【选型】光模块误码仪时钟源推荐高性能时钟发生器SI5340配合京瓷晶振CX3225SB，精度极高
误码仪设备是一种在通信系统中对误码率进行测试分析，并具有仿真功能的仪器，光模块中有大量的误码仪在配合使用，用于不同速率的光模块出厂前或者后期验证功能、问题的测试。传统的误码仪主要是针对NRZ应用的误码仪，随着最新PAM4光模块的大量出货，目前有多种支持多通道PAM4/NRZ可选多功能测试误码仪设备已经被设计推广。
因为误码设备本身需要测试不同速率的光模块，针对不同速率的光模块还需要不同的频率源作为倍频的信号时钟源。时钟源的好坏会特别是其相噪特性和精度会影响后级测试结果，因此必须使用高性能的时钟发生器。高性能的时钟发生器一般会选择SILICON LABS的高性能时钟发生器SI5340系列，输出抖动（时域指标，相噪是频域指标）可以达到90fs（12kHz~20MHz），但其精度完全取决于输入的参考晶振。要想为后级光路跟踪、CDR、DSP等提供高质量的时钟输出，必须选用一款相噪和精度指标都非常高的晶振产品。
SI5340规定输入如果选择晶体输入，要满足如下需求：第一，必须是24.97MHz~54.06MHz范围内的晶体，基于一般的设计，选择48MHz/54MHz的晶体性能最好，另外由于用户使用SI5340输出的频点与参考晶体频率的倍频关系，尽量选择整数分频器（尽管SI5340小数分频也支持）来获得最佳的抖动性能，因此选择48MHz的频率晶体；第二，必须选择负载电容为8 pF的晶体产品，因为SI5340将负载电容及振荡电路设置在芯片内部，固定了负载电容的选项；第三，是频率精度必须足够低，这里选择±15 ppm精度指标的无源晶体，SI5340内部已经考虑到布线等因素的对地电容；第四，尺寸不能太大，3225封装最好（客户是便携式误码测试设备，设备本身PCB不大）。
根据这些特性，我们建议选用京瓷的CX3225SB系列晶振CX3225SB48000D0FPJC1，其输出为48MHz，3225封装，精度为±15 ppm，负载电容为8 pF，激励功率为10 μW，完全满足设计需求，另外该系列型号已经在其它Silicon Labs的时钟产品成熟应用，经过了大量市场验证，可放心使用。
图1 误码仪时钟源框图
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