恩智高精度多通道可编程直流电源用于AFE、射频、激光器芯片测试,电压精度最高可达0.1mV

2024-01-10 恩智测控NGI公众号
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随着半导体材料和制造工艺的不断升级,小型化、高性能化已成为芯片和器件的重要发展趋势,这意味着芯片的信号采集、处理、功耗等性能将得到持续提升,对于测试装置的精度、稳定性、集成度等重要指标,也提出了更高的标准和要求。


接下来,小编将为您分享NGI高性能可编程直流电源在AFE、射频、激光器芯片中的应用和相关案例。


AFE芯片

AFE芯片(Analog Front End芯片,模拟前端芯片)是一种用于模拟信号采集和处理的芯片,可对输入信号进行放大、滤波、采样、量化等处理,以便后端MCU进行分析。目前,AFE芯片已广泛应用于电动汽车、储能、医疗、工业等领域。


以电动汽车为例,AFE芯片是汽车电池电压、温度等参数采集的重要基础,因此,其电压采集精度的准确性、静态功耗是芯片设计、电池、主机厂等产业链上下游的关注重点。


NGI自主研发的N23010/N23020系列高精度多通道可编程直流电源可广泛应用于AFE芯片测试。产品具有如下特点:

· 高精度:电压精度最高可达0.1mV,可满足市面主流规格AFE芯片电压测试需求;

· 高集成度:3U空间最多可集成24通道,较传统桌面式电源节省超50%空间,可满足封测、流片、生产等大规模测试场景需求;

· 功能丰富:支持nA级电流测量,满足芯片或拼板漏电流测试需求,为客户节省额外高精度数字万用表的采购成本。


射频芯片

射频芯片是一种对信号进行放大、滤波、开关切换等处理的器件,广泛应用于雷达、通信、医疗、消费类电子等行业。纹波容易导致芯片输出混有杂散信号,影响信号处理。因此,供电电源输出纹波和稳定性对射频芯片性能至关重要。


以国内某TOP3射频芯片厂家Z为例,前期Z需针对射频功率芯片进行高温老化寿命测试(HTOL),单次测试时间高达1000h,样品须至少231片,前期Z在老化测试过程中,面临测试过度占用空间、额外增加成本等问题:

· 占用空间:为满足多批次测试需求,须使用8台传统桌面式程控电源,占用至少12U空间;

· 额外增加成本:为测试芯片漏电流,须采购高精度数字万用表,也额外占用测试空间。


经多方技术比对后,Z选择了N23010高精度多通道可编程直流电源,解决了空间和成本问题。

· 19英寸3U标准空间集成24通道,仅传统方案的四分之一;

· 电源集成μA级漏电流测量功能,可有效降低客户采购成本;

· 电压纹波≤2mVrms,长时间稳定性≤80ppm/1000h,可保证测试供电质量的纯净性和稳定性。


半导体激光器芯片

半导体激光器已广泛应用于材料加工、医疗、光通信、传感、国防等领域,而激光器芯片是激光器的核心部件,目前恒流老化测试已贯穿于研发、生产、品控等全流程环节。以国内某规模TOP2激光二极管芯片生产企业L为例,前期老化测试过程中,面临如下两方面问题:

· 传统程控电源本身启动瞬间容易出现电流过冲,开机后需要将电源调整为恒流模式,否则容易烧坏芯片;

· 电源输出电流最大5A,仅支持20块老化板,且产品不支持序列模式,导致老化测试效率偏低。


针对前期客户需求,NGI提供了更安全可靠、更大输出电流的N39200高精度双通道可编程电源。首先,N39200支持CC&CV优先输出模式,可保证输出平稳无过冲;同时,电源支持序列模式,支持8A/10A/20A等多种输出电流,支持更多老化板测试,经验证,单台8A电源便可支持30块老化板,对比前期测试方案,效率提升50%。


NGI将持续深耕场景需求和行业应用,不断推出业界领先的产品和测试方案,全方位解决客户实际应用需求,加速推进标准化体系建设,助力中国半导体行业高质量发展。


近年来,恩智(NGI)坚持高强度研发投入,拥有广泛的测控和电子技术类产品线,如半导体测试源表、直流电源&电子负载电池模拟器NXI测控平台锂电池/超级电容测试产品等,并推出多个具有行业竞争力的应用解决方案。


