瞻芯电子紧凑型IVCR1412比邻驱动芯片助力多管并联均流,集成负压和抗米勒效应,消除栅极电阻开关更快

2024-01-31 瞻芯电子公众号
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在大功率变换系统中,多管并联能提升电流承载能力,增加输出功率,常用于电机驱动、电动汽车、电力传输等场景。但多管并联均流是一大挑战,这影响了系统中器件的温度分布,进而影响系统可靠性,最终成为限制系统功率和效率的瓶颈。


为了实现多管并联均流,瞻芯电子基于SiC MOSFET和SiC专用·比邻驱动IVCR1412芯片开展了均流研究,在不同均流驱动方案和不同条件下,测试影响均流的因子,以提供均流方案建议。


多管并联测试平台及电流测试方法

为了便于测试采样,瞻芯电子以经典的双脉冲测试电路为基础(下图1),在半桥中的上下管位置采用4管并联(下图2),并用电流环(无损检测)来测试下管的导通电流Ids。

图1:双脉冲测试电路



图2:双脉冲4管并联电流测试


图3:对比同轴分流器和电流互感器的电流,说明电流测试方法可行


总体看,实现SiC MOSFET并联均流的关键是 “器件一致、结构对称、杂散最优”,具体又分为6方面影响因子如下,在后续测试中通过调整单一变量,来评估单一因子对均流的影响:

1、MOSFET的Vgs(th)、Rds(on)

2、MOSFET的Cgs、Cgd 、gfs和内部栅极电阻

3、MOSFET的驱动电路影响

4、MOSFET功率回路杂散电感

5、驱动电路的能力(外部栅极电阻、驱动回路电感)

6、MOSFET的散热条件/结温影响


SiC MOSFET的开通过程,按导通状态分为3个阶段(下图4),从P2阶段起,器件开始导通,可能出现不均流情况,因此P2-P3阶段为重点分析的阶段。

图4:SiC MOSFET开通过程的3个阶段


在P2阶段(下图5),影响均流的因子为:器件VGS(th)和CGS 、 CGD的差异,电流计算公式为Id=g∙(Vgs-Vth),Vth是关键因子。


图5:P2为电流上升阶段


当挑选两颗Vth有差异的SiC MOSFET: A, B来测试,具体差异为Vth_B-Vth_A=0.6V,如下图6中,A、B管的电流差异为7.2A

图6:P2阶段中A,B管的电流差异


在P3阶段如下图7,影响均流的关键因素为器件Ron的差异。


图7:P3为器件导通阶段,电流有震荡



图8:A,B器件在导通时,不均流持续存在



图9:A,B器件呈现不均流


对比:传统并联驱动VS 新型分布式驱动

1、传统方案:Vg串联电阻并联驱动

在多管并联的桥式电路应用中,传统方案采用一颗芯片驱动多颗并联的单管,并用驱动输出端的串联电阻,来调节驱动电流,如下图10和11。传统动方案,有2个缺点:

  • 线路较长,且布线不均衡,导致寄生电感差异

  • 均流电阻容易引发米勒效应

图10:传统的Vg串联电阻并联驱动方案


图11:传统并联驱动测试板


2、新型方案:采用IVCR1412芯片的分布式驱动

  • 瞻芯电子的SiC专用·比邻驱动IVCR1412,封装极紧凑,可紧邻器件排布,在多管并联驱动应用中,有3点优势:一对一驱动,排布均衡,能让杂散电感最小化,且杂感比较一致;

  • 集成负压和抗米勒效应,消除了栅极电阻,开关更快;

  • 电流源驱动,可调峰值上拉电流,优化开通速度,同时动态均流。


采用IVCR1412驱动芯片来一对一地分布式驱动电路如下图12和13:

