【元件】 ATP引入高耐久力视频录制储存卡，最大容量到512GB，可用于AI监控基础设施
专业存储和内存解决方案的全球领导者 ATP 推出了新型S650Si(TLC)和S750Pi(pSLC)系列SD和microSD存储卡，采用了 176 层 3D NAND 技术和低密度奇偶校验(LDPC)控制器。
新存储卡的容量最高达512GB，并提供 5 年的长期供货支持，针对 5G、人工智能(AI)和边缘计算技术等不断增长的细分市场，例如支持 AI 的监控、智能家居、移动监控、汽车记录仪、远程医疗保健和需要大量数据写入和重写的安全监控系统。
高耐久性: 同类最佳的每GB成本存储卡解决方案
原生 TLC 模式
在任何不间断录制环境中，高耐久性至关重要。S650Si系列容量从 64GB 到 512GB，额定 5K+ P/E cycles和高达 2,000TB 的总写入量(TBW)。
pSLC 配置
对于需要更高耐久性解决方案的客户，S750Pi 系列容量从16GB到128GB，pSLC配置提供高达 100K+ P/E cycles和高达 12,670TB 的 TBW 额定值。
TLC和pSLC这两种配置都有工业级宽温选项，并具有断电保护技术，因此适用于安装在温度从-40°C 到 85°C 以及不稳定电源设置的极端条件下的系统。与上一代 ATP SD/microSD 产品相比，新的存储卡还提供了3倍的顺序写入速度和更好的持续写入性能。
下图显示，基于在128GB容量上测试的13 Mbps(HD记录的最低比特率)，ATP的176层TLC卡不仅比具有相同存储容量的竞争对手提供更长的记录时间，而且还提供了一种具有成本效益的视频记录解决方案。
1、使用128GB ATP S650 TLC卡在13 Mbps(HD记录的最低比特率)的最佳/理想情况下进行测试，没有其他影响因素。
2、信息由ATP从公开可用的数据中获取。为了记录新数据，卡片写满时将覆盖最老的数据。1 mbps = 1000000 bps。
AI监控基础设施: 我们与您共建
随着AI技术的快速发展以及边缘计算基础设施和应用的激增，ATP完全有能力通过其大规模生产基础设施来满足各种特定应用的需求。ATP开发的固件和硬件配置可以满足客户各种独特的需求。
ATP SD寿命监测:智能工作负载检测
ATP的SD寿命监测工具提供“工作负载检测”。这让客户可以快速查看主机系统预审的写操作和文件大小。为了便于监控，这些信息以饼状图的形式呈现。考虑到NAND闪存的页大小和固件算法，ATP根据SD/microSD卡规格书中最小数据传输大小的倍 数，对主机设备的程序数据提供建议和更多信息。
根据工作负载检测进行调优后，与未调优的存储卡解决方案相比，ATP的存储卡表现出一致的延迟性能。
稳定的延迟（latency）确保了存储卡即使在长时间写入后也能保持一致的性能，从而提供了高质量的连续视频录制效果。这对于像数字视频录像机(DVRs)这样的应用尤其重要，因为意外的延迟可能导致掉帧或录制质量变差。
在下图中，ATP优化延迟(蓝色)的TLC解决方案保持了稳定的性能，即使长时间写入，也能保证高质量的实时视频录制。相比之下，未优化的解决方案(灰色)显示，在写入一段时间后，延迟会急剧上升。
联合验证服务
ATP 使用客户端提供的主机设备和系统执行兼容性和功能测试，以主动检测和最小化生产测试中可能未发现的故障。以下是根据应用需求优化的联合验证测试。
软件联合集成
兼容性研究与测试
设备信号测量
功能/性能增强
附加测试(例如，工业标准，电源循环测试)
先进的卡片分析能力
采用系统级封装(SiP)晶圆/晶片工艺使ATP存储卡具备防水、防尘、防震等特性；然而，与SMT(表面贴装技术)工艺相比，SiP工艺也使得进行器件级分析变得困难。ATP独特设计的基板和调试工具使产品后期分析成为可能。
产品规格
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