【经验】充电协议IC AP5889 ESD测试失效问题分析及解决
客户设计一款空气净化器面板,充电协议芯片使用伊凡微充电协议IC AP5889,当前测试条件按照终端客户要求需要满足±8KV-15KV接触式ESD测试,目前的现象为8KV测试时协议IC直接打坏失效,客户在USB端增加一颗TVS管之后,问题依旧存在,参考TVS规格书可知,接触放电等级为25KV。
客户实际应用电路如下:
增加TVS之后效果并没有改善,IC依旧会失效。
查阅AP5889规格书可以看到,规格书中表明:
芯片的ESD水平高于8000V,接触式ESD放电测试并不是直接接触芯片引脚,高压放电过程中会因为空气中导电杂质可能会使IC Pin5VCC存在浪涌等因素导致内部电路短路失效。从客户原理图中可以看到目前的接法是VCC直连5V VBUS。中间没有任何处理。
建议客户做如下改善:
VCC与GND之间增加一颗0.1uF电容。
5V与VCC之间串联一颗1k电阻。
客户在调整电路之后重新测试,在±8kv-±20kv测试时AP5889一直表现正常,没有出现击穿失效现象。
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