与是德科技携手共创芯片测试的未来，携多个测试方案亮相ICCAD 2023
在技术日新月异的时代，芯片作为科技发展的核心，其性能和可靠性至关重要。作为芯片测试领域的领军企业，是德科技以其深入的专业知识和前沿的技术创新，引领着测试行业的发展。我们不仅在芯片设计阶段提供精准的建模仿真，还在晶圆级电特性测试和封装后的功能性测试方面，提供了全方位、高效的解决方案，确保每一颗芯片都能在最严苛的条件下表现出色。
图：集成电路设计与测试生命周期
2023年11月，第二十九届中国集成电路设计业年会暨广州集成电路创新发展高峰论坛（ICCAD）如期举行，是德科技荣幸地成为了这一盛会的参与者。我们不仅展示了自家最新的测试技术，还与行业内的专家和同行共同探讨了芯片测试领域的未来趋势和挑战。
在展会上，是德科技特别展出了以下专为数字芯片测试的创新平台与方案
图：是德科技数字芯片测试框图
本次展示的高性能平台包括
这款属于UXR-B系列的示波器，专为发射机Tx测试而设计，提供了眼图分析和抖动测试等高级功能，确保传输信号的质量和稳定性。
图：UXR-B系列示波器
作为接收机Rx测试的理想选择，M8040A能够产生带压力的电激励信号，全面评估接收机的性能以及在不同的信噪比情况下的表现。
图：M8040A误码仪
这款PNA-X系列的网络仪，专门用于评估传输通道和链路的性能，包括S参数的精确测试，确保信号传输的高效和准确。
图：PNA-X系列网络仪
我们深知，技术的进步离不开每一位客户和合作伙伴的支持与信任。因此，是德科技特别准备了丰富的技术资料和年终抽奖活动，以表达我们的感激之情。是德科技，不只是您的芯片测试专家，更是您在科技探索路上的坚实伙伴。让我们携手并进，共同开启芯片测试的新篇章，共创美好未来！
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