未来,NGI将进一步聚焦客户应用,致力于新能源、消费类电子、半导体、科研/教育、汽车电子等相关领域测控解决方案的研究与探索。强化高端产品和解决方案的部署,形成从技术到服务,跨行业全场景的产品体系和测试方案,为客户解决测试挑战和创造核心价值。

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活动    发布时间 : 2024-06-28

恩智(上海)测控技术有限公司

型号- N8130,N8060A,N8358系列,N8060C,N8331系列,NSC4000,N6112,N5900系列,NL109,RBT系列,N5821,N6900系列,N8130A,N36100,N8000,N6180,N8061C,N6140系列,N8330E系列,N6200系列,N6900,N8062A,N3200系列,N39400系列,N8034A,N62400,N1200系列,T62401,N6112系列,N8352,T62400,N8070A,N8358,N8330系列,N1200,N563X,NSC2000,N83624系列,N5800,NL109系列,N8330E,N8330D,N2100系列,N6180系列,N8100A,N5621系列,N39200系列,N3600系列,N5618系列,N5631,N6200,N562X,N8020A,N92264,N8101A,N92264系列,NW6900系列,N8331,N8330,N39400,N8040C,N8040B,N8080A,N8040D,N8000S,N5621,N3300系列,N68000,N3200,N8352系列,N3600,N5900,N8065A,N68000系列,N6140,N8320,N8000A0,N8000A1,NSC3000,N8321,N1010,N2100,NE101,NW6900,NSCXXX,N5618,N8030B,N3410系列,N8030A,N8066A,NSCXXXX,N8090A,N8090D,N8050B,N8050A,N8062B,T3001,N8050D,N5608系列,N8050C,LBT系列,N83624,N5600,N3300,N8310,N8051A,N8063A,N8051C,N8051B,N8091A,N62400系列,N5831,N36100系列,N3410,N8330D系列,NSC1000,N8000C,N8064A,N8040A,N8064B,N39200,N8000A,N5631系列

商品及供应商介绍  -  恩智测控 PDF 中文 下载

DC-DC转换器测试系统解决方案

型号- N6140,N3600 系列,N39400 系列,N39400,N3300 系列,N8040C,N8030C,N8070A,N8040D,N3300,N3200,N6112,NXI 架构,N6112 系列,N6900 系列,N3600,N6900,N3200 系列,N8030B,N8040A,N6140 系列,N8030A,N8034A

应用及方案  -  恩智测控  - V1.0  - 2022/5/5 PDF 中文 下载

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电力储能BMS测试解决方案

型号- N8330,N83580,N3410 系列,N8040C,N8060A,N8070A,N83624,N83524,N8336,N3200,NXI-5100,N3600,NB201-2000,N3200 系列,NXI 系列,N36100,N3600 系列,N8061A,N3410,N3000CS,NES6100,N8064A,N8030B,N8040A,N8064B,N8030A,NXI,N8034A

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N3200系列 高压可编程直流电源 用户手册

型号- N3212N-2000,N3212N-4000,N3206-2000,N3212-5000,N3212N-6000,N3212-1000,N3206N-3000,N3200,N3206N-5000,N3212-3000,N3206N-1000,N3206N-1200,LYCM7805,LYCM7804,N3206-5000,LYCM7803,LYCM7802,LYCM7801,N3206N-1500,N3206-3000,N3206N-10K0,N3206N-12K0,N3206-12K0,N3212N-3000,N3206-1500,N3206-10K0,N3212N-5000,N3206-1200,N3212N-1200,N3212N-1000,N3206-1000,N3206N-6000,N3212-4000,N3206N-4000,N3212-6000,N3206N-8000,N3212-2000,N3206-8000,N3212-1500,N3206N-2000,N3212-1200,N3206-6000,N3206-4000,N3212N-1500

数据手册  -  恩智测控  - V1.00  - 2016-10-26 PDF 中文 下载

恩智测控推出NGI-BMS测试系统,采用针对性仪器进行数据仿真模拟,提供BMS全生命周期解决方案

恩智测控(NGI)结合多年电池充放电测试和新能源汽车测试经验推出完整的BMS测试解决方案,满足BMS各项研发、生产测试需求。NGI-BMS测试系统均采用NGI自主研发的测试仪器搭建而成,设备外形、通讯协议、通讯接口等都采用统一标准,无论是扩展性还是可维护性都非常高。

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