图12:一对一分布式驱动方案

图13:IVCR1412测试板


下面通过在2组不同测试条件下,对比2种方案的均流效果,来了解不同因子对均流的影响。


测试条件一:选用Vth一致,且Ron一致的SiC MOSFET,对比测试开关过程中并联的4颗单管的电流。


1、在关断过程中,传统方案(下图14)有明显的不均流,而采用IVCR1412芯片的分布式驱动方案(下图15)关断更快,均流效果更好。


图14:传统方案(UCC5350)用电阻驱动并联, 4管并联关断电流不一致


图15:分布式驱动(IVCR1412),4管并联关断电流一致


2、在开通过程中,传统方案(下图16)有明显的不均流,最大电流差异为12.5A,电流尖峰大小与器件位置有关,与功率器件无关;采用IVCR1412芯片的分布式驱动方案(下图17)开通更快,均流效果更好,仅有2A电流差异。

图16:用电阻驱动并联时,4管并联导通出现∆Id=12.5A的电流差异


图17:IVCR1412分布式驱动并联时,4管并联均流一致


测试条件二:当选用Ron一致,但Vth不同,差异为∆ Vth=0.6V的A,B两管,来测试电流差异。


在传统方案中,A,B管因驱动回路中不同的寄生电感,已产生不均流现象,当叠加器件Vth不同的影响,则出现更严重的不均流情况(图18),因此表明传统驱动方案对器件Vth的差异容忍度较低。


图18:传统方案(UCC5350)出现7.5A的较大电流差异


在分布式驱动方案(IVCR1412)中,A,B管因Vth差异导致的电流差异较小,仅为3.5A,如下图19:


图19:分布式方案出现3.5A的较小电流差异


均流测试小结

1、所选SiC MOSFET的Vth、Ron、Cgs、Cgd 和栅极电阻差异都会对并联均流产生负面影响,使用传统驱动方式时,对器件的一致性要求较高;


2、采用IVCR1412驱动SiC MOSFET并联,可容忍更大的Vth偏差, ∆Vth=0.6V(基于IV1Q12050T4测试)未出现严重不均流;


3、使用传统驱动SiC MOSFET并联,驱动回路和功率回路电感的差异对均流影响较大,若叠加器件参数不一致的影响,可能出现严重的并联器件不均流;


4、IVCR1412作为恒流源驱动,更有利于均流。


IVCR1412芯片简介

IVCR1412是瞻芯电子开发的SiC专用.比邻驱动NextDrive系列芯片之一。IVCR1412集成了负压偏置和有源米勒钳位功能,并消除了栅极电阻,为SiC MOSFET提供了一种方便、紧凑、可靠的栅极驱动解决方案,同时也适用于Si MOSFET和IGBT驱动。主要特性概括如下:

• 高达30V宽幅供电,且有欠压保护

• 能够兼容最低负(-5V)输入

• 集成-2V负电压输出

• 米勒效应抑制

• 80nS下沉电流折回控制

• 可配置输出驱动电流0.9A-2A

• 低传播延迟(16ns)

图20:SOT-23 -6封装引脚


图21:IVCR1412芯片典型驱动电路,若无需负压,可短接CN电容


IVCR1412应用技术问答

Q1:如何限制开通关断dv/dt与di/dt ?

A1:有2种方法:

  • 通过调整CFG的配置电阻,来调整驱动电流,

  • 在功率器件GS端并联Cgs电容(采用TO247-4封装时推荐)


图22:典型应用电路


Q2:如何利用IVCR1412抑制串扰尖峰?

A2:采用双脉冲测试方法,通过操作上管开通和关断,来测量下管GS串扰尖峰,抑制串扰尖峰的方法主要有2种:

  • 调整上管驱动来调整dv/dt,来改变串扰尖峰。

  • 通过在栅源GS间并联电容Cgs来吸收尖峰;

通过按800V SiC主驱逆变器的dv/dt与di/dt 要求来测试,验证了并联电容Cgs能有效抑制驱动尖峰。该测试条件为:IDS=80A,dv/dt>20V/ns,di/dt>4 A/ns。

当器件不并联电容Cgs时,驱动尖峰Vgs较大,如下图23:


图23:无电容Cgs,下管的串扰尖峰较大


当器件并联电容Cgs时,驱动尖峰Vgs较小,如下图24:


图24:有电容Cgs,下管的串扰尖峰较小

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