PCBA老化测试是什么,老化测试标准是什么?
今天,欣同达给大家讲一讲PCBA老化测试是什么以及老化测试标准又是什么,一起来看看吧~
PCBA经过贴片和DIP插件后,一般还需要老化测试才能出厂交货给客户,提高PCBA的品质,避免交到客户手中而出现质量问题,带来更多的售后,因此PCBA加工老化测试是重要的质量保障行为。
图 1
至于PCBA老化测试标准,有以下三个方面:
1、低温工作:将PCBA板放在-10±3℃的温度下1h后,在该条件下,应带额定负载,187V 和253V条件下,通电运行所有程序,程序应正确无误。
2、高温工作:将PCBA板放在80±3℃/h后,在该条件下,带负载,187V和253V条件下,通电运行所有程序,程序应正确无误。
3、高温高湿工作:将PCBA板在温度65±3℃、湿度90-95%条件下,时间48h,带额定负载通电运行各程序,各程序应正确无误。
- |
- +1 赞 0
- 收藏
- 评论 0
本文由三年不鸣转载自欣同达官网,原文标题为:PCBA老化测试是什么,老化测试标准是什么?,本站所有转载文章系出于传递更多信息之目的,且明确注明来源,不希望被转载的媒体或个人可与我们联系,我们将立即进行删除处理。
相关推荐
解析精密针模治具的最新技术与发展趋势
精密针模治具是高精度工业制造中不可或缺的重要工具,其应用范围从电子零件制造到医疗器械生产,不一而足。近年来,随着技术的不断进步,精密针模治具的设计与制造也取得了显著的成果。欣同达致力于研究和推广最新的精密针模治具技术,为用户提供最佳解决方案。本文将详细探讨精密针模治具的最新技术与发展趋势,帮助您更好地理解这一领域的发展动向。
详解DDR内存条测试座的性能优势及其适用范围
DDR内存条测试座是一种全新的内存测试工具,它具有应用范围广泛和性能优势的特点。本文欣同达从六个方面讨论DDR内存条测试座的性能优势及其适用范围:技术参数和特性、质量稳定性、操作简单性、安全性、性价比和普及度。
从零开始,学习DDR验证筛选测试治具的使用技巧
DDR(Double Data Rate,双倍数据速率)作为当前主流的内存技术,广泛应用于各类电子设备中。从零开始学习DDR验证筛选测试治具的使用,是每一个硬件工程师必备的技能之一。通过这项技能的掌握,可以确保所设计或选择的内存条能够达到预期的性能指标,大大减少出厂后因为内存问题导致的返修率和客户投诉。在这篇文章中,欣同达将带您逐步了解并掌握DDR验证筛选测试治具的使用技巧。
初学者指南:如何使用RF射频测试座进行射频测试?
欢迎来到欣同达为你带来的初学者指南。在这篇文章,欣同达将一步步教你如何使用RF射频测试座进行射频测试。本文将从多个方面详细阐述如何使用RF射频测试座,包括它的基本概念、准备工作、实际操作步骤、注意事项等多个环节,力求为你提供全面的知识储备。不多说了,备好你的咖啡或茶,让我们开始吧!
全系列测试插座测试方案供应商欣同达与世强硬创达成平台合作!
欣同达于2023年2月24日宣布授权世强硬创代理半导体芯片测试插座等产品。
老化测试座问题及解决方案解析
本篇文章旨在揭示老化测试座中常见的问题,解除你的困惑,助你在项目中游刃有余。如果你刚好在提升生产效率或质量检测水平的路上举步维艰,那么本文欣同达将从5个主要方面分析这些问题,并给出相应的解决方案。
5种常见IC测试治具设计错误和问题的解决方法
IC测试治具是电子产品生产过程中必不可少的工具,它可以检测出产品中集成电路的质量和性能,确保产品的稳定性和可靠性。然而,IC测试治具的设计并不是一件容易的事,因为设计者需要考虑到各种复杂因素,如数据接口、测试时间、设备数量等等。在本文中,我们将介绍5种常见的IC测试治具设计错误和问题,并提供有效的解决方法。
IC翻盖测试座的使用寿命长吗?揭秘影响因素
在现代科技领域,IC翻盖测试座扮演着至关重要的角色。它们是工程师进行集成电路(IC)测试的得力助手。您是否曾经考虑过IC翻盖测试座的使用寿命?这是一个非常实际且重要的问题,尤其是在高节奏、高成本的研发环境中。欣同达致力于为您提供最可靠的信息和技术解决方案,因此我们今天特别带来这篇文章,揭示影响IC翻盖测试座使用寿命的各种因素。请准备好,一起进入这个充满玄机的世界!
高效测试DDR内存——DDR测试座的使用方法
在当今科技高速发展的时代,电脑已经成为我们日常生活和工作中不可或缺的工具。而高性能的电脑离不开卓越的内存,DDR内存模块就是其中的重要组成部分。想象一下,当你在进行复杂的数据运算时,内存却不给力,这无疑让人抓狂。因此,确保DDR内存的质量和性能是至关重要的。欣同达一直致力于提供高效、专业的环境设备和解决方案,我们身边的许多IT专业人士都在日常工作中使用DDR测试座来检测DDR内存。
【技术】解析DDR测试座结构设计、软件设计、具体用途
DDR测试座可以支持多种类型的芯片,比如NAND Flash芯片、NOR Flash芯片、DRAM芯片等,其内部结构设计要求灵活多变,支持不同类型的芯片。本文由欣同达为您解析DDR测试座结构设计、软件设计、具体用途。
什么是ATE测试座?全面解析其作用与优势
你是否曾经在深夜盯着那些无穷无尽的数据表格,心中祈祷有一种神器能够让测试变得简单而高效?嘿嘿,这个愿望或许可以实现!欢迎你进入欣同达的神奇世界,在这里,欣同达将带你揭示一个现代测试技术的重要角色:ATE测试座。什么?你还不知道什么是ATE测试座?不急,让欣同达慢慢道来!
在芯片测试中遇到的常见问题,如何使用测试架快速定位问题?
随着现代电子产品的不断普及和升级换代,芯片测试在电子制造业中扮演着越来越重要的角色。芯片测试旨在确保芯片的质量和稳定性,保证各种电子设备的正常工作。在芯片测试过程中,难免会遇到各种问题,如缺陷、错误、故障等。正确的问题定位和排除技巧可以帮助快速解决问题,保证测试的有效性和准确性。
DDR内存条测试的必要性及其详细流程介绍
本文欣同达旨在向大家介绍为什么需进行DDR内存条测试以及如何进行详细的测试流程。通过阅读本文,你不仅可以了解DDR内存条测试的必要性,还能学习到具体实施步骤,为你在实际操作中提供指导。
怎样利用ATE测试座提高生产线的稳定性?
在资源优化大力推广的今天,提高生产线的稳定性不仅能够减少停工时间,还能提高产品质量。这点不分你是制造汽车零件还是生产芯片,都是一样的重要。然而,这一切都离不开正确的工具,其中一个非常重要的工具就是自动测试设备(ATE)测试座。本文欣同达将详细介绍如何通过有效利用ATE测试座来提高生产线的稳定性。
登录 | 立即注册
提交评论