【选型】最大抖动仅为1ps的高频晶振Si590用于PAM4误码仪设计,保证光模块的测试参数准确性

2021-08-14 世强
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随着5G时代的来临,200G、400G光模块快速发展,很多光模块厂家为了降低PAM4光模块所带来的设备成本、生产成本,开始自己设计开发能测试400G光模块的PAM4误码测试仪器。此类PAM4误码测试仪器需支持从1.25Gbps至56.25Gbps的各种环境的绝大部分常用速率测试点,支持NRZ和PAM4的码型的输出,因此误码仪必须具备极高稳定性、极高的精准性,以此达到高性能测试需求,以确保光模块的可靠性,这就要求误码仪在设计选型阶段,对物料性能要有严格的把控。


在PAM4误码仪的时钟器件选型时,抖动成为最为关键的指标之一,而SILICON LABS的高频晶振SI590能很好的满足设计要求,该产品是一款最大抖动仅为1ps的高频率低抖动的晶振。采用高级DSPLL®电路,支持10到810兆赫的任何频率,并且在高频下实现了低抖动的时钟,相比起传统的基于SAW的晶振,Si590具有更好的稳定性,可以极大地提高误码仪的稳定性。

可编程高频晶振Si590主要特点:

• 极低的抖动性能:最大仅1 ps rms

• 10-810MHz任意输出频率

• 工业级工作温度范围:-40~+85℃

• 提供CMOS、LVPECL、LVDS和CML输出

• 可工作在3.2、2.5和1.8V供给电压下

• 符合行业标准的引脚和5 x 7mm封装

• 比基于SAW的晶振具有更高的频率稳定性


这款晶振可以的很大提高误码仪测试系统的稳定性以及测试性能,减小与国外设备的测试误差,保证光模块的测试参数准确性。

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