伽蓝特基于6轴探针台的硅光芯片测试方案，可为硅光技术研究及产业化提供支持

时间： 2021-10-20 来源：伽蓝特

在刚结束的第二十三届中国国际光电博览会（CIOE），硅光技术依然是行业人士关注的焦点。伽蓝特基于6轴半自动探针台打造的硅光芯片测试方案，可为硅光技术研究及产业化提供支持。

探针台配备了6轴位移台、DC探针、RF探针、光纤FA夹具、UV固化灯和点胶头，满足器件测试和光纤耦合封装需求。

硅光芯片与FA光纤耦合时，采用传统的光纤对准方法很难达到理想的插损要求，硅光探针台的自动位移轴分辨率可达50nm，结合耦合软件轴向扫描和区域扫描算法，可达到较高的速度和可靠性。

光芯片测试平台集成了扫描光源、偏振控制器、高速光功率计、光开关、误码测试仪、采样示波器、矢量网络分析仪等仪器，可测试光学性能相关指标，包括光谱、插入损耗、LIV曲线、光眼图、S参数等。

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