振荡电路评估(二):振荡裕度(负阻抗)的评估方法

2016-07-25 Epson
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为了获得稳定的振荡,通常情况下石英晶体单元与振荡电路的匹配十分重要。若电路结构与晶体单元的匹配中存在问题,就会产生频率不够稳定、停止起振或振荡不稳定等问题。石英晶体单元与微机一起使用时需要评估振荡电路。确认该石英晶体单元与振荡电路的匹配之际,至少要对振荡频率(频率匹配)、振荡裕度(负阻抗)和激励功率等三项进行评估。我们在上篇中已经说明了有关频率匹配的内容,这次将解说振荡裕度(负阻抗)的评估方法。

在石英晶体单元的 HOT 端子插入阻抗后检测是否起振(测试负阻抗 RN),是评估振荡电路的负阻抗特性与振荡裕度的简单方法。振荡电路的能力可以通过改变插入的阻抗值(损失的大小)进行测试。
图 1 是测试负阻抗的电路图。负阻抗的绝对值等于所插入的阻抗值 r 和石英晶体单元连接负载时的等效阻抗(Re)之和。| RN |= 插入阻抗r+Re…算式(1)


图1:测试负阻抗的电路图


石英晶体单元连接负载时的等效阻抗(Re)用以下算式(2)求出。R1 是石英晶体单元无负载电容时的等效串联阻抗。


Re=R1  × [1+ C 0 /CL]^2…算式(2)

使用在上次《振荡电路评估(一)》中所介绍的石英晶体单元常数(R1=33.7Ω、C0=1.11pF、CL=7.8pF),代入上述算式(2)后可算出等效阻抗(Re)为 44Ω。


这时的 R1 是石英晶体单元的实测值,而不是参数值。假设 R1 的最大值是 57Ω,Re 受负载电容的影响而增加到 74Ω,请注意。


插入阻抗测试负阻抗的情景

图 2:插入阻抗测试负阻抗的情景


表 1:基于负阻抗计算振荡裕度(RN/Re)之例


在图 2 的状态下用示波器确认波形。逐渐增大插入的阻抗值 r,寻找不起振的阻抗点。这时忽略因插入阻抗而引起的振荡输出下降和振荡频率的变化,只单纯判定是否起振。


决定负阻抗 RN 之后,计算振荡裕度 RN/Re(如表 1)。


需要注意的是振荡裕度低将引发各种不良现象,例如因电路特性不均而造成的振荡不稳定、不起振或起振时间变长等。


振荡裕度为  5  倍以上时,意味着振荡电路具备激励石英晶体单元的足够能力(增幅度),通常不会发生问题。如果振荡裕度在 5 倍以下,则建议变更振荡电路的电路常数,或者增大负阻抗 RN,或者减小石英晶体单元的等效串联阻抗 Re,使振荡裕度保持在 5 倍以上。


虽然降低微调电容器(Cg、Cd)或限流电阻(Rd)等振荡电路的电路常数可使负阻抗变大,振荡裕度也将随之变大,但需要提醒的是,振荡电路的负载电容随着电路常数的变化而变,这将促使振荡频率也出现变化。欲降低石英晶体单元的等效串联电阻 R1 时,需要向石英晶体生产商提出要求。

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