【产品】专门针对SSD模组产品的高低温老化设备FLA-6606HL，测试DUT数为288pcs

时间： 2023-03-31 来源：OPS官网

技术问答

OPS推出的FLA-6606HL 高低温老化设备，是一款专门针对SSD模组产品进行高低温RDT老化的设备。设备采用专业工控机和Windows系统控制，能够同时支持PCIe、SATA接口SSD模组老化测试，腔体可在产生高温（低温）的同时确保温度精准。

性能特点

1、温度精准，产品周边温度稳定控制在±3℃内

2、升降温速率快

3、可同时针对288pcs PCIe（&SATA 7+15)SSD模组进行老化测试

4、老化板独立可拔插替换式，方便更换与维护

5、预留MES系统对接接口

6、更換不同接口即可兼容生产不同SSD模组产品

7、单颗DUT独立电源设计，保护产品

设备规格

设备型号：FLA-6606HL

使用产品类别：PCIe、SATA、M.2、U.2 SSD模组

温度范围：-40℃~85℃

测试DUT数：288pcs

电源三相：380V

功率：30kV

尺寸：3350mm（长）*1450mm（深）*2300mm（高）

重量：600kg

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