【经验】CHROMA安规测试仪接触检查功能及应用详解

2021-10-09 CHROMA
安规测试仪,19032,19032-P,19020 安规测试仪,19032,19032-P,19020 安规测试仪,19032,19032-P,19020 安规测试仪,19032,19032-P,19020

本文主要介绍“CHROMA安规测试仪的接触检查功能”。主要分为三个方面:一,耐压测试中接触检查的重要性;二,接触检查的功能介绍及应用;三,Chroma19xxx系列机种接触检查功能。

重点来了!

耐压测试中接触检查的重要性

耐压测试是通过输出高压来测量回路中有无漏电流的设备,当连接的测试线的断线、接触不良,Relay氧化等原因造成无电流现象时,也会被误判定是Pass,结果造成不良品流入市场。因为耐压测试是安全标准测试,如果没有做到准确无误,在市场上是可能引起各种致命故障及纠纷的重要因素,所以接触检查在耐压测试中显得相当重要。

接触检查的功能介绍及应用

1.设定漏电流下限值Low  Limit

以产品的正常漏电流为参考设置耐压测试的漏电流下限值,待测物未接触良好时的漏电流接近为零,低于漏电流下限值,以此来实现接触检查。

例如:良品检测电流在1mA-5mA范围,可设定下限为:0.9mA,当报Low Fail时,即可判定接触不良,如下图设定:

适用对象:对有高漏电流或大容量的待测物才可以适用


2.OSC接触检查功能

OSC 功能的测试原理:

一般耐压测试产品皆呈电容性 (Cx),在正常状态下可能在数十 pF 至数 µF 之间(如图1)。一旦发生连接断路则会在断路界面形成微小电容量 ( 图 2 之 Cc), 一般 低于 1pF,而呈现整体电容量远低于正常产品现象。而当待测物短路或接近短路时时则会呈现电容量远高于正常现象(如图3)。因此可利用电容量的上下 限值判定出开短路问题。

OSC 功能的设定方式:

在安规测试中,确保待测物良好接触后再进行耐压测试,OSC作为独立的测试项目设定在安规测项的前面。


步骤:

1).OSC模式进行设定OPEN  CHK.及SHORT CHK.

注:Chroma安规测试产品出厂设定以正常测得容量 之50%为下限(开路检查),正常测得容量之3倍为上限(短路检查),可自行设定;测试所需时间约0.1秒。

2).执行Offset:线材及治具上都带有杂散容量,每次更换线材治具时必须重新进行Offset归零动作,以确保测试准确度。

3).Get  Cs:取得所测产品的电容值作为测试时的标准值,后续产品的电容值均与此比较。

适用对象 :电源模块、电容器、PCB、家电类等


3.HFCC高频接触检查功能

测试原理 :  与OSC相同进一步提升测试频率,减小容抗(Xc)使侦测范围更宽广与精准,进而改善OSC功能无法检测小电容量待测物的问题。

测试频率250KHz~500KHz(OSC测试频率600Hz)。不同于OSC独立步骤设定,同Low  Limit一样在耐压测试项目中去设定。

注:使用HFCC功能时,请注意待测物(Cs)加上治具的电容量(C_offset)不得大于机种说明书内的规定最大电容量。

适用对象:电子零件或电气产品均适用之


4.HVCC高压接触检查功能

测试原理 :利用高压测试时,分别于高电压端及低压端迭加直流电压做接触检查, 当与待测物接触时直流电压会形成回路导通反之就是开路,利用此方法来 达到高压接触功能。

使用方式:接上两根Contact Check线于测试端,测试参数内开启HVCC功能即可。

针对高绝缘能力之组件于高压输出时同步进行接触检查,提升测试可靠度与效率。

适用对象 :光耦合器 , 机械式电源开关


5.HSCC快速接触检查

测试原理:  提供快速的DCR测量功能来完成接触检查,确认测试线与各绕组是否接触良好。具备DCR测试功能的19035/19036支持HSCC测试,多通道的设计符合马达等多绕组产品的测试需求。

独立的量测功能,同OSC一样需单独步骤设定,一个绕组的测试时间约20ms。

适用对象:变压器,风扇,马达


Chroma机种接触检查功能一览表

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