解析如何通过测试分析热阻测试仪机构函数得到的瞬态热阻响应曲线，并通过反卷积变换，分析被测对象的内部构造

时间： 2024-04-13 来源：贝思科尔微信公众号

技术问答

选型帮助

研发客服

商务客服

在现代材料科学和工程领域，热阻性能的测量与分析对于理解材料的热传导机制和优化材料性能尤为重要。热阻测试仪作为一种重要的实验工具，能够通过瞬态热阻测试获得材料内部热传导的详细信息。本文贝思科尔将讨论如何通过测试分析热阻测试仪机构函数得到的瞬态热阻响应曲线，利用数学手段进行反卷积变换，进而分析被测对象的内部构造。

瞬态热阻测试是一种动态热分析方法，通过在材料上施加一个瞬时的热激励，然后测量材料随时间变化的热阻响应。热阻测试仪机构函数这种方法能够得到一个完整的瞬态热阻响应曲线，即瞬态热阻随时间的变化关系。这个曲线包含了材料内部热传导过程的重要信息，如热阻、热容等。

为了深入理解这些信息，我们需要对瞬态热阻响应曲线进行数学处理。其中一个重要的手段就是反卷积变换。卷积是信号处理中常见的一种运算，它描述了两个信号在时间域上的相互作用。在瞬态热阻测试中，卷积运算将时间域上的热激励函数和材料的结构函数（热容与热阻的函数）联系起来。通过反卷积变换，我们可以将结构函数从时间域变换到空间域，从而直接观察材料的热容和热阻分布。

反卷积变换是一个数学上较为复杂的过程，它要求对瞬态热阻响应曲线进行准确的数值分析。通过选择合适的算法和模型，我们可以从瞬态热阻响应曲线中提取出材料的结构函数。这个函数描述了材料内部不同位置的热容和热阻分布情况，为我们提供了关于材料内部构造的直观信息。

通过对结构函数的分析，我们可以了解材料内部热传导的不均匀性、热阻的集中区域以及热容的分布情况等。这些信息对于优化材料的热设计、提高热传导效率以及预测材料在高温或不良环境下的性能表现具有重要意义。

热阻测试仪机构函数的研究不仅有助于我们深入理解材料的热传导机制，还为材料科学和工程领域的发展提供了有力支持。随着科学技术的不断进步，我们期待未来能有更先进的热阻测试技术和更准确的数据处理方法，为材料科学和工程领域的研究提供更多有价值的信息。

总之，通过瞬态热阻测试得到的热阻测试仪机构函数及反卷积变换等手段，我们可以更好地分析被测对象的内部构造，为材料科学和工程领域的研究提供有力支持。随着科学技术的不断发展，这一领域的研究将不断深入，为人类的科技进步和产业发展做出更大贡献。

发送到邮箱 |
+1 赞 0
收藏
评论 0
| 转发至：

本文由Vicky转载自贝思科尔微信公众号，原文标题为:热阻测试仪机构函数，本站所有转载文章系出于传递更多信息之目的，且明确注明来源，不希望被转载的媒体或个人可与我们联系，我们将立即进行删除处理。

全部评论（0）

暂无评论

【经验】贝思科尔解析如何用T3Ster测试IC的热特性

近期不少客户咨询，如何测试封装IC类样品的热特性，以及结温与封装热阻的测量。在本文中，贝思科尔将结合集成电路热测试标准和载板设计标准向大家介绍如何用T3Ster瞬态热阻测试仪测试IC产品的热特性。

设计经验发布时间 : 2023-05-31

电驱动系统性能集成化分析

Simcenter 中的工具及其直接和间接连接提供了一个独特的平台，可用于探索传统设计方法的替代方案。同时Simcenter将整个过程做的更加自动化、接口更加方便，以同时方便设计工程师和仿真工程师来使用。

设计经验发布时间 : 2024-05-31

【经验】T3Ster结构函数应用——双界面分离法测试RθJC(θJC)

最新的热瞬态测试界面法（Transiant Dual Interface）具有更高的准确性和可重复性，而 T3Ster 是目前唯一满足此标准的商业化产品。通过这种高重复性的方法，可以方便地比较各种器件的结壳热阻，而且这种方法同样适用于热界面材料（TIMs）的热特性测试。

设计经验发布时间 : 2023-06-22

热性能热阻测试

贝思科尔与北大SoC深圳联合实验室为工程师提供大功率IGBT/MOSFET/LED/热管/风扇等散热模组热特性测试服务,使用MicRed T3Ster 热阻测试仪，给出数据解析及报告；测试对象热阻范围：0.01K/W-5K/W。

服务提供商 - 贝思科尔进入

贝思科尔（BasiCAE）专注于为国内高科技电子及半导体等行业提供先进的电子/结构设计、仿真分析与设计数据信息化管理的解决方案和咨询服务。贝思科尔同时拥有十多项自主知识产权的软件产品，并于2016年、2019年两次被认定为“国家高新技术企业”。

授权代理商 - 深圳市世强元件网络有限公司线上商城技术资料

展开

选择T3Ster热阻测试仪可以从哪些方面入手

半导体在许多行业中均有使用到，其使用还是比较广泛的。不过，半导体可不是说使用就使用，对于半导体也需要进行检测工作，了解半导体的热特性数据等，而检测过程中就需要使用到T3Ster热阻测试仪，让检测数据获取更准确方便。那么，关于选择这种检测仪，可以从哪些方面着手选择会比较好呢？

技术探讨发布时间 : 2024-10-11

热性能热阻测试服务：支持LED/IGBT/MOSFET/IC等产品热阻/热容/热特性测试

贝思科尔在世强平台上线热阻测试服务，使用MicRed T3Ster 热阻测试仪，给出数据解析及报告。测试对象热阻范围：0.01K/W-5K/W。可支持半导体器件结温测量、半导体器件封装内部结构分析；封装缺陷诊断，定位封装内部的缺陷结构；材料热特性测量、接触热阻测量等。

服务资源发布时间 : 2022-08-09

T3Ster热阻测试仪，支持快速、准确、无损地测量和分析电子器件的热特性，并提高电子器件的性能和可靠性

T3Ster热阻测试仪是贝思科尔推出的一款先进的热测试仪器，它通过改变电子器件的输入功率，使得器件产生温度变化，在变化过程中，T3Ster测试出芯片的瞬态温度响应曲线，仅在几分钟之内即可分析得到关于该电子器件的全面的热特性。

产品发布时间 : 2023-12-05

热阻测试仪支持在线测试，提供精度达到0.01°C的温度测量，广泛应用于电子工程领域

热阻测试仪是一种用于测量材料或组件热阻的仪器，广泛应用于材料科学、电子工程和能源等领域。本文介绍它的功能特点。

产品发布时间 : 2024-09-09

一文解析散热器热阻测试仪

散热器热阻测试仪，这个看似平凡却又不可或缺的设备，对于各类散热器的热阻成败起着重要的作用。无论是电子设备、汽车行业还是工业生产领域，都离不开散热器的应用。而散热器之所以能够发挥作用，关键在于热量的传导和散发。而热阻测试仪的出现,为散热器的热阻检测提供了一种较好的手段。本文中贝思科尔来给大家介绍散热器热阻测试仪，希望对各位工程师有所帮助。

技术探讨发布时间 : 2024-07-13