【经验】EPC eGaN FET和eGaN IC PCB封装设计指南
EPC晶圆级芯片规模的封装,如图1所示的LGA和BGA封装,已经在功率转换方面将性能提升了一个新水平。这些部件中许多都使用低至400μm的细间距,这就意味着一个良好的PCB封装设计对于GaN器件的一致性和可靠性是很重要的。本文是根据数据手册为EPC器件设计正确封装的指导原则——以EPC2016C和EPC2045为例,分别从LGA和BGA封装来完成介绍,其中涉及的铜层紧贴在器件,阻焊开窗,适当的丝网层和锡膏之下。
需要注意的是,EPC建议使用防焊限定(SMD)焊盘而不是非防焊限定(NSMD)焊盘。SMD封装方式电感值更低,并能够改善回流焊中的对齐性;NSMD封装方式在回流焊过程中有较高的错位率,从而导致了铜皮的有效接触面积,进而降低了焊点质量和器件的载流能力。
铜焊盘和阻焊层设计
在每个EPC器件手册中都能找到定义了阻焊层的完整SMD设计,没有定义的是铜焊盘。良好的SMD焊盘设计要求在x和y方向上的物理尺寸都比较大,其中包括了制作过程中的公差,这将能解决阻焊层和铜皮之间的误差问题。EPC建议在使用其器件时采用±2mils或者±50μm的公差。对于阻焊层厚度,EPC建议采用的最大值为25um。
建议的阻焊层开窗可能只由PCB厂商根据自己的具体工艺进行调整,但是最终结果必须和手册中的建议保持一致。推荐铜添加值可以在接下来几页的图表中找到。
EPC2016C LGA例:
手册中展示了一个LGA封装的焊盘,大小为1362um*180μm
±45um的单向公差=90μm总公差
铜焊盘最小设计=1453*270μm
图2 接地焊盘对比:NSMD(不建议)和SMD(建议)
EPC2045 BGA实例:
手册中展示的BGA封装焊盘设计直径为230um
±50um的单向公差=100um总公差
铜焊盘最小尺寸=230+100=330um
同一节点的铜焊盘可以保持一致
丝印层开放设计
EPC器件的丝印层设计有以下两个目的:
1)冲模定位位置和方向;
2)冲模限位位置要求丝印层满足铜层建议公差值。
EPC建议丝印层设计应该包含:
4角的限制表示标注器件形状
用窄虚线画的框线
一个标识符对应一个引脚
建议丝印层的模板设计如图3、4所示。
图3 丝印设计对比开路(建议),封闭(不建议)
图4 合适的丝印层设计
实线矩形框包围部分的设计,可以阻挡回流焊中的焊剂流出,可以在底部为其创建一个通路。用来除去焊剂和清洗PCB的冲洗过程也许不能完全的清理EPC器件增加树突形成的可能性。
表1 LGA封装器件推荐铜层尺寸
EPC2016C LGA实例
以下是手册中建议阻焊层开窗大小。阻焊层开窗如下图所示:
阻焊层厚度建议值25um(1mil)或者更少。
EPC2016C 铜接地焊盘
如表1,一个180um宽度的阻焊层开窗,铜接地焊盘应该扩展90um从而总尺寸达到270um。类似的,一个1362um长度的阻焊层开窗,铜接地焊盘应该扩展95um从而总长度达到1457um。不同电气节点之间的最小的铜皮空间应该在130um。铜接地焊盘大小如下图所示:
表2 BGA封装推荐铜层尺寸
EPC2045 BGA尺寸
以下是手册中阻焊层开窗建议大小。
阻焊层开窗如下图所示
建议阻焊层厚度在25um(1mil)或者更少。
EPC2045铜接地焊盘
如表2所示,一个阻焊层开窗大小为230um,其铜接地焊盘应该扩展90um从而总尺寸达到320um。铜接地焊盘大小如下图所示:
结论
本文成功设计一款EPC PCB封装提供了设计步骤和其它重要信息。好的封装将为工作在5V或者更高电压下的器件提供更高的成品率和可靠性。
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产品型号
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品类
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Configuration
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VDSmax(V)
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VGSmax(V)
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Max RDS(on) (mΩ)
@ 5 VGS
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QG typ(nC)
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QGS typ (nC)
|
QGD typ (nC)
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QOSS typ (nC)
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QRR(nC)
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CISS (pF)
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COSS (pF)
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CRSS (pF)
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ID(A)
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Pulsed ID (A)
|
Max TJ (°C)
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Package(mm)
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Launch Date
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EPC2040
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Enhancement Mode Power Transistor
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Single
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15
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6
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30
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0.745
|
0.23
|
0.14
|
0.42
|
0
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86
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67
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20
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3.4
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28
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150
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BGA 0.85 x 1.2
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Apr, 2017
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