聚焦AI人工智慧，致茂电子SEMICON China盛大展出

时间： 2024-03-22 来源：CHROMA官网

技术问答

Chroma致茂电子参与SEMICON China 2024中国国际半导体展，将展示一系列创新的半导体测试解决方案，专注于AI人工智慧、高效能运算（High Performance Computing，HPC）芯片、汽车半导体与AIoT等运用，以满足不断发展的半导体测试需求。

先进SoC/Analog测试解决方案

Chroma 3650-S2 SoC/模拟测试系统可满足现今高电压、大电流、与复杂数位控制的Power IC测试需求，提供多达768电源或数位信道，高达3000V或320A的供电能力，200Mbps数据速率与300ps EPA等，是测试锂电池管理IC、电源管理IC、以及GaN与SiC相关Power IC的理想选择。

Chroma 3680 先进SoC测试系统有效满足人工智慧（AI）与车用等尖端科技芯片的测试需求，可提供高达2048个数位元信道，数据速率可达1Gbps，支持高达16G SCAN向量存储深度，并提供110dB SNR及-120dBcTHD的高精度AD/DA测试模块，以及多种测试模块供使用者选择，可同时完成数位逻辑、参数测试单元、电源、內存、混合信号、RF射频信号等测试。

RF射频芯片测试解决方案

Chroma 3680/3380/3300 ATE测试系统整合旗下ADIVIC MP5806S，即为完整的RF射频芯片测试方案，并已通过客户量产验证，具备S Parameter & Noise Figure功能可完整测试FEM/PA/Switch/LNA等零元件，并支持Bluetooth、Wi-Fi、NB-IoT、GPS/BeiDou等（IoT）通信标准和Tuner应用，内含300K~6GHz全频覆盖之超高频宽VSG/VSA模块，广泛应用于各式无线通信标准。2024年新推出3680 HDRF2，为MP5806及3680带来更高整合性，并具备32RF Port，4 VST RF功能，可提供Multi site & direct mount RF测试解决方案。

超低温测试解决方案

Chroma A310002 超低温测试系统提供-70~150℃稳定的三温（Tri-Temp）测试温控范围，热消散功率可达1,000 Watt，可应用在各种严峻的温度测试，与Chroma 3200多元化SLT测试分类平台（Versatile SLT Test Platform）结合，可提供多站SLT测试平台在产线使用，另可搭配软件工具CVOT（Chroma Virtual Operation Tools），轻松掌握生产信息与实行良率提升。Chroma超低温测试解决方案可满足多种测试应用产业，例如：汽车半导体芯片、人工智慧与数据中心、图形处理器、加速处理单元、高效能计算、航空与国防等测试应用，可确保芯片在严苛环境下运作无虞，是上述产品可靠测试的最佳选择。

2D/3D晶圆测量系统

Chroma 7980/7981是专为奈米级之2D/3D关键尺寸之精密测量而设计；采用专利BLiSTM整合测量技术，达到次奈米的分辨率。7980/7981可提供专为先进封装应用而开发的算法和UI，整合特殊设计之平台，实现高速测量和快速对焦之非接触式表面轮廓分析；且具备大面积拼接能力，可满足不同应用需求。Chroma 7980/7981已成功用于TSV/VIA，RDL，Probe Mark，Overlay，Sub-um Surface Profile，etc.，并受全球顶尖客户所采用。

SEMICON China 2024（3月20 - 22日），致茂电子将于上海新国际博览中心（摊位：N4馆N4631），我们诚挚的邀请您一同体验测量新趋势，期待在此年度盛会中与您见面。

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日本电产集团综合产品目录(Nidec Group Products Catalog)

型号- PM4系列,H300,D SERIES,NRFEIS-5060,DFS,GATS-2000 SERIES,TPI SERIES,GATS-7800 SERIES,R-6100,TVX,GATS-6300,GATS-8600,SX-20,RWI SERIES,ZI20A,GATS-7500系列,LSR-3230,BP100,RSH,GATS-7700 SERIES,K-MC1000,P2H系列,E300,GATS-2000系列,GATS-6300系列,NVM-6060GCP,VL-H系列,GATS-7500,MH3NCV,VL SERIES,GATS-7800系列,SS-SV,DEWE3-A4,TPI,TVX SERIES,RGA20,NRTES-1000 SERIES,FCPL,ΜV1,RSH系列,ZG SERIES,ID300,FMD,TPI系列,GATS-8600系列,S-CART,GATS-6300 SERIES,KS,CM,R-580,SS-SV SERIES,ANEX SERIES,LD SERIES,VP600GC,GE15FR PLUS,MD2,ANEX系列,NRTES-1000,P2H SERIES,FFB,VL系列,LS,RSH SERIES,RVL,VL-H SERIES,RVP,F600,SS-SV系列,S-FLAG,GATS-7500 SERIES,REC-92FT,DEWE3-PA8,ECO-KA,KCV1000-5AX,S-CART-V1000-LFT,RVL SERIES,RVP SERIES,R-700 SERIES,P2H,ZE16C,CPLS,S-CART-V500,HM500S,VM53RⅡ,GATS-7700,ANEX,NRTES-1000系列,HM-X6100,RWI,TVX系列,KA SERIES,S-CART-MINI,GATS-2000,PM4,VL-H,GATS-7700系列,CBZ,GH,GATS-8600 SERIES,R-700,R-5920系列,NRFEIS-3570,DFS SERIES,MVR-HX,MAF130EⅡ,BL-V20,ECO-KA SERIES,SERIES S-FLAG,RWI系列,HE,GATS-7800,R-5920

商品及供应商介绍 - NIDEC - 第10版 (10th Edition) - 2022年12月 (December, 2022) PDF 中英文下载

SOC/模拟测试系统 MODEL 3650-S2

型号- MODEL 3650-S2,3650-S2,3650 SERIES-2

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型号- 3650-EX,MODEL 3650-EX

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SOC/ANALOG TEST SYSTEM MODEL 3650-S2

型号- MODEL 3650-S2,3650-S2,3650 SERIES-2

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