ADC与DAC测试,验证静态和动态特性的方法与分析
ADC的测试和DAC的测试目的是相同的,即验证静态和动态特性,ADC进行的个测试是输入输出测试。输入输出测试结构如图10.5-15所示。输入电压范围从0到VnB,数字输出编码被送到一个比ADC更的DAC中。DAC的精度至少要比ADC高2位。然后画出模拟输入和DAC输出的差值与输入之间的函数曲线。输入输出测试的曲线应该等于该ADC 的量化曲线。
如果ADC是理想的,Q的值将限制在±0.5LSB之间。输入输出测试可以用来测量失调误差、增益误差、INL和DNL。
图10.5-16给出了一个4位ADC可能的曲线。图上标出了INL和DNL误差。以模拟轴为参考的非线性误差用单位斜线的高度来表示。增益误差将表现为随着V的增加,锯齿曲线的增加或减少为一常量。失调误差是从OLSB线向上或向下的固定的平移量。
理想情况下,图10.5-16应该等于ADC的量化噪声。当位数增加时,图10.5-16所示的个别细节是不可能看到的, 除非将水平坐标放得很大。一般人们会在±0.5LSB处画出水平线以观察这些线以外的趋势。必须通过比较正峰值和负峰值来确定DNL。注意,在模拟输入为21/32时,ADC非单调。随着位数的增大,观察INL、失调和增益误差将变得更容易。
2.0LSB1.5LSB+2(58)2021.0LSB,0.5LSB2128000.0LSB--0.5LSB·私家084-1.0LSB-1.5LSB244m-2.0LSB以Vau归一化的模拟输入图10.5-16 4位ADC的输入输出测试结果示意图
如果使用一个纯正弦波发生器,输入输出测试的重建输出信号V可以通过失真分析仪或频谱分析仪来确定ADC的动态范围。
为了不产生任何非线性失真,动态范围至少为6NdB,这里N是ADC的位数。这个测量使用了的设置,只是码型发生器被无谐波正弦波发生器驱动的ADC所取代、如果输入的正弦波不纯,那么它的谐波可能掩盖 ADC的非线性。同样,这个测量中使用的DAC必须比ADC更高。
另一种进行上述测试的方法是将被测ADC的数字输出编码存储在一个RAM缓冲器中。在测量后,缓冲器的内容用快速傅里叶变换(FFT)进行后处理来分析量化噪声和失真分量。
给出了这种被称为FFT测试的建立方法。这种测试强调了转换器的非线性,根据时钟频率的不同它可以是静态的或动态的。由ADC的非线性引起的输人信号的谐波分量将在ADC的基带频谱上引起混叠。应该保证正弦输入信号与这些谐波不一致。
当使用FFT测试时一定要当心。当诸如量化噪声等小信号出现在与信号不同的频率上时,它们的频谱被主信号的泄漏所掩盖,因而不可能地得到SNR。因此,一个从有间采样获得的FFT并不能很好地估计原始信号的功率谱,这个问题可以通过一个窗口来解决。
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对照表 - 思瑞浦
24bit ADC精密运放,电源基准,令信号链设计更简单
型号- SGM5860X,SGM4040B,SGM8255A-1,SGM8255A-2,SGM58200,SGM5351,SGM58031,SGM5200,SGM5353,SGM5352,SGM2045,SGM58602,SGM58603,SGM5202,SGM58600,SGM5209,SGM58601,SGM5208,SGM2049,SGM5349
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