【经验】Silicon Labs 32位MCU EFM32在静电测试时的故障排查
SILICON LABS 32位MCU EFM32 在静电测试时的故障排查。
EFM32系列32位MCU基于ARM的Cortex-M0+,Cortex-M3,Cortex-M4内核。芯片集成有低功耗的模拟外设和数字外设，还可工作在多种功耗模式下，是超低功耗应用的理想选择。
一般客户做的产品在测试时都要做一下抗静电测试，但我们知道芯片一般是无法达到8KV以上的静电指标的，所以我们要在外围电路上加一些ESD保护器件以达到最好的抗静电效果，但在电路板的哪些位置加ESD保护器件也是工程师非常关心的事情。
在做静电测试时可能会引起芯片的复位或死机，在测试时要区别对待，对于死机的情况，通常我们可以将静电等级降低，直到出现复位为止。出现复位后我们可以通过芯片的复位源寄存器来查找复位的原因，再通过复位的原因考虑如何对电路进行修改。
以EFM32PG芯片为例，芯片内部有复位管理单元（RMU）,这个单元中有一个寄存器是复位原因寄存器（RMU_RSTCAUSE），复位源如下图：
由于在静电测试时，EFM32PG是已经上电的，所以POWER ON RESET可以不用考虑，软件复位一般也不用考虑，我们重点关注AVDD,DVDD,DEC这些电源引脚及复位脚引起的复位，通过这些复位原因，我们再考虑对外部的电路如何修改。另外，也需要在做静电测试时，对产品外壳不同位置做测试，观察产品的工作情况，分析可能是哪些外围电路易受到干扰。
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