是德科技开展Keysight World 2024“人工智能与数据中心互连新技术分论坛”
随着人工智能、大数据、云计算等技术的发展，算力需求爆发式增长。AI训练、推理所面对的数据量指数增长，使得无论单服务器中多GPU、CPU间C2C通信，还是在多服务器间组网，数据传输总体都呈现出高带宽、低延迟的技术需求。
2024年5月28日，是德科技开展KEYSIGHT World 2024“人工智能与数据中心互连新技术分论坛”，围绕芯片间互连设计、高速电互连及AI/ML光互连等新技术进行全方位的技术交流和探讨。
分论坛_人工智能技术与高速互连新技术
会议日程
嘉宾介绍
Rick是是德科技PCI Express项目经理和高级产品经理，同时任职于PCI- SIG董事会，负责PCI Express、PCI和PCI- x串行总线标准。他致力于精密产品定义和突破性解决方案的综合，以满足软件和硬件产品的新需求。他在行业组织内提供PCI Express、FB-DIMM (FBD)、DDR、HyperTransport、ExpressCard、SATA和InfiniBand驱动标准的技术领导。他曾从事示波器，逻辑分析仪，微处理器仿真解决方案，ASIC仿真工具，EDA工具的市场测试和测量产品。
16年高速接口芯片产品经验，包括系统设计、应用支持和芯片产品定义。2010年到2019年服务于Texas Instruments，随后加入AsteraLabs，现任AsteraLabs亚洲技术支持团队经理。
是德科技技术专家，于2006年加入安捷伦科技，主要从事高速数字技术测试测量方案的开发和应用，负责示波器、误码仪、逻辑及协议分析仪等产品的技术咨询和支持工作。
是德科技技术专家，于2016年加入是德科技，专注于高速数字测试及相关应用，拥有10年以上的研发和测试经验；目前主要负责华东地区示波器、误码仪、逻辑协议分析仪等产品及应用的技术咨询和支持工作。
2019年4月份加入是德科技，15年工作经验，之前在多家公司从事高速信号测试工作，主要涉及高速数字接口，信号完整性等高速数字系统的测试，应用与研究。
上海交通大学电子与通信工程硕士学位，目前担任是德科技 PathWave设计软体部门解决方案工程师，主要负责信号完整性领域的应用支持工作。
演讲摘要
智能连接赋能生成式人工智能时代
生成式人工智能对数据、计算和存储资源的巨大需求，以及由此带来了对高性能和高可靠性连接性的需求。本专题将会讨论PCIe® 6.x在人工智能服务器平台中的挑战以及如何克服这些挑战，并确保PCIe® 6.x技术在这些平台中的成功应用。与此同时，也会介绍COSMOS，一个用于云和人工智能基础设施的诊断和遥测解决方案。
AI时代互连技术革新：PCIe6.0/7.0发展趋势与测试挑战
PCIe在新兴的人工智能时代中扮演了至关重要的角色。自2003年（PCI Express）问世以来，PCIe一直被用作CPU与计算机子系统之间的通信协议。由AI和ML推动的计算互连带宽需求正在加速向下一代PCIe（PCIe Gen 6/ PCIe Gen 7）的转变。本专题是德科技专家将会携手PCI-SIG组织成员Rick Eads带来下一代PCI Express技术发展趋势与测试挑战。
AI时代高速Ethernet/InfiniBand互连技术（112G/224G）
生成式AI和大模型的不断发展，对交换芯片、网络芯片和高速互连网络提出了越来越高的要求：对于远距离传输的光通讯网络，目前已经演进到单波112Gbps，并且快速向单波224Gbps迈进；对于近距离传输，支持单条Lane 112Gbps电信号传输，已经逐渐变成行业的共识。本专题将会对涉及的高速Ethernet(IEEE 802.3ck/df/dj)和Infinband(NDR/XDR)光电标准进行解读，全面介绍是德科技完整的物理层测试解决方案。
AI时代内存革新：探索HBM与DDR技术演进及测量解决方案
随着人工智能（AI）技术的飞速发展，对内存的需求呈现出前所未有的增长，内存技术的革新成为推动AI应用性能提升的关键。本次演讲将深入探讨人工智能领域高带宽内存（HBM）与双数据速率（DDR）内存技术的创新和应用，剖析新内存技术的测量解决方案与挑战。
AI时代UCIe通用小芯片互连接口技术仿真
在人工智能（AI）和虚拟现实（VR）技术飞速发展的今天，对芯片的要求越来越高，芯片要具备低功耗、低时延、高算力等特性。另一方面，晶体管变得越来越难小，工艺愈加接近物理极限，在这种情况下，小芯片就应用而生了。小芯片是一种功能模块化的裸片（Die）封装，这些Die之间使用UCIe（一种开放的行业标准）来相互通信。在本专题中，您将了解晶片高速标准互联的基本原理，包括从一个D2D PHY到另一个D2D PHY的接口通信。此外，您将探索如何使用智能设计平台轻松计算和简化眼图、误码率（BER）、和电压传递函数（VTF）等的分析计算。
测试方案展示
01. 112Gbps高速芯片和互连测试解决方案
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本文由翊翊所思转载自是德科技KEYSIGHT公众号，原文标题为:Keysight World Tech Day人工智能与数据中心互连新技术分论坛，本站所有转载文章系出于传递更多信息之目的，且明确注明来源，不希望被转载的媒体或个人可与我们联系，我们将立即进行删除处理。
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提交需求>
提供全面表征产品器件耗电特征及功耗波形、快速瞬态效应、电源优化、表征和仿真测试服务，使用直流电源分析仪测量精度达50µV，8nA，波形发生器带宽100kHz，输出功率300W，示波器200kHz，512 kpts
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