聚焦AI人工智慧，致茂电子SEMICON China盛大展出

时间： 2024-03-22 来源：CHROMA官网

技术问答

Chroma致茂电子参与SEMICON China 2024中国国际半导体展，将展示一系列创新的半导体测试解决方案，专注于AI人工智慧、高效能运算（High Performance Computing，HPC）芯片、汽车半导体与AIoT等运用，以满足不断发展的半导体测试需求。

先进SoC/Analog测试解决方案

Chroma 3650-S2 SoC/模拟测试系统可满足现今高电压、大电流、与复杂数位控制的Power IC测试需求，提供多达768电源或数位信道，高达3000V或320A的供电能力，200Mbps数据速率与300ps EPA等，是测试锂电池管理IC、电源管理IC、以及GaN与SiC相关Power IC的理想选择。

Chroma 3680 先进SoC测试系统有效满足人工智慧（AI）与车用等尖端科技芯片的测试需求，可提供高达2048个数位元信道，数据速率可达1Gbps，支持高达16G SCAN向量存储深度，并提供110dB SNR及-120dBcTHD的高精度AD/DA测试模块，以及多种测试模块供使用者选择，可同时完成数位逻辑、参数测试单元、电源、內存、混合信号、RF射频信号等测试。

RF射频芯片测试解决方案

Chroma 3680/3380/3300 ATE测试系统整合旗下ADIVIC MP5806S，即为完整的RF射频芯片测试方案，并已通过客户量产验证，具备S Parameter & Noise Figure功能可完整测试FEM/PA/Switch/LNA等零元件，并支持Bluetooth、Wi-Fi、NB-IoT、GPS/BeiDou等（IoT）通信标准和Tuner应用，内含300K~6GHz全频覆盖之超高频宽VSG/VSA模块，广泛应用于各式无线通信标准。2024年新推出3680 HDRF2，为MP5806及3680带来更高整合性，并具备32RF Port，4 VST RF功能，可提供Multi site & direct mount RF测试解决方案。

超低温测试解决方案

Chroma A310002 超低温测试系统提供-70~150℃稳定的三温（Tri-Temp）测试温控范围，热消散功率可达1,000 Watt，可应用在各种严峻的温度测试，与Chroma 3200多元化SLT测试分类平台（Versatile SLT Test Platform）结合，可提供多站SLT测试平台在产线使用，另可搭配软件工具CVOT（Chroma Virtual Operation Tools），轻松掌握生产信息与实行良率提升。Chroma超低温测试解决方案可满足多种测试应用产业，例如：汽车半导体芯片、人工智慧与数据中心、图形处理器、加速处理单元、高效能计算、航空与国防等测试应用，可确保芯片在严苛环境下运作无虞，是上述产品可靠测试的最佳选择。

2D/3D晶圆测量系统

Chroma 7980/7981是专为奈米级之2D/3D关键尺寸之精密测量而设计；采用专利BLiSTM整合测量技术，达到次奈米的分辨率。7980/7981可提供专为先进封装应用而开发的算法和UI，整合特殊设计之平台，实现高速测量和快速对焦之非接触式表面轮廓分析；且具备大面积拼接能力，可满足不同应用需求。Chroma 7980/7981已成功用于TSV/VIA，RDL，Probe Mark，Overlay，Sub-um Surface Profile，etc.，并受全球顶尖客户所采用。

SEMICON China 2024（3月20 - 22日），致茂电子将于上海新国际博览中心（摊位：N4馆N4631），我们诚挚的邀请您一同体验测量新趋势，期待在此年度盛会中与您见面。

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