达晶微电子针对高频感应加热领域应用的IGBT模块，耐压及动态特性部分参数性能优秀
CREATEK达晶微电子有限公司推出针对高频感应加热领域的系列模块，包括1200V50A~1200V100A半桥34mm模块，1200V100A~1200V300A半桥62mm模块和1200V400A/600A单颗62mm IGBT模块。经过长时间的市场检验，我司产品已广泛应用于管道加热、商用电磁炉和表面淬火等多种感应加热领域。
下面是针对CREATEK GPU200HF120D2产品与友商产品的对比测试结果，友商产品模块在感应加热领域具有广泛的应用，内部芯片采用IGBT第二代技术NPT技术，具有开关速度快，可靠性高的特点，尤其适合表面淬火的应用。我司产品采用与友商产品同种技术，做到了各项参数的完美匹配，部分参数性能优秀。
产品信息：
GPU200HF120D2：达晶 U-D2系列1200V200A产品
友商产品1200V200A产品
对比测试：
1、静态对比测试结果
结果说明：
1）静态对比达晶产品耐压（BVCES）在1400V以上，友商产品为1346V。达晶产品具有更高的耐压。
2）达晶微产品的导通压降（VCESAT）与友商产品基本一致。
2、电容、Rg对比测试结果
结果说明：
1） 电容与栅极电阻是器件的重要参数，在IGBT应用时外围电路需要根据选型的IGBT器件进行匹配性设计。
3、 动态对比测试结果：
测试条件：VDD=600V,IC=200A,Rg=10Ω，L=500μH，VGE=+15/-15V
结果说明：
1） IGBT作为开关器件，动态参数是最重要的指标，主要包括开通的延迟时间（tdon）和上升时间（tr），关断的延迟时间（tdoff）和下降时间（tf），开通损耗（Eon）和关断损耗（Eoff）。
2） 达晶微产品的开通和关断损耗均低于友商产品。达晶产品可以工作在不低于友商产品的开关频率下。
4、动态测试波形对比：
结果说明：
1） 前面列出了动态测试的相关数据指标，但是对器件应用中，动态测试过冲中开通和关断的波形极其重要，电流和电压波形如果出现震荡会带来可靠性的风险。
2） 达晶微产品与友商产品波形极其相似，但是从参数上我们可以看出达晶产品具有更低的开关损耗。
5、 短路测试波形对比
测试目的：高压情况下将器件短路，考验器件在短时间内承受高压大电流冲击的能力。
测试条件：VDD=600V，VGE=+15V /-15V，Rg=10Ω，ts=10μs
（黄色为电流IC，红色为电压VDD，蓝色为栅极驱动电压VGE）
结果说明：
1） 达晶产品短路电流略高于友商产品。但是总体短路波形震荡情况差异不大。
2） 经过极限测试时间测试，在该测试条件下两器件的短路时间均可达到50μs以上。
总体而言，达晶产品具有与友商产品基本一致的静态特性，而达晶微产品具有更优的动态特性，这在客户应用中会有更高的效率，各项参数评估符合市场需求，经过客户一年多的批量验证，满足市场的需求，尤其在表面淬火领域。
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