【产品】可同时测试152pcs产品的老化板FP-006C,专门针对eMMC颗粒存储芯片进行整盘产品高低温老化

2022-11-04 OPS官网
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FP-006C是一款专门针对eMMC颗粒存储芯片进行整盘产品高低温老化的老化板。采用整盘产品同时接触技术,精度高。

性能特点

1、占用空间小

2、可同时测试152pcs产品

3、ARM 内可建制BIB 自我检测功能

4、BIB 板内建制温度侦测功能

5、预留MES 系统对接接口

6、单颗DUT 独立电源设计,保护产品


设备规格

技术资料,数据手册,3D模型库,原理图,PCB封装文件,选型指南来源平台:世强硬创平台www.sekorm.com
现货商城,价格查询,交期查询,订货,现货采购,在线购买,样品申请渠道:世强硬创平台电子商城www.sekorm.com/supply/
概念,方案,设计,选型,BOM优化,FAE技术支持,样品,加工定制,测试,量产供应服务提供:世强硬创平台www.sekorm.com
集成电路,电子元件,电子材料,电气自动化,电机,仪器全品类供应:世强硬创平台www.sekorm.com
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