【产品】专为无线晶片测试设计的的3240-Q自动分类机,配置多达八个测试站点和独立的隔离作平行测试
CHROMA的3240-Q是一台独特且创新、整合了射频和无线隔离室的自动分类机。此机台配置多达八个测试站点和独立的隔离作平行测试。 3240-Q具有顺畅的自动化测试,、精确的Pick & Place技术、弹性的多测点架构、高产能和低Jam Rate等优势,适用于射频和无线晶片测试。
3240-Q也可依据测试需求支持各种不同类型封装的晶片。具有自动送料/分料盘设计, 3240-Q适用于JEDEC和EIA料盘规范。另有选配的加强温控的测试能力, 可提供高达150℃之高温测试环境。
3240-Q无线射频分类机的主要特色:
· 符合成本效益的RF整合方案
· 客制RF隔离室和整合Tester安装
· 可调整测试间距至120mm
· 具有八个平行测试站点
· 支持的晶片尺寸从 3×3 mm 到45×45 mm
· 精确的定位能力
· 支援JEDEC和EIA料盘
- |
- +1 赞 0
- 收藏
- 评论 8
本文由宝丁转载自Chroma,原文标题为:无线射频分类机 Model 3240-Q,本站所有转载文章系出于传递更多信息之目的,且明确注明来源,不希望被转载的媒体或个人可与我们联系,我们将立即进行删除处理。
评论
全部评论(8)
-
yichun417 Lv7. 资深专家 2020-04-02学习了
-
兵荒马乱的小青春 Lv6. 高级专家 2020-03-16已学习
-
梦幻天涯 Lv7. 资深专家 2019-11-25学习了。
-
crystal529 Lv5. 技术专家 2019-11-19学习了
-
铭铭 Lv4. 资深工程师 2019-11-14学习了
-
test Lv4. 资深工程师 2019-10-30谢谢,学习
-
有容乃大 Lv9. 科学家 2019-10-05学习了
-
119 Lv7. 资深专家 2019-09-23学习
相关推荐
【产品】适用于FT测试的三温测试分类机3110-FT,的可设定温度范围-40℃~125℃
3110-FT为Chroma全新开发的适用于Final test工程产品特性及测试开发用途之Pick&Place测试分类机。3110-FT支持多种晶片测试,可支持的晶片尺寸从3×3mm到45×45mm。 配有2个自动分料盘及2个手动分料盘,在仅1.4 m2的空间发挥最佳的IC分料能力以节省成本与时间。
【产品】半导体测试方案:全方位高精度、高效能SoC测试系统/ATE自动测试系统/Pick & Place 测试分类机
Chroma提供半导体测试方案:3680全方位高精度/高效能SoC测试系统、 3380 经济且弹性极高之ATE自动测试系统、33010 PXIe 架构之自动测试系统(ATE)和3110S 双用型单测头的 Pick & Place 测试分类机。
【产品】整合SD卡测试机与自动分类机功能的Test-In-Tray测试分类机3280
Chroma 3280采用创新的技术整合SD卡测试机与自动分类机的功能,为所有的SD卡类产品带来了一个创新的测试方法,而这高效率的测试方法也为客户带来大幅降低生产成本的好处。此外,小机台的设计(164cm×9cm×180cm)更可节省机台于测试厂之占地面积。
無線射頻分類機 RF SOLUTION INTEGRATED HANDLER MODEL 3240-Q
描述- 该资料介绍了无线射频分类机3240-Q的特点和应用。它是一款集成了射频和无线隔离室的自动分类机,具备多个测试站点、精确的定位能力和多种封装尺寸支持。此外,还提供了高温测试选项。
型号- MODEL 3240-Q,3240-Q
晶圆/晶片/封装 半导体IC测试解决方案
描述- 致茂電子提供全面的半導體測試解決方案,包括ATE測試系統、IC分選機、PXI/PXIe測試平台等。其產品涵蓋消費型晶片、電源管理晶片、射頻晶片等各類應用,並提供溫度控制、特殊產品處理等自動化分選技術。此外,還提供CIS整合解決方案和系統功能測試分類機,以降低成本並提高品質。
型号- 3180,A330101,3680,33010,3380D,3160F,36020,3160A,3240,3160C,3260,3380,3160,3110-FT,3380P,3650-CX,3650-EX,3650,7710,3112,3111,3110,36010,A360101,3270,3240Q,54100,3240-Q
半导体测试解决方案 晶圆/芯片/封装
型号- MODEL 3110,MODEL 3110-FT,MODEL 7710,54100 SERIES,3180,MODEL 3111,A330101,3680,3200,33010,3380D,MODEL 33010,3260,3380,MODEL 33011,33011,3110-FT,MODEL 3180-CS,3160-C,3160-A,3380P,MODEL 3650-S2,MODEL 33020,3180-CS,MODEL 3160-A,MODEL 3200,MODEL 3160-C,MODEL 3260,MODEL 3680,7710,33020,33021,3111,3210,3650-S2,3110,3380-P,MODEL 3380-P,MODEL 33021,3270,54100,MODEL 3380-D,MODEL 3180,MODEL 3380,3380-D,3240-Q
