【选型】最大抖动仅为1ps的高频晶振Si590用于PAM4误码仪设计，保证光模块的测试参数准确性

时间： 2021-08-14 来源：世强

技术问答

随着5G时代的来临，200G、400G光模块快速发展，很多光模块厂家为了降低PAM4光模块所带来的设备成本、生产成本，开始自己设计开发能测试400G光模块的PAM4误码测试仪器。此类PAM4误码测试仪器需支持从1.25Gbps至56.25Gbps的各种环境的绝大部分常用速率测试点，支持NRZ和PAM4的码型的输出，因此误码仪必须具备极高稳定性、极高的精准性，以此达到高性能测试需求，以确保光模块的可靠性，这就要求误码仪在设计选型阶段，对物料性能要有严格的把控。

在PAM4误码仪的时钟器件选型时，抖动成为最为关键的指标之一，而SILICON LABS的高频晶振 SI590能很好的满足设计要求，该产品是一款最大抖动仅为1ps的高频率低抖动的晶振。采用高级DSPLL®电路，支持10到810兆赫的任何频率，并且在高频下实现了低抖动的时钟，相比起传统的基于SAW的晶振，Si590具有更好的稳定性，可以极大地提高误码仪的稳定性。

可编程高频晶振Si590主要特点：

• 极低的抖动性能:最大仅1 ps rms

• 10-810MHz任意输出频率

• 工业级工作温度范围：-40~+85℃

• 提供CMOS、LVPECL、LVDS和CML输出

• 可工作在3.2、2.5和1.8V供给电压下

• 符合行业标准的引脚和5 x 7mm封装

• 比基于SAW的晶振具有更高的频率稳定性

这款晶振可以的很大提高误码仪测试系统的稳定性以及测试性能，减小与国外设备的测试误差，保证光模块的测试参数准确性。

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