板子上的特定元件中观察到了CM所做的极限更改操作。两块板子在最初测试中失败,上限突然增加(远高于核准限额值),同时重新测试这些板子,后来又恢复到实际限额值,这会导致在超过限额间通过测试的电路板出现质量问题。
图 PMA散点图显示通过故障板的瞬时限额变化
作为调查的一部分,CM还必须提取生产批次中制造的所有电路板的测试历史记录。CM使用RMA模块提取批次详细信息及其测试历史信息,在超过限额期间测试的所有板子都无法被修复并在随后被报废。
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