【产品】尺寸为600mm×565mm×800mm的桌上型单站测试分类机3111
Chroma的3111迷你桌上型单站的自动化测试分类机适用于系统功能检测,也同时具备终端电性测试的能力,支持的晶片尺寸从5×5mm到45×45mm。3111具备远端功能,可于任何地点透过网络连接方式进行控制,可用软件设定JEDEC料盘的分配以及进行工程测试。
【产品】适用于终端测试或系统功能测试的3110双用单站测试分类机,支持各种不同类型封装的晶片
Chroma的3110双用单站测试分类机运用Pick&Place技术,将待测晶片由进料舱移至测试区,再依测试结果进行分类;支持的晶片尺寸从3×3mm到55×55mm,配备有自动进出料分类舱及手动分类盘,可最优化工程测试的实验数量;是理想的产品工程或研发实验设备机,可自动搜集与分析测试、实验结果的数据。
MODEL 3111 桌上型单站测试分类机 TABLETOP SINGLE SITE TEST HANDLER
描述- Chroma 3111是一款适用于系统功能检测(SLT)的桌面型单站测试分类机。它具有紧凑的设计,适合节省空间的环境,支持多种芯片尺寸,并具备远程控制和自动化测试能力。
型号- 3111,MODEL 3111
MODEL 3180 八站逻辑测试分类机 OCTAL-SITE FINAL TEST HANDLER
描述- 该资料介绍了Chroma ATE公司生产的OCTAL-SITE FINAL TEST HANDLER MODEL 3180测试机。这款机器采用Pick & Place技术,适用于高产出多测试站点IC测试,支持多种封装类型的芯片,并具备高温测试能力。它具有八个平行测试站点,低故障率(1/10000),并提供自动重测和良率控制功能。
型号- 3180,MODEL 3180
MODEL 3240-Q 无线射频分类机
描述- 该资料介绍了Model 3240-Q射频测试机的特点和规格。它是一款集成了射频和无线功能的自动化测试设备,适用于多种类型的芯片封装测试。该机台具备多个测试站点,支持不同尺寸的芯片,并提供了精确的定位能力和高温测试选项。
型号- MODEL 3240-Q,3240-Q
MODEL 3110-FT 三温测试分类机
描述- 本资料介绍了Chroma 3110-FS三温测试分类机,这是一款适用于IC终端测试的设备。该设备具备广泛的温度范围(-40℃至125℃)、支持多种芯片尺寸(3x3 mm至45x45 mm),并集成了Chroma混合型冰水机和TEC制冷晶体管温度控制功能。它还提供了远程监控和控制、自动重测功能和即时监控产品分类等功能。
型号- MODEL 3110-FT,3110-FT
【产品】可自动云集与分析测试的双用单站测试分类机3110,专应用于终端测试或系統功能测试
Chroma推出的3110 是一台双用单站的 Pick & Place 测试分类 机,支援各种不同类型封装的晶片,如BGA, μBGA, QFP 系列, QFN, Flip-Chip, TSOP等。此分 类机运用 Pick & Place 技术, 将待测晶片由进料舱 移至测试区,再依测试结果进行分类。3110 不 但适用于系统功能检测,也同时具备终端电性测 试的能力。
MODEL 3111 桌上型单站测试分类机
描述- Chroma 3111是一款适用于系统功能检测(SLT)的迷你桌上型单站测试分类机。它具有紧凑的设计,适合节省空间的环境,支持多种芯片尺寸,并具备远程控制和自动化测试能力。
型号- 3111,MODEL 3111
MODEL 3260 自动化系统功能测试机
描述- Chroma 3260是一款高速Pick&Place分类机和自动化系统功能测试机,具备处理QFP能力,无测试座损坏问题。它采用同步吸嘴双取及双放设计,浮动头可有效率测测试压力,并具有IC残留检测功能。该设备适用于多种封装类型,包括传统QFP、TQFP、µBGA、PGA及CSP封装。
型号- MODEL 3260,3260
电子商城
服务
支持 3Hz ~ 26.5GHz射频信号中心频率测试;9kHz ~ 3GHz频率范围内Wi-SUN、lora、zigbee、ble和Sub-G 灵敏度测量与测试,天线阻抗测量与匹配电路调试服务。支持到场/视频直播测试,资深专家全程指导。
实验室地址: 深圳/苏州 提交需求>
支持GSM / GPRS 等多种制式产品的射频测试,覆盖所有上行和下行的各项射频指标,包括频差、相差、调制、功率、功控、包络、邻道泄漏比、频谱、杂散、灵敏度、同道干扰、邻道干扰、互调、阻塞等等。满足CE / FCC / IC / TELEC等主流认证的射频测试需求。
实验室地址: 深圳 提交需求>
登录 | 立即注册
提交评论