结合启威测实验室测试案例,一起了解高频参数相关知识

2024-08-21 启威测实验室公众号
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图1 探针测试案例

随着电子设备的功能越来越强大,对PCB板卡高频性能的要求也随之提高。高频参数测试在PCB设计和制造中扮演着至关重要的角色,确保设备在高频信号传输中的可靠性和性能。本文结合启威测实验室测试案例,让我们一起了解高频参数相关知识:

图2 探针测试环境

驻波比(Standing Wave Ratio,SWR):衡量传输线上电压驻波的大小。理想情况下,SWR为1,表示传输线上的功率完全被负载吸收,没有反射。SWR越高,表示反射越严重,传输效率越低。


图3 反射系数 电压驻波比测试案例

回波损耗(Return Loss):描述反射波的强度,用于评估传输线或天线匹配的质量。回波损耗越大,表示反射越小,匹配越好。通常以分贝(dB)为单位。

图4 回波损耗测试案例

插入损耗(Insertion Loss):信号通过器件时的功率损耗。插入损耗越小,信号通过时衰减越少,传输效果越好。通常以分贝(dB)为单位。

 

图5  插入损耗测试案例

特性阻抗(Characteristic Impedance):传输线在无限长时,输入阻抗为常数的情况下,传输线的固有阻抗。特性阻抗与传输线的几何结构和介质材料有关。常见值为50欧姆或75欧姆。

 

图6 特性阻抗测试案例

串扰(Crosstalk):一种信号线上的信号耦合到另一条信号线上的现象。串扰会引起干扰,影响信号完整性。串扰越小,信号传输的质量越高。

图7 串扰测试案例

  • 相位(Phase):信号在一个周期内的位置,通常以角度(度)或弧度表示。相位差影响信号的叠加和干涉,是信号同步和解调的关键参数。

  • 延时(Delay):信号从输入端传输到输出端所需的时间。延时影响系统的时序和同步,延时越小,信号传输越迅速。

  • 差分参数(Differential Parameters):描述差分信号传输特性的参数,包括差分阻抗、差分模式插入损耗和差分模式回波损耗等。

  • 共模参数(Common Mode Parameters):描述共模信号传输特性的参数,包括共模阻抗、共模模式插入损耗和共模模式回波损耗等。

  • 共模抑制比(Common Mode Rejection Ratio,CMRR):衡量差分放大器或差分信号链路对共模信号的抑制能力。CMRR越高,表示对共模干扰的抑制能力越强。

  • 带外抑制(Out-of-Band Rejection):衡量系统在工作频段之外对信号的抑制能力。带外抑制越好,系统对非工作频段信号的干扰越小。

  • 共模抑制比(CMRR):与共模抑制比相同,衡量差分信号链路对共模信号的抑制能力。通常以分贝(dB)为单位。

 

这些概念在信号传输和射频设计中非常重要,理解和优化这些参数可以显著提高系统性能。


启威测提供全面的高频参数测试服务,确保您的产品在激烈的市场竞争中处于领先地位。

测试产品:半导体行业产品、光电行业产品、集成电路、各类PCB板卡以及封装;

测项项目:驻波比、回波损耗、插入损耗、特性阻抗、串扰、相位、延时、差分参数、共模参数、共模抑制比、带外抑制、CMRR 等

图8 网络分析仪

图9 桌面探针测试系统


图10 探针台测试系统

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本文由ll转载自启威测实验室公众号,原文标题为:【高频测试】PCB板卡串扰 插入损耗 传输时延 阻抗 回波损耗 反射系数 电压驻波比测试案例,本站所有转载文章系出于传递更多信息之目的,且明确注明来源,不希望被转载的媒体或个人可与我们联系,我们将立即进行删除处理。

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