【经验】CHROMA安规测试仪接触检查功能及应用详解
本文主要介绍“CHROMA安规测试仪的接触检查功能”。主要分为三个方面:一,耐压测试中接触检查的重要性;二,接触检查的功能介绍及应用;三,Chroma19xxx系列机种接触检查功能。
重点来了!
耐压测试中接触检查的重要性
耐压测试是通过输出高压来测量回路中有无漏电流的设备,当连接的测试线的断线、接触不良,Relay氧化等原因造成无电流现象时,也会被误判定是Pass,结果造成不良品流入市场。因为耐压测试是安全标准测试,如果没有做到准确无误,在市场上是可能引起各种致命故障及纠纷的重要因素,所以接触检查在耐压测试中显得相当重要。
接触检查的功能介绍及应用
1.设定漏电流下限值Low Limit
以产品的正常漏电流为参考设置耐压测试的漏电流下限值,待测物未接触良好时的漏电流接近为零,低于漏电流下限值,以此来实现接触检查。
例如:良品检测电流在1mA-5mA范围,可设定下限为:0.9mA,当报Low Fail时,即可判定接触不良,如下图设定:
适用对象:对有高漏电流或大容量的待测物才可以适用
2.OSC接触检查功能
OSC 功能的测试原理:
一般耐压测试产品皆呈电容性 (Cx),在正常状态下可能在数十 pF 至数 µF 之间(如图1)。一旦发生连接断路则会在断路界面形成微小电容量 ( 图 2 之 Cc), 一般 低于 1pF,而呈现整体电容量远低于正常产品现象。而当待测物短路或接近短路时时则会呈现电容量远高于正常现象(如图3)。因此可利用电容量的上下 限值判定出开短路问题。
OSC 功能的设定方式:
在安规测试中,确保待测物良好接触后再进行耐压测试,OSC作为独立的测试项目设定在安规测项的前面。
步骤:
1).OSC模式进行设定OPEN CHK.及SHORT CHK.
注:Chroma安规测试产品出厂设定以正常测得容量 之50%为下限(开路检查),正常测得容量之3倍为上限(短路检查),可自行设定;测试所需时间约0.1秒。
2).执行Offset:线材及治具上都带有杂散容量,每次更换线材治具时必须重新进行Offset归零动作,以确保测试准确度。
3).Get Cs:取得所测产品的电容值作为测试时的标准值,后续产品的电容值均与此比较。
适用对象 :电源模块、电容器、PCB、家电类等
3.HFCC高频接触检查功能
测试原理 : 与OSC相同进一步提升测试频率,减小容抗(Xc)使侦测范围更宽广与精准,进而改善OSC功能无法检测小电容量待测物的问题。
测试频率250KHz~500KHz(OSC测试频率600Hz)。不同于OSC独立步骤设定,同Low Limit一样在耐压测试项目中去设定。
注:使用HFCC功能时,请注意待测物(Cs)加上治具的电容量(C_offset)不得大于机种说明书内的规定最大电容量。
适用对象:电子零件或电气产品均适用之
4.HVCC高压接触检查功能
测试原理 :利用高压测试时,分别于高电压端及低压端迭加直流电压做接触检查, 当与待测物接触时直流电压会形成回路导通反之就是开路,利用此方法来 达到高压接触功能。
使用方式:接上两根Contact Check线于测试端,测试参数内开启HVCC功能即可。
针对高绝缘能力之组件于高压输出时同步进行接触检查,提升测试可靠度与效率。
适用对象 :光耦合器 , 机械式电源开关
5.HSCC快速接触检查
测试原理: 提供快速的DCR测量功能来完成接触检查,确认测试线与各绕组是否接触良好。具备DCR测试功能的19035/19036支持HSCC测试,多通道的设计符合马达等多绕组产品的测试需求。
独立的量测功能,同OSC一样需单独步骤设定,一个绕组的测试时间约20ms。
适用对象:变压器,风扇,马达
Chroma机种接触检查功能一览表
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2024年CIBF展会(4/27~29)即将在美丽的山城——重庆盛大开幕!汇聚2200家行业内知名企业,交流行业信息,探讨电池技术发展方向。Chroma深耕电池行业多年,将携最新的电池测试相关解决方案参与此次盛会,愿与广大行业内先进一起学习交流。
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电子商城
服务
支持GSM / GPRS 等多种制式产品的射频测试,覆盖所有上行和下行的各项射频指标,包括频差、相差、调制、功率、功控、包络、邻道泄漏比、频谱、杂散、灵敏度、同道干扰、邻道干扰、互调、阻塞等等。满足CE / FCC / IC / TELEC等主流认证的射频测试需求。
实验室地址: 深圳 提交需求>
整体外形尺寸小至0.6*0.3*0.3mm (DFN0603),工作电压范围覆盖2.5V~36V,电容值低至0.2pF,浪涌能力最高可达240安培,静电等级可达空气放电、接触放电±30KV。提供免费浪涌测试仪、静电测试仪测试。
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