【产品】可自动云集与分析测试的双用单站测试分类机3110,专应用于终端测试或系統功能测试
CHROMA推出的3110 是一台双用单站的 Pick & Place 测试分类 机,支援各种不同类型封装的晶片,如BGA, μBGA, QFP
系列, QFN, Flip-Chip, TSOP等。此分 类机运用 Pick & Place 技术, 将待测晶片由进料舱
移至测试区,再依测试结果进行分类。3110 不 但适用于系统功能检测,也同时具备终端电性测 试的能力。可综合各元件的整体效能并执行测试
系统上的所有测试程式,旨在提供一个全能的解决方案。
图1 3110双用单站测试分类机产品图
支援的晶片尺寸从 3x3mm 到 55x55mm,配备有 自动进出料分类舱及手动分类盘,可最优化工程 测试的实验数量。简易操作的操控画面,及适配 性高的testers连接介面,大幅提升机台的使用率 及共用性。除此之外,它能针对不同的测试环境 条件,提供数个温控系统的选择,如三温控制系统、高功率冷却系统等,测试的环境温度可设置 于常温、高温或低温。
3110双用单站测试分类机的主要特色:
双用单站测试分类机
应用于终端测试或系統功能测试
自动进料出料仓的配置及依测试結果自动分类的功能
测头內建气室,可吸收及减缓下压触力的冲击
智能型的载盘IC残留侦测
可选配的三温控制系統 (Standard: -40℃ ~ 135℃, Option: -55℃ ~ 150℃)
可选配的高功率冷却系統
理想的产品工程或研发实验设备机,可自动云集与分析测试、实验結果的数据
温控解决方案
三温变温控制
温度精度:±2℃
器件温度反馈(热电偶/ RTD /热敏电阻)
PID斜坡控制(具有自动调节功能)
PWM TE功率控制
模具力控制
模块化干燥空气室
水冷装置
干燥空气发生器
主动热控模组 (ATC)
温度精度:±2℃
测试臂一体化
设备温度反馈
PID斜坡控制(具有自动调节功能)
PWM TE功率控制
模具力控制
闭环冷却系统(无外部管道)
腔体少
高解热温控模组 (PTC)
温度范围:<85℃(功耗高达300W)
闭环冷却系统(无外部管道)
测试臂一体化
模具力控制
既无冷水机也没有干燥空气发生器
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hghee Lv8. 研究员 2019-12-24支持一个
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crystal529 Lv5. 技术专家 2019-11-19学习了
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119 Lv7. 资深专家 2019-07-17学习
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型号- 3260C,MODEL 3260C
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型号- 62000H-S,62180H-1800S,MODEL 63600,190XX,63600,61500,62009L-30-5,62系列,63系列,63630-80-60,66系列,63610-80-20,MODEL 62000P,63640-80-80,61系列,MODEL 61500 SERIES,63600系列,62000L,636XX(功率)-XX(电压)-XX(电流),MODEL 87001,631XXA,633XXA,63630-600-15,62015L-60-6,A620034,62045L-60-7,MODEL 2238,62010L-36-7,MODEL 63600 SERIES,6310A,190XX系列,MODEL 7600A,MODEL 61500
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【产品】适用于终端测试或系统功能测试的3110双用单站测试分类机,支持各种不同类型封装的晶片
Chroma的3110双用单站测试分类机运用Pick&Place技术,将待测晶片由进料舱移至测试区,再依测试结果进行分类;支持的晶片尺寸从3×3mm到55×55mm,配备有自动进出料分类舱及手动分类盘,可最优化工程测试的实验数量;是理想的产品工程或研发实验设备机,可自动搜集与分析测试、实验结果的数据。
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使用FloTHERM和Smart CFD软件,提供前期热仿真模拟、结构设计调整建议、中期样品测试和后期生产供应的一站式服务,热仿真技术团队专业指导。
实验室地址: 深圳 提交需求>
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实验室地址: 深圳/苏州 提交需求>
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