向创新致敬，从实测出发，是德科技邀行业内企业共同探讨新技术的变革与挑战

5G/6G、AI、自动驾驶、卫星通信……

新技术浪潮正在来临！

您，是否做好准备？

为与合作伙伴共同推动产业创新升级，是德科技在10月17日13:30-17:30，在西安君悦酒店举办“新技术方案研讨会”，邀请行业内企业共同探讨新技术的变革与挑战。

本次会议将分为两个平行分论坛

在君府1厅将举办“分论坛1：前沿技术探讨”，聚焦下一代技术变革，向创新致敬，分享5G/6G、芯片、新能源汽车自动驾驶领域的最新洞察与实践案例；

在君府2厅将举办“分论坛2：射频测试新品应用论坛”，聚焦是德科技的新产品新方案，从实测出发，分享公司最新的N5186A MXG 矢量信号发生器、E5081A ENA-X矢量网络分析仪、VXG/UXA等产品在功放、相控阵天线、宽带卫星等测试场景下带来的更完美的精度和效率。

参与本次研讨会，您将与资深工程师面对面，共同探讨行业最炙手可热的RedCap、NTN、算力芯片、第三代半导体、自动驾驶、Wi-Fi 7等前瞻技术议题，同时，是德科技全系列新产品方案也将与您见面，您可以亲自“上手”体验是德科技最新Demo。

分会场1：

时间：2023年10月17日 下午13:30-17:30

地点：西安君悦酒店，3M层 君府1厅

时间：13:30-13:40 

议题：欢迎致辞

时间：13:40-14:10

议题：5G前瞻，赋能6G：从RedCap到NTN 测试技术方案

演讲人：是德科技无线应用技术支持经理，顾宏亮

简介：5G R17标准冻结之后，产业带来新技术与挑战，其中非常具有代表性的两种技术RedCap和NTN的发展给行业带来新活力，而这些新技术的发展也将为6G未来发展赋能，本议题将全面介绍5G R17测试技术方案，重点包括RedCap、NTN协议更新，行业发展及测试挑战，及最新测试方案解读。

时间：14:10-14:40

议题：算力芯片与关键技术：PCIe/CXL与DDR测试概览

演讲人：是德科技高级技术方案工程师，陆秋捷

简介：ChatGPT带来的AIGC浪潮，对算力的要求与日俱增，将多芯片或加速卡通过高速总线互联是提升算力的有效方式，本议题将探讨算力芯片的互联与存储的相关测试技术，包括PCIe 5.0/6.0，CXL/UCIe，DDR/LPDDR。

时间：14:40-15:10

议题：从静态到动态：全面评估功率半导体

演讲人：是德科技应用工程师，马加加

简介：半导体元器件是构成现代电子设备和系统的基础，其性能的好坏、稳定性的高低直接影响到电子设备的性能和可靠性，本议题将重点介绍功率半导体参数静态与动态测试。

时间：15:10-15:30

议题：茶歇

时间：15:30-16:00

议题：解决里程焦虑：新能源汽车大功率快充测试方案

简介：随着新能源汽车大功率快充的发展，一直掣肘行业发展的里程焦虑有望被解决。新能源汽车大功率快充测试有哪些难点？我们又将如何解决？本次议题我们将为您系统性解读新能源大功率快充技术。

时间：16:00-16:30

议题：解读车联网关键技术：C-V2X测试挑战与方案

演讲人：是德科技无线解决方案工程师，马超

简介：智能网联汽车时代，汽车成为移动的智能终端，而将汽车与道路、人、其它汽车进行通信的车联网技术成为实现智能网联的关键。目前，以C-V2X为代表的车联网技术正迎来发展的窗口期，本次议题将全面介绍C-V2X等车联网技术的标准演进、行业发展、测试挑战与解决方案。

时间：16:30-17:00

议题：从Wi-Fi 6 到 Wi-Fi 7：全新信令测试方案解读

演讲人：是德科技无线解决方案工程师，姬生浩

简介：Wi-Fi 6和 Wi-Fi 6e 之后，Wi-Fi 7 时代正在来临。Wi-Fi 7标准将有哪些新变化，又将会带来哪些测试挑战呢？本次议题将解读Wi-Fi 7技术标准发展，以及新测试挑战与方案。

时间：17:00-17:10

议题：答疑、抽奖

分会场2：

时间：2023年10月17日 下午13:30-17:30

地点：西安君悦酒店，3M层 君府2厅

时间：13:30-13:40

议题：欢迎致辞

时间：13:40-14:10

议题：现代元器件测试技巧

演讲人：是德科技应用工程师，马加加

简介：当今元器件的尺寸越来越小、集成度越来越高，多端口、高度集成化成为发展方向，技术的复杂性呈指数级增长，因此也给相应的测试带来了诸多挑战。

本专题详解KEYSIGHT应对元器件测试的方案与技巧，提高测试效率，提升测试精度和准确度。

时间：14:10-14:40

议题：新一代测试平台，从容应对复杂信号产生的挑战

演讲人：是德科接解决方案工程师，马庆

简介：Keysight全新推出新一代射频矢量信号发生器N5186A MXG，基于DDS架构和高性能的DAC设计，面向无线通信、雷达应用等诸多领域，提供多通道、大带宽、高性能信号产生，助力技术的创新。本专题详解N5186A MXG的性能与功能。

时间：14:40-15:10

议题：相噪测试技术及新方案

演讲人：是德科技解决方案工程师，马庆

简介：本专题详解相位噪声的基本原理、相位噪声测量的重要性以及进行相位噪声测量的方法与技巧。同时对Keysight全新的E5055A SSA-X 信号源分析仪进行相噪测试做出性能评估。

时间：15:10-15:30

议题：茶歇

时间：15:30-16:00

议题：相控阵天线的校准和测量方法

演讲人：是德科技应用工程师，马加加

简介：随着相控阵天线集成度的不断提高和成本的不断降低，它在移动通信和低轨卫星通信中的应用越来越广。对相控阵天线的快速校准和测量是大家关心的问题。本专题将介绍相控阵天线的发展趋势，相控阵天线校准的原理和方法，以及基于是德科技PNA-X矢网的相控阵天线校准和EIRP、G/T、EVM测量的解决方案。

时间：16:00-16:30

议题：宽带卫星信号调制质量测试

演讲人：是德科技解决方案工程师，马庆

简介：低轨通信卫星采用了更大的系统带宽和更为复杂的信号制式以期提高系统速率，大带宽与复杂的信号制式也给测试带来了更大的挑战。

本部分内容将展示Keysight在上述应用中的完整解决方案，探讨如何评估和分析通信系统及器件在宽带调制下的特性，以及误差来源。

时间：16:30–17:00

议题：应对收发模块数字化革命的新挑战

演讲人：是德科技应用工程师，马加加

简介：收发模块 (T/R Module)的数字化趋势在卫星通信、地面通信等应用领域日益凸显。放大器、变频器等射频电路与ADC、DAC等数字部分的高度集成化带来了尺寸和效率上的提升，但是也给测试带来了全新的挑战。模拟测试端口的消失使得许多传统的测试方案不再适用，那么新的数字TR模块性能应该如何评估？传统的射频指标在数字化之后是否还适用？本专题将和您逐一探讨。