DDR信号完整性测试如何测试?

2024-06-21 启威测 微信公众号
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DDR测试前需要提供的资料:

1、可以正常工作的样机,并标出测试位置;(如图1)

2、提供DDR部分的线路图,layout,DDR颗粒datasheet


图1 DDR测试位置


当进行DDR(包括DDR3)信号完整性测试时,以下是一般的测试步骤以及需要注意的事项:


01 测试步骤:

    1. 确定测试目的和参数:

    确定要测试的DDR信号完整性参数,如时序、眼图、串扰等。

    确定测试的频率范围和测试条件。


    2. 设备准备:

    确保测试仪器(示波器、时序分析仪器等)已校准并正常运行。

    准备好必要的信号发生器、负载板等设备。


    3. 信号线路连接和准备:

将被测试的DDR信号线路正确连接到测试仪器。

检查信号线路的布局和设计,确保符合DDR规范要求。


    4. 进行测试:

开始进行时序分析,测量和分析信号的延迟和时序关系。

进行眼图分析,评估信号的稳定性和波形情况。

进行串扰分析,检测信号之间的串扰情况。


    5. 结果分析和报告:

分析测试结果,对比标准要求,评估信号完整性。

编制测试报告,记录测试数据和结论。


02 注意事项:

    1.确保测试环境稳定,避免外部干扰对测试结果的影响。

    2.样品准备时,注意保护芯片及接口,避免损坏。

    3.注意设备和信号线路的校准和调节,确保测试准确性。

    4.在测试过程中,注意观察并记录异常情况,及时处理。

    5.测试结束后,对结果进行仔细分析,确保数据准确性和可靠性。


通过遵循以上测试步骤和注意事项,您可以有效地进行DDR信号完整性测试,并确保系统的稳定性和性能。如果遇到问题或需要进一步的技术支持,建议咨询专业工程师或测试机构,以获得更准确的测试结果和解决方案。希望这些信息能帮助您顺利完成DDR信号完整性测试!


3 DDR3测试需要的设备及软件:



DDR测试项目:


4 DDR接口的基本原理

• 内核的频率:100MHz~266MHz,从SDR时代到DDR,再到最新的DDR5;

• 数据速率的提升是通过I/O接口的架构设计实现的,主要有三个技术:

1) 双边沿传输数据:这是DDR名称的来源;

2) 预取技术(Prefetch): 2bit for DDR, 4bit for DDR2, 8bit for DDR3, 8bit for DDR4, 16bit for DDR5…本质上是一个串并转换技术;

3) SSTL/POD Signaling: 克服在高速传输时的信号完整性的问题。


芯片内部的一般架构:保证数据能够高速从芯片引脚输出

在上述这样一种芯片架构中,为了最大程度的降低DRAM芯片的成本,最省成本的方法为:

• 对于读操作,DQS与DQ为边沿对齐;

• 对于写操作,DQS与DQ为中心对齐。


5 DDR接口信号分类


6 信号分类及其拓扑连接方式

不同类的信号,它的拓扑连接方式不一样。


7 DDR接口举例说明:DDR3 DIMM Layout


8 DDR内存的组织方式:嵌入式系统

• 内存控制器芯片与DRAM颗粒芯片在同一块PCB上;

• 内存通道的总线宽度根据所选择的内存控制器芯片的不同而不同;

• CPU Core并不是直接和内存发生作用,而是通过缓存来和内存发生作用;

• Cache Line的大小为64 Byte;也就是说缓存与内存相互作用的最小单位为64 Byte。


9 DDR测试解决方案


• 计算机系统采用标准化的DIMM,可以使用多种探测解决方案进行探测。

• 嵌入式设计中的通常直接把DRAM芯片焊接在PCB上,而所有的DDR3颗粒均采用BGA封装。

JEDEC的规格定义的测试点为BGA的焊球处。

• 在PCB layout时,就通过过孔在背面预留有测试 点,这样可以直接点测完全信号的探测;也就是DfT(Design for Test)。

• 当使用直接探测时,可以得到很好的信号保真度。

• 但对于PCB正反面都贴有DRAM颗粒,这种方法无能为力。


DDR测试方案一:直接探测


DDR测试方案二:BGA Interposer


10 突发识别的方法

• 在分析时,需要自动将读突发和写突发分离开来独自进行分析

• 对于读写分离,有若干种方法:

1) DQ/DQS phase alignment:基于读操作和写操作的DQ/DQS相位对齐关系的不同,读操作为边沿对齐,写操作为中心对齐。这种最常用。

2) Visual Trigger:可视触发,用户自定义可视触发条件,灵活度非常高;

3)CS, Latency + DQ/DQS phase alignment:当有多个rank时,需要通过CS信号来区分是哪一个rank进行读写;

4) Logic State + Burst Latency:通过解析命令信号群组(RAS#-CAS#-WE#)来确定读操作和写操作。

启威测实验室提供DDR2/3/4/5信号完整性测试及一致性验证,更多关于DDR测试解决方案,请联系启威测实验室。

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