【经验】国民技术32位通用MCU不带电排查GPIO电气特性的方法
本文简述在不带电情况下排查国民技术GPIO电气特性的方法。
如上图,以N32G45X系列用户手册所示GPIO端口基本结构为例,当I/O引脚电压比VSS低时,二极管导通。这样可以防止不正常电压引入芯片导致芯片烧毁,可是这种保护并不代表IO口在引入过载电压电流,如果出现上下电不规范、或者在其他静电等因素的影响下,起保护作用二极管不会被击穿。所以在遇到IO口不正常的情况下,需要对IO口的二极管特性做简单的电气排查。
测量方式如下:
一、首先测量VSS到PAD的二极管电压,正常情况下,测量出来的电压为二极管正常导通电压。若IO有fail safe功能,则二极管结果为OL(无穷大),否则二极管电压一般也为正常导通电压。将万用表拨至二极管测量档,检测IO引脚对地的二极管特性。红表笔接开发板GND脚,黑表笔接芯片IO口,若万用表显示为二极管导通电压,则为正常。
二、测量IO引脚对VDD二极管特性:红表笔接芯片IO口,黑表笔接芯片VDD,正常电压应为二极管导通电压;需要注意的是,如果该IO口具有failsafe(防倒灌)功能,则测量IO口对VDD二极管特性时,正常电压应为OL(无穷大);查阅数据手册可知(例PE2-PE6)具有failsafe功能。
综上所述,以上是使用国民技术32位通用MCU进行不带电电气特性测量的步骤。主要应用了芯片内部集成的二极管特性来检测芯片管脚状态。在不同的状态下(IO输出高(1)低(0)电平,若IO引脚输出状态与编程需求不一致,可以采用以上方法进行断电检测是否芯片引脚异常,从硬件部分作为入口推断异常问题,从而减少实验变量,快速定位异常部分。
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