源表=电源+数字表?一文看懂SMU源表
源表(Source Meter Unit, SMU)广泛用于半导体器件、材料、医疗、发光器件与光通信等行业,测量器件的伏安(I-V)特性曲线、绝缘材料的电阻值(电阻率)、电容的绝缘电阻(漏电流)、光电器件的暗电流或者L-I-V等。
源表的名称已经清晰的告诉我们,它包含了高精度电源输出和测量,但它仅仅是电源和万用表的简单拼凑吗?为了简要说明这个问题,我列出了源表的以下几个典型的应用场景:
✔在测量绝缘材料的电阻值(GΩ/TΩ)或二极管的反向漏电流时,通常给被测件DUT施加电压激励,并测量对应的电流;
✔在测量常规小电阻,或者驱动LED发光二极管时,通常给DUT施加电流激励,测量对应的电压值;
✔测量电容器、锂电池等具备储能特性器件时,会对其进行充放电的同时,连续记录电压和电流。
通常源表都具备电压源Vs、电流源Is、电流表IM、电压表VM四种功能,而且能够任意搭配激励源和测量功能,按照被测DUT特征选择对应的模式。如下图所示:
和直流电源称输出端子V+、V-不同,源表SMU通常将源的输出端子称为High Force、Lower Force。因此,源和测量的组合有:VFIM、VFVM、IFVM、IFIM(V/I激励F + V/I测量M)。
由电压和电流形成的直角坐标系中,按照电压V的正负和电流I的正负,可以得到下图 V/I的四个象限,大部分源表可以工作在任意的象限。
• DC直流电源 — 第一象限;
• DC直流电阻负载 — 第四象限;
• AC交流电源阻性负载 — 第一、三象限;
• FG函数发生器 — 第一、三象限。
通常源表SMU采用的都是施加恒定的直流电压,同时进行电流的测量。如绝缘材料高阻、电容器的绝缘电阻的测量等。
但很多被测件DUT的测量需要施加特定的激励波形,如二极管的IV特性测量,需要在指定的电压或电流范围内,逐点改变电压V或电流I的值,并测量出对应的I或V,画出曲线;在测量VSCEL、MOSFET等激励电流较大器件时,为避免器件特性变化甚至熔断,也通常会采用脉冲替代直流激励等;锂电池的交流内阻ACR测量,需要给电池注入特定频率和幅度的电流正弦波;
是德科技的B2900、M9600等系列源表,内置波形发生器功能,配合强大的触发机制、可轻松实现直流、脉冲、扫描以及任意自定义波形激励。
需要注意的是,源表SMU的脉冲电压和电流最小脉冲宽度、上升/下降沿的典型指标,以 B2900系列源表为例,可以到达10A/100uS级的电流脉冲、或210V/1mS级的电压脉冲;而M9603A PXI高速源表可以输出10A/10uS的电流脉冲。
源表的精度固然极高,但在脉冲激励或IV扫描时,如果不明确被测件的特性,就很有可能测量结果与真实值存在非常大的偏差。如下图所示,当测量点为蓝色圆圈●区域时,测量结果偏离实际响应点;
再看下图时,响应随机波动或存在噪声,需要增大测量积分时间消去波动或噪声影响。
因此,精确测量出被测件DUT在激励下的电压和电流响应波形是非常重要,然而借助传统示波器来观察源表测量领域的电压或电流波形,但由于示波器的分辨率、灵敏度、噪声等问题,这种努力往往徒劳!
B2900、M9600等系列源表内置采样速率高达15MSa/s的高分辨率数字化仪,灵活的源、测量触发机制,以及Quick IV 软件,可以轻松定制测量的起始位置和测量窗口长短。
以上介绍了源表SMU的功能单元,包括四象限的电压源或电流源,电压表或电流表,脉冲或任意波形发生器,精密电压和电流示波器,电压或电流扫描仪等。
二极管、三极管、光电传感器、MOS-FET等半导体器件或材料,由于介于绝缘体和导体的特性,电流范围非常大,固定的一个量程不可能覆盖。许多的源表SMU具备自动量程功能,源表会依据被测信号的大小自动改变其量程,以覆盖超大的量程挑战。最新上市的M9603A与M9615A PXI SMU源表,更是采用了专利的“无缝量程切换”技术,进一步节省量程切换时间以及由于量程切换带来的信号影响。
多通道源表应用也非常的典型,是德科技提供单/双通道台式源表B2900,M9600 PXI源表模块配合M9018B(18插槽机箱)搭建高达85通道源表系统,或者B1500半导体参数分析,最多支持10个模块。
最后,除了上述硬件性能的差异,软件对很多工程师来说也非常重要,如半导体器件测试时,您是否希望使用与国际最顶尖的芯片设计公司是一样的软件平台?
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Quick IV Measurement Software 软件,操作简单、图形清晰,支持一键式I-V伏安特性扫描等,支持B2900系列台式源表和M9600 PXI 模块化SMU。
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