【经验】如何快速测试EFR32FG Soc射频芯片的发射功率？

时间： 2018-08-30 来源：世强

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SILICON LABS推出的EFR32FG系列Soc射频芯片以其低功耗、高性能广泛应用于物联网、智能家居和可穿戴腕带和智能手表等市场。当硬件设计者完成硬件制作后，如何通过频谱仪测试射频特性呢？

本文将介绍如何利用Silicon Labs提供的demo软件快速搭建测试EFR32FG系列Soc射频芯片的无线指标，文中将以Soc射频芯片EFR32FG14为例，其它型号的芯片可参考使用。

首先打开已经安装好的Simplicity Studio, 基于Silicon Labs提供的SDK demo新建测试软件工程，步骤如下：

第一步：打开Debug下面的J-Link连接的目标板，选择Flex SDK里面的demo工程，选择RAILTEST项目并双击，选择“Yes”生成目标代码如图1所示。

图1：新建RAILTEST工程

第二步：选择Radio Configuration选型卡，填写无线中心频点、匹配晶振参数和调制方式等射频参数如图2所示，点击“Generate”生成Radio配置参数文件并保存。

图2：设置射频参数并生成配置文件

第三步：点击Simplicity Studio工具栏图标编译整个工程，等待编译完成。

第四步：打开编译好的Binaries，选择“railtest_efr32.hex”并点击右键，在下拉菜单中选择“Flash to Device”，然后点击“Erase”擦除Flash和“Program”下载程序。

图3：烧录hex文件到Soc

第五步：查看J-Link虚拟串口，通过串口工具下发指令操作目标设备EFR32FG。测试EFR32FG的发射功率和中心频点，需要将EFR32FG发射连续的单载波，如图4所示，先在串口中发送“Rx 0”指令关闭接收状态，然后发送“SetTxTone 1”指令发射连续的单载波。

图4：通过串口操制Soc工作

测试结果如图5所示。

图5：发射连续单载波及测试结果

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FENT Lv8. 研究员 2019-09-25

学习
Clarence Lv8. 研究员 2018-10-29

学习
tn619 Lv8. 研究员 2018-09-10

学习
用户18594168 Lv6. 高级专家 2018-08-30

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守猪待兔 Lv7. 资深专家 2018-08-30

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