【经验】奥拉测试误码仪设备Au5325的各通道灵敏度差异问题及优化方法

2022-05-25 世强
测试误码仪设备,四通道频率转换和高性能抖动清除频率合成器,Au532X,Au5325 测试误码仪设备,四通道频率转换和高性能抖动清除频率合成器,Au532X,Au5325 测试误码仪设备,四通道频率转换和高性能抖动清除频率合成器,Au532X,Au5325 测试误码仪设备,四通道频率转换和高性能抖动清除频率合成器,Au532X,Au5325

奥拉Au532X四通道频率转换和高性能抖动清除频率合成器,其核心架构是小数分频PLL,Au532X支持1.8V、3.3V双供电,VDDIN=3.3V,VDD=1.8V,Au532XBC1默认VDDIO=1.8V,Au532XBC2版本默认VDDIO=3.3V,具有<150fs RMS抖动。广泛应用于5G小基站,OTN机上。


如何更好的发挥奥拉芯片的性能,这和芯片外围的匹配和GUI配置均有关系,某客户在使用Au5325测试误码仪设备时,各通道的灵敏度差异大,应该如何优化?本文将介绍测试误码仪设备Au5325的各通道灵敏度差异问题及优化方法。


首先原理图如果输入XO不是Crystal统一GUI配置应选择EX TCXO(AC),另外决定因素还是使用的XO的精度,如果有稳定的输入则XO的精度不重要。其次XO应采用指标书推荐的分压电路设计。


根据建议修改EX TCXO(AC)模式之后,比以前测试的灵敏度小了,性能提升了。




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