【产品】Keysight全新在线测试系统Medalist i3070系列5的性能优化分析
KEYSIGHT新Medalist i3070系列5在线测试系统的设计致力于吞吐率的增强。本文主要评估该系列5测试仪相对其前代产品速度的提升。结果表明与i3070相比，系列5在测试时间上的总体改进几乎达到30%。
Keysight Medalist i3070系列5在线测试系统配备了先进的双密度板卡（12MPs），以及新的模拟激励和响应单元（ASRU）“N”版卡。ASRU-N包含新的数字测量电路（DMC）和数字信号处理（DSP）算法。这些新特性在保留原测量运算放大器（MOA）电路的基础上加快了模拟测试的速度，可以满足用户对测量更精确的要求。与此同时，先进的双密度板卡也改进了数字测试的吞吐率。
客户在测试时间上将得到20%至30%的改进，这也意味着更高的生产能力和利润。
评估目标和电路板信息：
Keysight评估的是亚洲大批量电子产品合同制造商（CEM）生产的计算机主板。评估目标是比较客户现有Medalisti3070与新的Medalisti3070系列5在下述两方面的差异:
a）测试吞吐率
b）首次通过率（FPY）和错检率（FRR）
下面的表1给出项目信息。之所以选择计算机主板，是因为电路板上有大量的模拟和数字元件，从而能为分析提供丰富的数据。
转换过程：
有两种转换不加电模拟测试的方法。这两种方法的目的都是通过离线计算机增加“as”选项，从而不会影响生产系统的时间：
I. 用图形用户界面进行人工编辑
II. 重新运行交互程序发生器（IPG）
在本次评估中，选择人工编辑方法修改不加电模拟测试源文件。为加快数字测试，把“矢量周期”和“接收延迟”语句分别定义为80n和70n。
在完成编辑后，初始的运行和调试需要使用已知的好的电路板。确保模拟和数字测试可以稳定通过，所有高级边界扫描测试和绝大多数数字测试在改变矢量周期的情况下不需要大的修正。但由于数字元件特性所致，某些数字测试需要调整回它们的最佳矢量周期。
下面的表2示出在加速模式中所要进行的转换，调试和测试运行程序。
评估过程：
测试过程
首先在Medalist i3070上测试10块选出的已知好板。测试稳定后记下测试时间（至少三个执行周期后）。在Medalist i3070系列5上重复同样步骤。
表3示出所得到的平均测试时间结果。系列5 ICT系统对测试吞吐率的提升是很明显的，对每块电路板的测试时间减少了6秒多，也就是有大约28%的改进。还应注意比较对象已经使用较早软件版本就有的自动优化特性对测试进行过优化。
一次合格率和错检率
在一次合格率（FPY）和错检率（FRR）的测试中总共用了428块板。在样本中特意加了两块有故障的板。这些板先在Medalist i3070上测试，然后在Medalist i3070系列5上测试。
从表4中的测试结果数据可以看到，系列5既保持了原有测试性能，又得到了吞吐率的提升。
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本文由雨虹转载自Keysight，原文标题为:Keysight Medalist i3070系列5与其前代产品i3070在线测试系统吞吐率比较-— 生产线案例研究，本站所有转载文章系出于传递更多信息之目的，且明确注明来源，不希望被转载的媒体或个人可与我们联系，我们将立即进行删除处理。
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