电子组件振动试验法

时间： 2024-03-24 来源：奥科环试官网

设备名称：电磁吸合式振动试验台

1、适用范围：本标准规定用以测定电子组件（以下简称组件）于运输或使用中承受振动之耐久性能之试验方法Ⅰ、Ⅱ及Ⅲ。

注：试验方法Ⅰ适用于测定对一般振动之耐久性，试验方法Ⅱ适用于测定共振点及试验方法Ⅰ、Ⅲ前后共振点之偏距，试验方法Ⅲ适用于测定在共振点之耐久性。

2、装置：振动装置应能作表中所示各种试验且符合下列条件。
（1）振动波形及失真率：施加于供试品之振动波形为正弦波，供试品安装位置之振动加速度波形之备波含有率应为25%以下。
（2）振动振幅：规定振动方向之振幅容许差，须为规定值之±15%以内。
（3）与规定振动方向垂直之振动：于供试品安装位置，与规定振动方向垂直之振动，不论任何方向，其振幅应为规定方向之25%以下。
（4）振动频率容许差：50Hz以下就为±1Hz，超过50Hz时应为±2%。
（5）扫描（1）方法：原则是为对数扫描，但平均扫描亦可。

注：（1）1次扫描，例如10—55——10Hz，是指在规定振动频率范围作1次往复之频率变化。

3、准备
3.1供试品之安装：将供试品依组件标准规定之方法，直接或使用夹具坚固地安装于振动台上。使用夹具时，须能施加振动于组件标准规定之方向，且夹具应具足够机械强度，安装后亦不得松动或发生共振，组件标准应规定下列任一种安装方法。
（1）固定组件本体（有导线之组件，亦同时固定导线）。
（2）仅固定导线。

4、试验
4.1前处理：原则上不作前处理。但有特别需要时，依组件标准之规定。
4.2初期测定：依组件标准之规定施行，检查外观。
4.3试验方法：依下列各项施行。如装置产生磁导且供试品易受磁场影响时，于组件中应规定其大允许值。
4.3.1试验方法种类：试验方法分为Ⅰ（扫描耐久试验）、Ⅱ（共振点偏移检出试验）及Ⅲ（共振点耐久试验）三种。

（1）试验方法Ⅰ（扫描耐久试验）：依组件标准之规定，照下表施行（参照图）。
振动原则上依次施加于供试品互相垂直之方向。试验时间各方向均相同，合计6小时。

振动种类
试验条件：种类A 种类B 种类C
振动频率范围10～55Hz 100～500Hz 10～2000Hz
全振幅或加速度1．5mm 1．5mm或98m/s2（10G）中较小者1．5mm或196m/s2（20G）中较小者
扫描之比例10-55-10Hz
约1分钟 10-500-10Hz约15分钟 10-2000-10Hz约20分钟
扫描方法：对数扫描或平均扫描
试验时间：6小时

（2）试验方法Ⅱ（共振点偏移检出试验）：本试验是于4．3．1（1）及4．3．1（3）试验前后施行，以检出供试品这共振频率。检出共振时之振幅与扫描耐久试验相同。但如由于减小振幅更能检出振动特性。可减小振幅。

在扫描中检出共振点时，减低规定之扫描程度，必要时可停止扫描。于扫描耐入试验前后检出之共振频率，均应予以记录。

（3）试验方法Ⅲ（共振点耐久试验）：本试验是就规定各振动方向之振动频率，依组件标准之规定，于组件标准规定
之振动频率范围内作下列时间之试验。
10分钟 30分钟 90分钟 10小时 10周（cycle）
4．3．2电负载：组件标准有规定时，于4．3．1（1）、（2）、（3）试验中，施加电负载。
4．3．3后处理：原则上不作处后处理，但如有特别需要时，使组件标准之规定。
4．5终测定：依组件标准之规定施行，且检查外观。

5、组件标准应规定事项
（1）安装（安装用具及安装方法）（参照3．1节）
（2）前处理条件（有需要时）（参照4．1节）
（3）初期测定项目（参照4．2节）
（4）磁场影响（参照4．3节）
（5）试验方法种类及试验条件（参照4．3．1（1）、（2）、（3））
（6）电负载条件（参照4．3．2节）
（7）振动试验中之测定项目（有需要时）（参照4．3．3节）
（8）后处理条件（有需要时局（参照4．4节）
（9）终测定项目（参照4．5节）

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